液晶显示器及其检测方法技术

一种液晶显示器及其检测方法，所述液晶显示器包括TFT基板和驱动电源线，所述TFT基板包括M条扫描线和N条数据线，所述液晶显示器还包括开关单元，所述开关单元适于在检测所述液晶显示器Mura来源期间在控制信号的控制下导通所述驱动电源线和M条扫描线。所述检测方法包括：施加控制信号至所述开关单元；施加数据信号至所述N条数据线；根据所述液晶显示器的当前亮度判断所述液晶显示器Mura来源；停止施加所述控制信号至所述开关单元。本发明专利技术技术方案提供的液晶显示器及其检测方法，能够缩短检测所述液晶显示器Mura来源的时间，降低检测成本。

【技术实现步骤摘要】
液晶显示器及其检测方法
本专利技术涉及液晶显示
，特别涉及一种液晶显示器及其检测方法。
技术介绍
薄膜场效应晶体管液晶显示器（TFT-LCD，ThinFilmTransistorLiquidCrystalDisplay）是有源矩阵液晶显示器的典型代表，由于其具有性能优良、大规模生产特性好、自动化程度高等优点，被广泛应用于笔记本电脑、摄像机与数字照相机监视器等领域。为了提高产品品质，在TFT-LCD生产过程中，需要及时检查出产品出现的各种不良现象。Mura（显示亮度不均）是TFT-LCD检查过程中常见的一类不良现象，引起Mura的原因有两种：生产TFT-LCD过程中的阵列工艺引起的Mura和成盒工艺引起的Mura。根据引起Mura现象的不同原因，可以对出现Mura的TFT-LCD进行不同的处理。但是，从Mura的现象上很难区分是哪种原因引起的，因此需要对Mura的来源进行检测。申请号为201010223560.5、专利技术名称为“TFT阵列基板及其制造方法与检测方法”的中国专利申请公开了一种检测Mura来源的方法，然而，该申请提供的检测方法需要打孔焊接，检测时间较长。
技术实现思路
本专利技术解决的是检测液晶显示器Mura来源时耗时较长的问题。为解决上述问题，本专利技术提供一种液晶显示器，所述液晶显示器包括TFT基板和驱动电源线，所述TFT基板包括M条扫描线和N条数据线，所述液晶显示器还包括开关单元，所述开关单元适于在检测所述液晶显示器Mura来源期间在控制信号的控制下导通所述驱动电源线和M条扫描线。基于上述液晶显示器，本专利技术技术方案还提供了一种液晶显示器的检测方法，所述检测方法包括：施加控制信号至所述开关单元；所述施加控制信号至所述开关单元之后，施加数据信号至所述N条数据线；所述施加数据信号至所述N条数据线之后，根据所述液晶显示器的当前亮度判断所述液晶显示器Mura来源；所述判断所述液晶显示器Mura来源之后，停止施加所述控制信号至所述开关单元。与现有技术相比，本专利技术的技术方案具有以下至少一个优点：本专利技术提供的液晶显示器包括开关单元，所述开关单元连接驱动电源线和TFT基板上的所有扫描线。检测液晶显示器的Mura来源时，所述开关单元接收由控制信号产生单元提供的控制信号，所述控制信号控制所述开关单元导通，所有的扫描线同时由所述驱动电源线上的电压驱动。由于同时驱动所有的扫描线，消除了TFT特性引起的Mura。若在检测时Mura仍然存在，则可以判断在正常驱动下产生的Mura是由成盒工艺引起，反之则是由阵列工艺引起。检测所述液晶显示器的Mura来源时，所述开关单元只需要接收由所述控制信号产生单元提供的控制信号，而不需要进行打孔焊接，因此，不会增加额外的工艺，缩短了检测时间。进一步，现有技术中检测液晶显示器的Mura来源时，需要检测输入输出电压，因而需要增加检测设备，而本专利技术检测所述液晶显示器的Mura来源时，并不需要进行测量，因此，不需要额外的检测设备，降低了检测成本。本专利技术的可选方案中，所述开关单元包括多个晶体管，所述液晶显示器还包括电熔丝，所述多个晶体管的栅极通过所述电熔丝接收所述控制信号。在判断出液晶显示器的Mura来源后，所述控制信号产生单元施加高电压熔断所述电熔丝，使所述开关单元失效，有效地确保不影响液晶显示器的其他功能。本专利技术的可选方案中，所述开关单元包括多个晶体管，所述TFT基板还包括玻璃基板，所述多个晶体管的栅极连接所述玻璃基板上的柔性电路板的接地焊盘。在判断出液晶显示器的Mura来源后，在驱动芯片和柔性电路板焊接的工艺阶段，所述多个晶体管的栅极连接所述柔性电路板的接地焊盘，增加了静电放电的泄放途径，增强了液晶显示器抗静电放电能力。附图说明图1是现有的液晶显示器的结构示意图；图2是本专利技术实施例1的液晶显示器的结构示意图；图3是本专利技术实施例2的液晶显示器的结构示意图；图4是本专利技术实施例3的液晶显示器的结构示意图；图5是本专利技术实施例4的液晶显示器的结构示意图；图6是本专利技术实施例5的液晶显示器的结构示意图；图7是本专利技术实施例6的液晶显示器的结构示意图；图8是本专利技术实施方式的液晶显示器的检测方法的流程示意图。具体实施方式正如
技术介绍
中所描述的，在TFT-LCD生产过程中，需要对产品进行各项检测，发现产品存在的各种不良现象。在成盒工艺后、驱动芯片和柔性电路板焊接前，需要对液晶显示器进行画面检查（VisualTest）。图1是现有的在成盒工艺后、驱动芯片和柔性电路板焊接前的液晶显示器的结构示意图。参考图1，所述液晶显示器包括TFT基板11、驱动电源线12和多个栅极驱动电路，所述TFT基板11包括M条扫描线和N条数据线。所述M条扫描线分别为扫描线G1、扫描线G2、扫描线G3、扫描线G4、…、扫描线GM-3、扫描线GM-2、扫描线GM-1和扫描线GM，所述N条数据线分别为数据线D1、数据线D2、…、数据线DN-1和数据线DN。所述驱动电源线12适于向所述多个栅极驱动电路提供驱动电源电压，每个栅极驱动电路适于向一条扫描线提供扫描电压。对图1所示的液晶显示器进行画面检查时，观察所述液晶显示器在正常驱动下是否有Mura现象产生。具体地，给所述液晶显示器供电后，由LCD测试治具向所述多个栅极驱动电路提供使能信号及时钟信号，向所述N条数据线施加数据信号，所述液晶显示器进行隔行扫描。扫描过程中，观察所述液晶显示器是否出现Mura现象。若所述液晶显示器出现Mura现象，根据引起Mura的不同原因，对所述液晶显示器进行不同的处理。因此，需要对所述液晶显示器的Mura来源进行检测。本专利技术技术方案提供了一种液晶显示器。所述液晶显示器包括TFT基板和驱动电源线，所述TFT基板包括M条扫描线和N条数据线，还包括开关单元，所述开关单元适于在检测所述液晶显示器Mura来源期间在控制信号的控制下导通所述驱动电源线和所述M条扫描线。具体地，检测所述液晶显示器的Mura来源时，由控制信号产生单元提供控制信号，所述控制信号控制所述开关单元导通，所述M条扫描线同时由所述驱动电源线上的驱动电源电压驱动。产生所述控制信号后，对所述N条数据线施加数据信号，观察所述液晶显示器在正常驱动下出现的Mura是否消失。引起Mura的原因有两种：生产过程中的阵列工艺引起的Mura和成盒工艺引起的Mura。阵列工艺引起Mura现象是指TFT阵列中的开关管特性曲线漂移，引起像素充放电速度变慢，导致像素在开关管的开关过程中放电不完全，最终造成液晶显示器出现Mura现象。本专利技术技术方案提供的液晶显示器，在检测时由于同时驱动所述M条扫描线，所述TFT阵列中的所有开关管同时导通，使像素完全放电，消除了TFT特性引起的Mura，即消除了由阵列工艺引起的Mura。若在检测时Mura仍然存在，则可以判断在正常驱动下产生的Mura是由成盒工艺引起；若在检测时Mura消失，则可以判断在正常驱动下产生的Mura是由阵列工艺引起。本专利技术检测液晶显示器的Mura来源时，只需要由控制信号产生单元提供控制信号，而不需要进行打孔焊接，因此，不会增加额外的工艺，缩短了检测时间。为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂，下面结合附图对本专利技术的具体实施例做详细的说明。需要说明的是，图1所示的M条扫本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种液晶显示器，所述液晶显示器包括TFT基板和驱动电源线，所述TFT基板包括M条扫描线和N条数据线，其特征在于，所述液晶显示器还包括开关单元，所述开关单元适于在检测所述液晶显示器Mura来源期间在控制信号的控制下导通所述驱动电源线和M条扫描线。

