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中国科学院光电技术研究所专利技术
中国科学院光电技术研究所共有3612项专利
一种校正自适应光学系统中共模波前传感器标定方法技术方案
一种校正自适应光学系统中共模波前传感器标定方法,其特征在于:在全光路像差校正自适应光学系统工作光路条件下,从共孔径分光镜前引入平行光,该平行光透过共孔径分光镜,经后向反射器阵列反射回共孔径分光镜,再经共孔径分光镜反射至共模波前传感器,同...
确定工艺参数与工件表面频谱分布特性的方法技术
确定工艺参数与工件表面频谱分布特性的方法,涉及一种从空间频谱角度分析光学元件制造误差,尤其是表面面形中高频误差与工艺参数的定性定量关系,利用信息处理技术对测试仪器所获取的光学元件的制造误差数据进行处理,采取一维功率谱密度比值作为评价指标...
一种基于付立叶频谱滤波模块的夏克-哈特曼波前传感器制造技术
基于付立叶频谱滤波模块的夏克-哈特曼波前传感器,包括参考光源、反射镜、缩束系统、透镜阵列、匹配透镜组、光电探测器。其特征在于:在所述的光电探测器后接有对低信噪比时的图像噪声进行抑制的付立叶频谱滤波模块,付立叶频谱滤波模块对光电探测器获取...
利用分光器件实现对准功能的哈特曼波前传感器及其检测方法技术
利用分光器件实现对准功能的哈特曼波前传感器及其检测方法,在原有系统中添加了粗对准和精对准两项部分,其中粗对准部分包括:带孔的成像屏、分光器件、粗对准探测系统,精对准部分包括:聚焦透镜、精对准分光镜、精对准探测系统。入射光束经过粗对准和精...
具有被动式对准功能的哈特曼波前传感器及其检测方法技术
具有被动式对准功能的哈特曼波前传感器及其检测方法,在原有系统中添加了粗对准和精对准两项功能;其中粗对准部分包括:带孔的成像屏、探测系统,精对准部分包括:聚焦透镜、分光镜、探测系统。入射光束经过粗对准和精对准两个步骤后,能快捷方便地进入到...
具有主动式对准功能的哈特曼波前传感器及其检测方法技术
具有主动式对准功能的哈特曼波前传感器及其检测方法,在原有系统中添加了粗对准和精对准两部分,其中粗对准部分包括:对准光源系统、带孔的成像屏、移动反射镜、探测系统;精对准部分包括:聚焦透镜、分光镜、探测系统。对准光源系统,经过粗对准和精对准...
添加导引光的条阵大功率半导体激光器的整形方法技术
添加导引光的条阵大功率半导体激光器(High-Power Laser Diode Bar,简称LD)的整形方法:(1)通过计算光纤纤芯半径和孔径角一半的乘积,以及LD光束在快慢轴两个方向上的光参数积,确定对LD光束整形所需要折叠的...
一种利用变形镜实现光束自动整形的装置制造方法及图纸
一种利用变形镜实现光束自动整形的装置,由激光器、望远镜、变形镜、CCD相机、D/A转换卡、高压放大器、变密度衰减盘、主控计算机、图像采集卡、聚焦透镜、遗传控制算法组成,本发明利用遗传算法控制变形镜,通过改变激光光束的近场波面的相位分布,...
一种利用望远镜次镜自动校正望远镜像差的装置制造方法及图纸
一种利用望远镜次镜自动校正望远镜系统像差的装置,主要由反射式望远镜系统、分光镜、变密度衰减盘、高压放大器、CCD相机、数据采集系统、工控计算机、以及基于遗传算法的软件控制系统组成。本发明利用反射式望远镜的次镜作为波前相位校正器,在不引入...
基于线性相位反演复原技术的自适应光学系统技术方案
一种基于线性相位反演复原技术的自适应光学系统,其特征在于:该系统由成像传感器、线性相位反演复原算法、实时控制算法、波前校正器及其驱动电路、参考光源等组成;成像传感器使用前采用一个理想的参考光源进行标定并得到基准图像,在自适应光学系统实时...
