一种用于芯片自动化检测的治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于芯片自动化检测的治具，包括水平调节机构、支架、治具底座、治具上盖、测试镜头、水平驱动机构和竖直驱动机构，支架设置在水平调节机构上，利用水平驱动机构调节支架水平位置，治具底座设置在支架上，治具上盖通过竖直驱动机构和水平驱动机构设置在支架上，利用水平驱动机构驱动治具上盖向治具底座水平移动，利用竖直驱动机构驱动治具上盖竖直移动，测试镜头设置在治具上盖上。本实用新型专利技术将测试治具分体设置，通过水平驱动机构和竖直驱动机构实现治具的自动开合盖；并且在治具上设置定位凹槽和定位凸块实现X轴方向的定位，第一定位斜面和第二定位斜面实现Y轴方向的定位，保证测试镜头与芯片对齐。

【技术实现步骤摘要】
一种用于芯片自动化检测的治具
本技术涉及芯片测试领域，特别涉及一种用于芯片自动化检测的治具。
技术介绍
现有的测试治具，完全需要人工进行操作。中国专利CN204346479U手动测试治具，其治具上盖和治具下盖通过导向键销连接，需要人工打开和关闭，通过人工检测的效率非常低，而且会大大则更加人工成本。
技术实现思路
针对以上现有技术存在的缺陷，本技术的主要目的在于克服现有技术的不足之处，公开了一种用于芯片自动化检测的治具，包括水平调节机构、支架、治具底座、治具上盖、测试镜头、水平驱动机构和竖直驱动机构，所述支架设置在所述水平调节机构上，利用所述水平驱动机构调节所述支架水平位置，所述治具底座设置在所述支架上，所述治具上盖通过所述竖直驱动机构和所述水平驱动机构设置在所述支架上，利用所述水平驱动机构驱动所述治具上盖向所述治具底座水平移动，利用所述竖直驱动机构驱动所述治具上盖竖直移动，所述测试镜头设置在所述治具上盖上。进一步地，所述水平驱动机构包括气缸，所述竖直驱动机构包括气缸。进一步地，所述治具底座上设置定位凹槽，并且在所述治具上盖上设置与所述定位凹槽匹配的定位凸块，实现X轴方向定位。进一步地，所述定位凹槽呈倒梯形结构。进一步地，所述治具底座上设置第一定位斜面，并且所述第一定位斜面为倒扣结构，所述定位上盖上设置有与所述第一定位斜面匹配的第二定位斜面，实现Y轴方向定位。进一步地，所述水平调节机构包括底座、Y轴调节板、Y轴导向件、Y轴驱动机构、X轴调节板、X轴导向件和X轴驱动机构，所述Y轴导向件和Y轴驱动机构设置在所述底座上，所述Y轴调节板设置在所述Y轴导向件和Y轴驱动机构上，利用所述Y轴驱动机构驱动所述Y轴调节板沿Y轴水平移动，所述X轴导向件和所述X轴驱动机构设置在所述Y轴调节板上，所述X轴调节板设置在所述X轴导向件和所述X轴调节机构上，利用所述X轴调节机构驱动所述X轴调节板沿X轴水平移动。进一步地，所述X轴驱动机构包括丝杆和手摇柄，所述Y轴驱动机构包括丝杆和手摇柄。本技术取得的有益效果：本技术将测试治具分体设置，通过水平驱动机构和竖直驱动机构实现治具的自动开合盖；并且在治具上设置定位凹槽和定位凸块实现X轴方向的定位，第一定位斜面和第二定位斜面实现Y轴方向的定位，保证测试镜头与芯片对齐。通过水平调节机构对治具进行水平位置调节，为后期与机械手抓取位置校准提供便利。附图说明图1为本技术的一种用于芯片自动化检测的治具的结构示意图；图2为图1另一视角的结构示意图；图3为治具上盖和治具底座合盖时的结构示意图；图4为图3的后视图；图5为治具底座的结构示意图；附图标记如下：1、水平调节机构，2、支架，3、治具底座，4、治具上盖，5、测试镜头，6、水平驱动机构，7、竖直驱动机构，11、底座，12、Y轴调节板，13、Y轴导向件，14、Y轴驱动机构，15、X轴调节板，16、X轴导向件，17、X轴驱动机构，31、定位凹槽，32、第一定位斜面，41、定位凸块，42、第二定位斜面。具体实施方式为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，下面结合附图及实施例对本技术作进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。本技术目的在于为芯片自动化检测线提供一种自动开合的检测治具。具体的，一种用于芯片自动化检测的治具，包括水平调节机构1、支架2、治具底座3、治具上盖4、测试镜头5、水平驱动机构6和竖直驱动机构7，支架2设置在水平调节机构1上，通过水平调节机构1调节支架2在水平面上的位置。治具底座3设置在支架2上，水平驱动机构6设置在支架2上，并且位于治具底座3的一侧，竖直驱动机构7设置在水平驱动机构6上，治具上盖4设置在竖直驱动机构7上，测试镜头5设置在治具上盖4上。通过水平驱动机构6驱动治具上盖4向治具底座3方向移动，直至移动至治具底座3的正上方；通过竖直驱动机构7驱动治具上盖4向治具底座3竖直移动，进而使得治具上盖4和治具底座3合在一起，通过测试镜头5对芯片进行测试。