一种高光效3D投影系统的亮度均匀性检测系统技术方案

技术编号:11982452 阅读:92 留言:0更新日期:2015-09-02 12:44
本发明专利技术适用于3D投影显示技术领域,提供了一种高光效3D投影系统的亮度均匀性检测系统,包括:一CCD阵列单元,位于金属幕前方,用于探测投影图像的亮度;亮度均匀性效果图生成模块,与所述CCD阵列单元连接,用于根据所述CCD阵列单元的探测结果,生成包含有金属幕各个区域的亮度信息的效果图。本发明专利技术通过一CCD阵列单元探测金属幕上各区域的亮度,再利用软件对金属幕的亮度均匀性生成效果图,可直观了解到3D投影系统的投影质量,便于作出相应调整,可保证用户的观影质量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于3D投影显示
,尤其涉及一种高光效3D投影系统的亮度均匀性检测系统
技术介绍
3D电影的问世,无疑给了观众一个全新的感官体验,立体的视觉冲击,强有力的打斗场面,给影片增加了更多的刺激。而若能够对投影亮度的均匀性进行评价进而根据评价结果作出相应调整,则能更加保证观众的观影体验。
技术实现思路
本专利技术实施例的目的在于提供一种高光效3D投影系统的亮度均匀性检测系统,旨在提升3D电影的放映质量,带给观众优良的观影体验。本专利技术实施例是这样实现的,一种高光效3D投影系统的亮度均匀性检测系统,包括:一 CCD阵列单元,位于金属幕前方,用于探测投影图像的亮度;亮度均匀性效果图生成模块,与所述CCD阵列单元连接,用于根据所述CCD阵列单元的探测结果,生成包含有金属幕各个区域的亮度信息的效果图。进一步地,所述CXD阵列单元包括一基板,所述基板上设有若干(XD,每个C⑶对应探测金属幕上相应区域的亮度。进一步地,所述基板上设有导热板。进一步地,所述CCD阵列单元的表面设有仅允许圆偏振光通过的过滤层。本专利技术实施例通过一 CCD阵列单元探测金属幕上各区域的亮度,再利用软件对金属幕的亮度均匀性生成效果图,可直观了解到3D投影系统的投影质量,便于作出相应调整,可保证用户的观影质量。【附图说明】图1是本专利技术实施例提供的高光效3D投影系统的亮度均匀性检测系统的位置示意图;图2是本专利技术实施例提供的CCD阵列的示意图;图3是本专利技术实施例提供的高光效3D投影系统的亮度均匀性检测系统的结构原理图;图4是本专利技术实施例提供的亮度均匀性效果图生成模块所生成的亮度均匀性效果图。【具体实施方式】为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术,并不用于限定本专利技术。请一并参照图1至图3,本专利技术提供的高光效3D投影系统的亮度均匀性检测系统包括CCD阵列单元I和亮度均匀性效果图生成模块2。其中,C⑶阵列单元I位于金属幕前方,用于探测投影图像的亮度。其包括一基板,该基板上设有若干CCD,每个CCD对应探测金属幕上相应区域的亮度。亮度均匀性效果图生成模块2与CXD阵列单元I连接,用于根据CXD阵列单元的探测结果,生成包含有金属幕各个区域的亮度信息的效果图。生成的效果图如图4所示。为避免CCD阵列单元I接收反射的光线发热而影响使用寿命,特别在基板上设有以导热板,用于将汇聚的热量散发出去。又考虑到金属幕反射的是左旋或右旋圆偏振光,CXD阵列单元I仅需探测该左旋或右旋圆偏振光即可,为避免有环境光或其他光线干扰探测结果,本专利技术在CCD阵列单元I的表面设有仅允许圆偏振光通过的过滤层,保证探测的准确性。以上所述仅为本专利技术的较佳实施例而已,并不用以限制本专利技术,凡在本专利技术的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本专利技术的保护范围之内。【主权项】1.一种高光效3D投影系统的亮度均匀性检测系统,其特征在于,包括: 一 CCD阵列单元,位于金属幕前方,用于探测投影图像的亮度; 亮度均匀性效果图生成模块,与所述CCD阵列单元连接,用于根据所述CCD阵列单元的探测结果,生成包含有金属幕各个区域的亮度信息的效果图。2.如权利要求1所述的亮度均匀性检测系统,其特征在于,所述CCD阵列单元包括一基板,所述基板上设有若干CCD,每个CCD对应探测金属幕上相应区域的亮度。3.如权利要求1所述的亮度均匀性检测系统,其特征在于,所述基板上设有导热板。4.如权利要求1所述的亮度均匀性检测系统,其特征在于,所述CCD阵列单元的表面设有仅允许圆偏振光通过的过滤层。【专利摘要】本专利技术适用于3D投影显示
,提供了一种高光效3D投影系统的亮度均匀性检测系统,包括:一CCD阵列单元,位于金属幕前方,用于探测投影图像的亮度;亮度均匀性效果图生成模块,与所述CCD阵列单元连接,用于根据所述CCD阵列单元的探测结果,生成包含有金属幕各个区域的亮度信息的效果图。本专利技术通过一CCD阵列单元探测金属幕上各区域的亮度,再利用软件对金属幕的亮度均匀性生成效果图,可直观了解到3D投影系统的投影质量,便于作出相应调整,可保证用户的观影质量。【IPC分类】G01M11-02【公开号】CN104880299【申请号】CN201510349143【专利技术人】李艳龙, 包艳胜, 王叶通, 邓贤俊 【申请人】深圳市时代华影科技股份有限公司【公开日】2015年9月2日【申请日】2015年6月23日本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种高光效3D投影系统的亮度均匀性检测系统,其特征在于,包括:一CCD阵列单元,位于金属幕前方,用于探测投影图像的亮度;亮度均匀性效果图生成模块,与所述CCD阵列单元连接,用于根据所述CCD阵列单元的探测结果,生成包含有金属幕各个区域的亮度信息的效果图。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:李艳龙包艳胜王叶通邓贤俊
申请(专利权)人:深圳市时代华影科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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