基于共轭成像的多变形镜串连组合式波前校正器制造技术
基于共轭成像的多变形镜串连组合式波前校正器,包括至少两个相同波前校正器和对应的4f光学系统,相邻的波前校正器由4f光学系统连接起来,构成一个组合式波前校正器,且使每个波前校正器都处在光学共轭成像位置,即每一个波前校正器依次被放在4f光学...
基于自参考波前传感器和连续表面变形镜的自适应光学系统技术方案
基于自参考波前传感器和连续表面变形镜的自适应光学系统,由波前校正器,基于Mach-Zehnder干涉法的自参考波前传感器和工控机组成,光束首先通过波前校正器后,反射进入基于Mach-Zehnder干涉法的自参考波前传感器,基于Mach-...
基于像清晰化原理的自适应光学星体目标成像系统技术方案
基于像清晰化原理的自适应光学星体目标成像系统,主要由接收望远镜、分光镜、反射变形镜、高压放大器、光电探测器、主控计算机、控制算法、高速数字处理机和像质诊断系统组成。本发明能够直接利用天体目标本身作为信标,不需要采用昂贵的波前传感器测量来...
能够消除系统自身杂散光的哈特曼波前传感器技术方案
一种能够消除系统自身杂散光的哈特曼波前传感器,包括:测量光源系统、光束匹配系统、微透镜阵列和CCD,在测量光源系统的出光口前面放置起偏器;在光束匹配系统和被测件之间放置1/4波片;在微透镜阵列前面放置检偏器,并且检偏器的检偏方向和起偏器...
一种100%匹配圆形、环形光束孔径的微阵列光栅制造技术
一种100%匹配圆形、环形等光束孔径的微阵列光栅制作方法,确定在整个光束孔径上要分出的子孔径数目N;按照各个子孔径面积相等的原则进行划分;设定预期要形成的光斑阵列分布,光斑阵列中共有N个光斑,这些预期形成的N个光斑阵列将与N个子孔径对应...
一种三维亚波长金属结构透镜制造技术
一种三维亚波长金属结构透镜,步骤如下:(1)根据入射波长λ,确定基底材料以及金属材料;(2)确定金属层的厚度h;(3)针对单个方形金属孔结构,由计算得到相位延迟和方孔大小之间的关系,选取合适边长的亚波长方孔,即可完成相位延迟从-π到π的...
一种多波长多孔透镜的设计方法技术
一种多波长多孔透镜的设计方法:(1)应用菲涅尔波带片进行多孔透镜的设计,菲涅尔波带片的第k环带半径为ρ↓[k]=*ρ↓[1],相应的菲涅尔环带宽度w↓[k]=ρ↓[k]-ρ↓[k-1],ρ↓[1]=*为第一环带半径,其中f为焦距,λ为入...
一种包含纳米缝的金属膜透镜制造技术
一种包含纳米缝的金属膜透镜,其特征在于:首先确定入射波,再选取合适的基底材料,在基底上再蒸镀一层金属膜,让入射波垂直于金属膜表面入射,计算入射波在所取的金属膜中的趋肤深度;在金属膜上选定x轴方向,在x轴正方向上抽样;然后通过计算每个抽样...
用于惯性约束聚变装置全光路像差的测量和校正方法制造方法及图纸
用于惯性约束聚变装置的全光路像差的测量和校正方法,将哈特曼波前传感器放置在激光放大器之后的光路中探测近场波前,将反射变形镜放置在哈特曼波前传感器之前的光路中,将CCD放置在全光路远场,以探测焦斑强度分布,动态像差由哈特曼波前传感器直接测...
一种高耦合效率的复合型二维光子晶体的设计方法技术
一种高耦合效率的复合型二维光子晶体的设计方法,其特征在于:根据工作波长,选择光子晶体的介质柱材料和背景材料;设光子晶体晶格周期为常数a;介质柱沿垂直于纸面的z方向放置并固定;设计长M×a,宽N×a的光子晶体结构,取长边所在方向为x方向,...
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