其中，水平驱动机构6可以是气缸，竖直驱动机构7可以是气缸；优选的，气缸为带导杆的气缸；进而提高水平驱动和竖直驱动时的稳定性。在本实施例中，能够配合机械手自动抓取芯片，以实现检测自动化。其中，通过设置水平调节机构1，与自动抓取芯片的机械手配合使用。能够想到的机械手通过PLC编程控制，而在实际使用时由于机械手精度问题会存在已定位移动误差；另外，经过一段时间的使用，机械手可能会出现偏差，那么需要调解程序进行机械手位置校准；本技术通过机械调节，实现治具底座3在水平位置上的调节，而该种调节方式，只需要根据机械手最终移动位置，将治具底座3调节至该位置即可；通过该结构的设置，操作方便，而且能够及时进行位置校准。在一实施例中，治具底座3上设置定位凹槽31，并且在治具上盖4上设置与定位凹槽31匹配的定位凸块41，实现X轴方向定位。优选的，定位凹槽31为倒梯形结构，对应位，定位凸块41也为倒梯形结构。通过梯形的两侧壁进行导向，实现在X轴方向的校准。在一实施例中，治具底座3上设置第一定位斜面32，并且第一定位斜面32为倒扣结构，定位上盖4上设置有与第一定位斜面32匹配的第二定位斜面42，实现Y轴方向定位。治具上盖4和治具底座3合盖时，首先通过水平驱动机构6驱动治具上盖4向治具底座3移动，而后通过竖直驱动机构7驱动治具上盖4向下移动直至与治具底座3贴合，而后通过水平驱动机构6驱动治具上盖4反向移动，使得第一定位斜面32和第二定位斜面42紧密贴合，保证在Y轴方向测试镜头5与芯片对齐。在一实施例中，水平调节机构1包括底座11、Y轴调节板12、Y轴导向件13、Y轴驱动机构14、X轴调节板15、X轴导向件16和X轴驱动机构17，Y轴导向件13和Y轴驱动机构14设置在底座11上，Y轴调节板12设置在Y轴导向件13和Y轴驱动机构14上，利用Y轴驱动机构14驱动Y轴调节板12沿Y轴水平移动，X轴导向件16和X轴驱动机构17设置在Y轴调节板12上，X轴调节板15设置在X轴导向件16和X轴调节机构17上，利用X轴调节机构17驱动X轴调节板15沿X轴水平移动。其中，X轴驱动机构17包括丝杆和手摇柄，丝杆转动设置在Y轴调节板12上，丝杆与X轴调节板15螺纹配合，通过手摇柄转动丝杆使得X轴调节板15沿X轴导向件16引导沿X轴水平移动；Y轴驱动机构14包括丝杆和手摇柄，丝杆转动设置在底座11上，丝杆与Y轴调节板12螺纹配合，通过手摇柄转动丝杆，使得Y轴调节板12沿Y轴导向件13沿Y轴水平移动。本技术在使用时，通过水平调节机构1对治具位置进行调节，检测时，通过机械手将芯片放置在治具底座3上，而后PLC控制水平驱动机构6驱动治具上盖4向治具底座3移动，而后通过竖直驱动机构7驱动治具上盖4向下移动直至与治具底座3贴合，通过定位凹槽31和定位凸块41配合，实现治具底座3本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于芯片自动化检测的治具，其特征在于，包括水平调节机构、支架、治具底座、治具上盖、测试镜头、水平驱动机构和竖直驱动机构，所述支架设置在所述水平调节机构上，利用所述水平驱动机构调节所述支架水平位置，所述治具底座设置在所述支架上，所述治具上盖通过所述竖直驱动机构和所述水平驱动机构设置在所述支架上，利用所述水平驱动机构驱动所述治具上盖向所述治具底座水平移动，利用所述竖直驱动机构驱动所述治具上盖竖直移动，所述测试镜头设置在所述治具上盖上。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于芯片自动化检测的治具，其特征在于，包括水平调节机构、支架、治具底座、治具上盖、测试镜头、水平驱动机构和竖直驱动机构，所述支架设置在所述水平调节机构上，利用所述水平驱动机构调节所述支架水平位置，所述治具底座设置在所述支架上，所述治具上盖通过所述竖直驱动机构和所述水平驱动机构设置在所述支架上，利用所述水平驱动机构驱动所述治具上盖向所述治具底座水平移动，利用所述竖直驱动机构驱动所述治具上盖竖直移动，所述测试镜头设置在所述治具上盖上。


2.根据权利要求1所述的一种用于芯片自动化检测的治具，其特征在于，所述水平驱动机构包括气缸，所述竖直驱动机构包括气缸。


3.根据权利要求1所述的一种用于芯片自动化检测的治具，其特征在于，所述治具底座上设置定位凹槽，并且在所述治具上盖上设置与所述定位凹槽匹配的定位凸块，实现X轴方向定位。


4.根据权利要求3所述的一种用于芯片自动化检测的治具，其特征在于，所述定位凹槽呈倒梯形结构。

【专利技术属性】
技术研发人员：张俊堂，李海峰，魏菊，方正，杨会泉，
申请(专利权)人：太仓思比科微电子技术有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32