一种芯片的烧录测试治具制造技术

本申请公开一种芯片的烧录测试治具，测试治具包括：测试盒，测试盒的第一表面设置有芯片的放置区域，放置区域形成有多个测试孔；测试探头，设置于测试盒的内部，可由测试孔伸出，以接触位于放置区域的芯片；烧录架，设置在测试盒的第一表面；烧录探头，对应放置区域活动设置于烧录架，相对烧录架活动靠近测试盒的第一表面，以接触位于放置区域的芯片。可先控制烧录探头靠近测试盒的第一表面，以接触放置区域的芯片，对芯片进行烧录，在烧录完成后，控制测试探头从测试孔伸出，以接触位于放置区域的芯片，对芯片进行功能测试，调试下载后的程序，从而在一个治具上即可实现烧录和测试过程，工作效率高。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片的烧录测试治具
本申请属于测试治具
，具体涉及一种芯片的烧录测试治具。
技术介绍
在耳机的生产过程中，耳机芯片里的程序不一定满足要求，需要下载设计好的程序到芯片中，即对芯片进行烧录，除此之外，在下载程序完毕后，还需要对程序运行的功能进行调试。现有技术中，烧录功能和调试功能分开在两个机器中进行，需要具有烧录功能的治具对芯片进行烧录后，再由具有调试功能的治具对芯片进行调试，操作繁琐。
技术实现思路
本申请提供一种芯片的烧录测试治具，以解决烧录与调试功能需要在不同机器上进行的技术问题。为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：一种芯片的烧录测试治具，所述测试治具包括：测试盒，所述测试盒的第一表面设置有所述芯片的放置区域，所述放置区域形成有多个测试孔；测试探头，设置于所述测试盒的内部，可由所述测试孔伸出，以接触位于所述放置区域的芯片；烧录架，设置在所述测试盒的第一表面；烧录探头，对应所述放置区域活动设置于所述烧录架，相对所述烧录架活动靠近所述测试盒的第一表面，以接触位于所述放置区域的芯片。根据本申请一实施方式，所述测试盒的第一表面设置有多个测试按钮，所述治具进一步包括测试芯片，设置于所述测试盒内部，所述测试芯片连接所述测试探头和所述测试按钮。根据本申请一实施方式，所述测试盒的第一表面设置有承载板，所述承载板构成所述放置区域，所述多个测试孔形成于所述承载板上；所述承载板与所述测试盒之间设置有弹性件。根据本申请一实施方式，所述治具进一步包括烧录芯片，设置于所述测试盒内部，通过电线连接于所述烧录探头。根据本申请一实施方式，所述烧录探头通过驱动件安装于所述烧录架，所述驱动件驱动所述烧录探头靠近或远离所述测试盒。根据本申请一实施方式，所述驱动件包括：驱动手柄，转动连接于所述烧录架；升降杆，与所述驱动手柄连动连接，且连接所述烧录探头；其中，所述驱动手柄相对所述烧录架向下转动，以带动所述升降杆向下运动。根据本申请一实施方式，所述升降杆靠近所述测试盒的一端设置有压板。根据本申请一实施方式，所述烧录架上设置有套管，所述套管的轴线方向垂直于所述第一表面，所述套管套设于所述升降杆外部。根据本申请一实施方式，所述驱动手柄外部设有凹陷部。根据本申请一实施方式，所述驱动件包括气缸或丝杆组件。本申请的有益效果是：区别于现有技术，可先控制烧录探头靠近测试盒的第一表面，以接触放置区域的芯片，对芯片进行烧录，在烧录完成后，控制测试探头从测试孔伸出，以接触位于放置区域的芯片，对芯片进行功能测试，调试下载后的程序，从而在一个治具上即可实现烧录和测试过程，工作效率高。附图说明为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，其中：图1是本申请的芯片的烧录测试治具一实施例的整体结构示意图；图2是本申请的芯片的烧录测试治具一实施例的侧视结构示意图。具体实施方式下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。请参阅图1与图2，图1是本申请的芯片的烧录测试治具一实施例的整体结构示意图；图2是本申请的芯片的烧录测试治具一实施例的侧视结构示意图。本申请一实施例提供的芯片的烧录测试治具100，如图1所示，测试治具100包括测试盒110、测试探头(图中未示出)、烧录架130和烧录探头140。测试盒110的第一表面111设置有芯片的放置区域，放置区域形成有多个测试孔；测试探头设置于测试盒110的内部，可由测试孔(图中未示出)伸出，以接触位于放置区域的芯片，从而可对烧录后的芯片进行功能测试。