本发明提供一种工件检测系统及工件检测方法。工件检测系统包括第一检测站、第二检测站以及检测模块。第一检测站包括旋转针装置以及第一相机。旋转针装置用以承接工件，且第一相机用以拍摄工件的第一面，以得到第一图像。第二检测站并邻于第一检测站。第二...

本发明提供一种基板量测系统及其方法，该基板测量系统用于量测一基板上的线路信息，该基板量测系统包括一第一影像捕获设备、一第二影像捕获设备、一检测平台以及一处理装置。该第一影像捕获设备设置于该基板的俯视方向侧，用以获取该基板的一俯视影像。该...

本发明提供一种共生式复检系统及共生式复检方法，用以配合一复检设备实施，该共生式复检系统包括一自动操作装置、一影像侧录装置以及一影像检测装置。该自动操作装置根据一待测物的瑕疵位置信息，输出一操作指令至该复检设备，使该复检设备的一复检摄影机...

本发明提供一种用于除尘的承载装置、检测装置、输送装置及除尘装置。所述用于除尘的承载装置包括承载单元以及网格件。多个工件适于配置在承载单元内。网格件设置于承载单元上方。来自承载单元外部的除尘气流适于通过网格件并进入承载单元以清洁多个工件。

本发明提供一种光学检测设备与光学检测方法，用以检测待测物，光学检测设备包括平台、至少一侧光源、取像单元以及图像处理单元。待测物适于承载在平台上。侧光源提供平行光行经且贴近待测物的至少一表面。取像单元朝向待测物的方向以获取待测物的图像。图...

本发明公开了一种移载装置、光学检测设备及光学检测方法，移载装置包括一吸附载台及一承载装置。吸附载台包括有一载台主体，及设置在载台主体一侧的一第一抬升单元及一第二抬升单元，第一抬升单元设置有一第一吸附单元，第二抬升单元设置有一第二吸附单元...

本发明提供一种光源装置及光学检测系统，光源装置适于提供检测光束。光源装置包括壳体、多个第一发光元件以及多个导光结构。壳体具有出光口以及第一容置空间。多个第一发光元件配置于第一容置空间，适于提供多个第一光束。多个导光结构配置于第一容置空间...

本发明公开了一种输送设备、真空输送设备及光学检测设备和光学检测方法，真空输送设备包括第一输送带、第二输送带以及真空吸附滚轮。第一输送带与第二输送带用以承载工件，第一输送带与第二输送带之间具有间隔空间。真空吸附滚轮设置在间隔空间上方，真空...

本发明公开了一种用于孔状结构的检测信息呈现方法、检测方法及检测设备，其中检测信息呈现方法包括：接收一待测物的一检测信息；根据该检测信息，通过一显示设备显示一待测物影像，其中该待测物具有至少一个孔状结构；针对该至少一个孔状结构，产生一三维...

本发明提供一种光致抗蚀剂料片缺陷检测系统及其方法。处理单元接收频宽范围相应的中心波长，并依据中心波长数据决定可调光束的中心波长，以使可调光束的中心波长不同于频宽范围相应的中心波长。可调波长光源装置依据中心波长发出可调光束，光致抗蚀剂料片...

本发明提供一种基于影像的分类系统，包括一影像捕获设备、一连接至影像捕获设备的处理装置。影像捕获设备用于获取一待测物影像，待测物具有一表面层与膜内层。处理装置包括被配置为使用一深度学习模型，并根据待测物影像进行影像分割，界定表面层区域与膜...

本发明提供一种印刷电路板的孔位信息的检测方法及设备。印刷电路板的孔位信息的检测方法至少包括下列步骤：提供图像获取装置，以获得印刷电路板上的贯孔的图像，所述贯孔包括第一孔与第二孔；图像分析贯孔的图像上的第一弧形图像，并根据第一弧形图像以获...

本发明提供一种微粒子检测装置，用于检测目标物件的多个微粒子。微粒子检测装置包括光源、光学系统以及图像获取装置。光源适于提供照明光束。光学系统配置在照明光束的传递路径上。光学系统包括光学聚焦元件，具有景深值。光学系统提供检测光束至目标物件...

一种印刷电路板的检修方法及其系统。印刷电路板的检修方法包括下列步骤：提供基板；在基板上布设导体线路；通过光学自动辨识程序对导体线路进行验证；对通过验证的导体线路，在接点位置覆盖金属接触层；在基板表面覆盖绝缘防护层；其中，当光学自动辨识程...

本发明提供一种多轴机械手臂系统及其路径规划方法，多轴机械手臂系统具有多轴机械手臂及处理单元。处理单元依据起始姿态信息、起始位置、目标姿态信息及目标位置，计算前轴单元由起始位置至目标位置的最佳路径数据及最佳姿态数据。处理单元会依据最佳路径...

本发明提供一种翻面式多轴机械手臂装置及光学检测设备，其中翻面式多轴机械手臂装置包括一手臂主体、一翻面装置以及一控制装置。手臂主体具有一工作端。翻面装置设置至工作端上，用以吸附一工件的一第一面，并对工件执行一翻面程序。控制装置耦合至手臂主...

本发明公开了一种量测孔状结构的自动光学检测系统，包括一光源装置、一远心镜头摄影机以及一图像处理装置。所述光源装置提供至一待测物的一孔状结构，其中所述孔状结构包括一壁特性区域与一面特性区域。所述远心镜头摄影机朝向所述孔状结构，用以获得所述...

本发明提供了一种用于量测孔状结构的自动光学检测系统以及方法。该系统包含一光源装置、一影像捕获设备以及一图像处理装置。该光源装置提供至一待测物的一孔状结构，其中该孔状结构包括一壁特性区域与一面特性区域。该影像捕获设备朝向该孔状结构，以获得...

本发明公开了一种单侧及双侧式检测系统及成对反射镜组装置，检测系统主要包括一待测物载台、一影像捕获设备以及一或多个反射镜。影像捕获设备设置在待测物载台一侧，用以撷取待测物影像。反射镜设置在影像捕获设备及待测物载台之间，通过反射镜将待测物的...

本发明提供一种卷带式工作物的检测设备，其包括基座、入料卷装置、收料卷装置、第一输送段、垂直输送段、第二输送段、图像获取装置以及图像检测装置。入料卷装置设置在基座上的入料侧，用以将卷带式工作物的料带送出。收料卷装置设置在基座上，用以将料带...