【技术特征摘要】
1.一种液晶显示器，所述液晶显示器包括TFT基板和驱动电源线，所述TFT基板包括M条扫描线和N条数据线，其特征在于，所述液晶显示器还包括开关单元，所述开关单元适于在检测所述液晶显示器Mura来源期间在控制信号的控制下导通所述驱动电源线和M条扫描线。2.根据权利要求1所述的液晶显示器，其特征在于，所述控制信号由控制信号产生单元提供。3.根据权利要求2所述的液晶显示器，其特征在于，所述控制信号产生单元为液晶显示器测试治具。4.根据权利要求2或3所述的液晶显示器，其特征在于，所述控制信号产生单元还适于在非检测所述液晶显示器Mura来源期间停止产生所述控制信号。5.根据权利要求1所述的液晶显示器，其特征在于，所述开关单元包括M个晶体管；每个晶体管的栅极相连并适于接收所述控制信号，每个晶体管的第一电极均连接所述驱动电源线，每个晶体管的第二电极对应连接一条扫描线。6.根据权利要求1所述的液晶显示器，其特征在于，所述开关单元包括M个晶体管；每个晶体管的栅极相连并适于接收所述控制信号，第m个晶体管的第一电极对应连接第m-1条扫描线，第m个晶体管的...

【专利技术属性】
技术研发人员：马牟星，吴勃，邹志杰，扈映茹，
申请(专利权)人：成都天马微电子有限公司，天马微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51