本实用新型公开了一种晶圆悬空测试载台，包括底座和上盖，上盖与底座铰接，并通过卡扣固定，底座和上盖对应设置第一中空区域和第二中空区域，第一中空区域内设置用于安装晶圆的支撑臂，且支撑臂上设置定位凸点以限定晶圆安装位置。本实用新型摒弃现有结构...

本实用新型公开了一种可视化工装一致性调试机构，包括镜头调节装置、芯片载板和图像预览板，芯片载板上设置芯片卡槽，图像预览板与芯片卡槽连接以与芯片连接成像，镜头调节装置设置在芯片载板上方，且与芯片卡槽位置对应；镜头调节装置包括镜头、固定框和...

本实用新型公开了一种半自动化测试工装，包括机架、机台测试座、上盖和驱动机构，机台测试座和驱动机构设置在机架上，且驱动机构位于机台测试座的上方，上盖设置在驱动机构上，利用驱动机构驱动上盖向下移动扣合于机台测试座上；本实用新型结构简单，操作...

本实用新型公开了一种预防压缩空气中水份凝结的装置，包括预热装置和加热装置，所述预热装置通过管路与所述加热装置连接，所述预热装置贴附在马达上。通过对压缩空气加热，避免压缩空气中的油污等杂质凝结；利用马达运行时产生的热量，对压缩空气进行换热...

本实用新型公开了一种用于芯片自动化检测的治具，包括水平调节机构、支架、治具底座、治具上盖、测试镜头、水平驱动机构和竖直驱动机构，支架设置在水平调节机构上，利用水平驱动机构调节支架水平位置，治具底座设置在支架上，治具上盖通过竖直驱动机构和...

本实用新型公开了一种晶圆高温测试载台，包括加热载台、晶圆载板、进气接口和出气接口，加热载台上表面凹设安装位，并且在加热载台内部设置加热腔，进气接口和出气接口设置在加热载台上，并且与加热腔连接，利用进气接口将热压缩气体注入加热腔内，并从出...

本实用新型公开了一种芯片可调定位机构，包括底板和设置在底板上的至少一组定位机构，定位机构包括固定柱、第一定位组、第二定位组和第三定位组，固定柱固定设置在底板上，利用固定柱对芯片一侧面定位，第一定位组、第二定位组和第三定位组分别为芯片的另...

本实用新型公开了一种用于图像传感芯片表面擦拭的工装，用于承载放置芯片的小托盘，所述工装包括托盘主体及设置在托盘主体两端的托盘把手，所述托盘主体包括正面，所述正面上凹设至少一个容置槽，所述容置槽用于放置所述小托盘。本实用新型能够快速有效的...

本发明公开了一种预防压缩空气中水份凝结的装置，包括预热装置和加热装置，所述预热装置通过管路与所述加热装置连接，所述预热装置贴附在马达上。通过对压缩空气加热，避免压缩空气中的油污等杂质凝结；利用马达运行时产生的热量，对压缩空气进行换热，从...

本实用新型公开了一种高精度上下分离式芯片测试工装，包括上盖、底座、镜头和芯片槽，上盖内设置用于固定镜头的第一安装区，底座上设置用于安装芯片槽的第二安装区，上盖扣合在底座上，并且通过锁定装置固定；底座上设置至少两个定位孔，在上盖的对应位置...

本实用新型公开了一种自动擦拭装置，包括放置架、水平移动装置、滚轮、滚轮支架、喷洒装置、无尘布和第一致动器，放置架上凹设放置托盘的容纳槽，滚轮可转动的设置在滚轮支架上，利用第一致动器驱动滚轮转动，无尘布安装在滚轮上，喷洒装置向滚轮上的无尘...

本实用新型公开了一种芯片测试光源控制系统，包括：可调型LED光源、传输线、USB数据线、光源控制模块，该光源控制模块一端通过传输线与可调型LED光源连接，另一端通过USB数据线与电源连接、以及光源控制模块包括可调电阻；其中，光源控制模块...

本实用新型公开了一种用于弹簧探针接触性检测装置，包括连接板、阻抗模块、数据传输线和显示终端，其中，连接板用于将测试时的模拟信号传输给阻抗模块；阻抗模块包括A/D转换器和处理模块，通过A/D转换器将模拟信号转换为数字信号并且传送给处理模块...

本发明公开了一种芯片测试光源控制系统，包括：可调型LED光源、传输线、USB数据线、光源控制模块，该光源控制模块一端通过传输线与可调型LED光源连接，另一端通过USB数据线与电源连接、以及光源控制模块包括可调电阻；其中，光源控制模块通过...

本实用新型提供了一种四位可调定位装置，该四位可调定位装置具有一容置空间以及围绕所述容置空间设置的第一导杆、第二导杆、第三导杆和第四导杆，其中，所述第一导杆的一端和所述第四导杆的一端通过第四螺杆固定连接；所述第一导杆的另一端与第一螺杆活动...

本实用新型提供了一种带红外对射计数功能的芯片测试工装，该芯片测试工装包括芯片载体，该芯片载体设有上盖，在该上盖的下方设有下盖，该下盖安装在测试主板上，所述芯片载体安装在红外对射模块的一侧，所述红外对射模块的另一侧安装有数码记数器，所述红...

本发明公开了一种CMOS测试设备，其特征在于，包括传送装置、一个或者多个测试装置、一个或者多个储料装置和定位装置以及控制所述传送装置、测试装置、储料装置和定位装置的控制器；本发明的测试设备与传统手工测试方法相比取放料损坏率降低，并且本发...

本发明公开了一种分离式测试连接板，包括测试板、连接线和压针板，所述测试板通过所述连接线与所述压针板连接，连接线为FPC，所述测试板与所述连接线可拆卸连接，所述压针板与所述连接线可拆卸连接；本发明的一种分离式连接板结构简单，设计巧妙，解决...

本发明提供了一种带红外对射计数功能的芯片测试工装，该芯片测试工装包括芯片载体，该芯片载体设有上盖，在该上盖的下方设有下盖，该下盖安装在测试主板上，所述芯片载体安装在红外对射模块的一侧，所述红外对射模块的另一侧安装有数码记数器，所述红外对...

本发明公开了一种手动单片机芯片测试装置及其操作方法，包括上盖和底座，所述上盖的上表面设有一号镜头和二号镜头，所述底座的上表面设有浮板，所述浮板上对应于所述一号镜头和所述二号镜头的位置处分别设有一号测试槽和二号测试槽。所述测试装置能够有效...