日盲紫外像增强器带外相对光谱响应度测试装置及方法制造方法及图纸

日盲紫外像增强器带外相对光谱响应度测试装置及方法，涉及日盲紫外像增强器参数测试技术领域，解决了由于日盲紫外像增强器带外响应极低导致其相对光谱响应度无法准确测试的问题，包括光源、暗箱，可伸缩屏蔽罩，位于所述入光口和所述光源之间，用来屏蔽所述光源附近的环境杂散光进入暗箱；会聚透镜，位于所述可伸缩屏蔽罩内，用于将所述光源出射光全部收集以供测试；陷阱探测器，位于所述暗箱内部，用于探测所述光源的输出光电流；屏蔽盒，位于所述暗箱内部，用于盛载待测像增强器，对待测像增强器进行有效电磁屏蔽；静电计，连接像增强器输出信号端，用于探测所述光源通过所述待测像增强器的输出电信号，本发明专利技术结构简单，可操作性强。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】，涉及日盲紫外像增强器参数测试
，解决了由于日盲紫外像增强器带外响应极低导致其相对光谱响应度无法准确测试的问题，包括光源、暗箱，可伸缩屏蔽罩，位于所述入光口和所述光源之间，用来屏蔽所述光源附近的环境杂散光进入暗箱；会聚透镜，位于所述可伸缩屏蔽罩内，用于将所述光源出射光全部收集以供测试；陷阱探测器，位于所述暗箱内部，用于探测所述光源的输出光电流；屏蔽盒，位于所述暗箱内部，用于盛载待测像增强器，对待测像增强器进行有效电磁屏蔽；静电计，连接像增强器输出信号端，用于探测所述光源通过所述待测像增强器的输出电信号，本专利技术结构简单，可操作性强。【专利说明】
本专利技术涉及日盲紫外像增强器参数测试
，具体涉及日盲紫外像增强器带外相对光谱响应度的测试装置及方法。
技术介绍
日盲紫外ICXD的研制是日盲紫外成像探测关键性的核心技术之一，其带外相对光谱响应度指在近紫外、可见及近红外谱段对入射辐照的响应能力，该参数主要用于体现日盲紫外ICCD对于带外辐射的响应能力优劣，准确测试带外相对光谱响应度对于实现其与滤光片的光谱优化匹配进而提升系统信噪比具有重要意义。目前对本文档来自技高网...

【技术保护点】
日盲紫外像增强器带外相对光谱响应度测试装置，其特征是，包括：光源（1）；暗箱（2），位于所述光源（1）的前方，所述暗箱（2）的侧面设置有一个入光口；可伸缩屏蔽罩（3），位于所述入光口和所述光源（1）之间；会聚透镜（4），位于所述可伸缩屏蔽罩（3）内，用于将光源（1）出射光全部收集以供测试；陷阱探测器（5），位于所述暗箱（2）内部，用于探测所述光源（1）的输出光电流；屏蔽盒（7），位于所述暗箱（2）内部，用于盛载待测像增强器（6），对所述待测像增强器（6）进行有效电磁屏蔽；静电计（11），连接所述待测像增强器（6）的输出信号端，用于探测光源（1）通过待测像增强器（6）后的输出电信号。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：崔穆涵，周跃，陈雪，章明朝，闫丰，
申请(专利权)人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，
类型：发明
国别省市：吉林;22