烧录架130设置在测试盒110的第一表面111，烧录探头140对应放置区域活动设置于烧录架130，并相对烧录架130活动靠近测试盒110的第一表面111，以接触位于放置区域的芯片，从而对放置区域的芯片进行烧录，以在芯片中下载设计好的程序。本申请的烧录测试工具，可先控制烧录探头140靠近测试盒110的第一表面111，以接触放置区域的芯片，对芯片进行烧录，在烧录完成后，控制测试探头从测试孔伸出，以接触位于放置区域的芯片，对芯片进行功能测试，调试下载后的程序，从而在一个测试治具100上即可实现烧录和测试过程，工作效率高，且若测试发现下载的程序有运行问题，还可以再次进行烧录，操作便捷。在一实施例中，如图1所示，测试盒110的第一表面111设置有承载板120，承载板120构成放置区域，多个测试孔形成于承载板120上，承载板120与测试盒110之间设置有弹性件121。当烧录探头140下压靠近测试盒110的第一表面111时，弹性件121起到一定的缓冲作用，避免烧录探头140下压时动力过大，对放置区域的芯片造成损坏。在一实施例中，如图1所示，测试盒110的第一表面111设置有多个测试按钮112，多个测试按钮112分别具有不同的操作功能，例如音量放大、音量减小等功能。测试治具100进一步包括测试芯片，测试芯片设置于测试盒110内部，测试芯片连接测试探头和测试按钮112，测试芯片内存储有程序，以测试芯片的数据。从而按压测试按钮112，即可通过测试芯片对烧录后的芯片进行测试。测试芯片还可以进一步包括判断和统计等功能，以统计烧录的合格率等，在其他实施例中，测试芯片中还可以存储具有其他功能的程序。在一实施例中，如图1所示，测试治具100包括烧录芯片，烧录芯片设置于测试盒110内部，通过电线连接于烧录探头140。烧录芯片存储有芯片需要下载的程序，烧录探头140将程序下载于芯片内。在一实施例中，如图1所示，烧录探头140通过驱动件150安装于烧录架130，驱动件150驱动烧录探头140靠近或远离测试盒110。需要烧录时，驱动件150驱动烧录探头140靠近测试盒110的放置区域内的芯片，从而对芯片进行烧录；烧录完成后，驱动件150驱动烧录探头140远离测试盒110的放置区域的芯片。进一步地，如图2所示，驱动件150包括驱动手柄151和升降杆152。驱动手柄151转动连接于烧录架130，升降杆152与驱动手柄151连动连接，且烧录探头140连接于升降杆152朝向测试盒110一端，驱动手柄151相对于烧录架130向下转动，以带动升降杆152向下运动。烧录架130上设置有套管131，套管131的轴线方向垂直于第一表面111，且套管131套设于升降杆152外部，从而升降杆152保持垂直于第一表面111的方向往复滑移。进一步地，如图2所示，升降杆152靠近测试盒110的一端设置有压板153，烧录探头140设置于本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片的烧录测试治具，其特征在于，所述测试治具包括：/n测试盒，所述测试盒的第一表面设置有所述芯片的放置区域，所述放置区域形成有多个测试孔；/n测试探头，设置于所述测试盒的内部，可由所述测试孔伸出，以接触位于所述放置区域的芯片；/n烧录架，设置在所述测试盒的第一表面；/n烧录探头，对应所述放置区域活动设置于所述烧录架，相对所述烧录架活动靠近所述测试盒的第一表面，以接触位于所述放置区域的芯片。/n

【技术特征摘要】
1.一种芯片的烧录测试治具，其特征在于，所述测试治具包括：
测试盒，所述测试盒的第一表面设置有所述芯片的放置区域，所述放置区域形成有多个测试孔；
测试探头，设置于所述测试盒的内部，可由所述测试孔伸出，以接触位于所述放置区域的芯片；
烧录架，设置在所述测试盒的第一表面；
烧录探头，对应所述放置区域活动设置于所述烧录架，相对所述烧录架活动靠近所述测试盒的第一表面，以接触位于所述放置区域的芯片。


2.根据权利要求1所述的治具，其特征在于，所述测试盒的第一表面设置有多个测试按钮，所述治具进一步包括测试芯片，设置于所述测试盒内部，所述测试芯片连接所述测试探头和所述测试按钮。


3.根据权利要求1所述的治具，其特征在于，所述测试盒的第一表面设置有承载板，所述承载板构成所述放置区域，所述多个测试孔形成于所述承载板上；所述承载板与所述测试盒之间设置有弹性件。


4.根据权利要求1所述的治具，其特征在于，所述治具进一步包括烧录芯片，设置...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭森，王炼，谭骥，冯志强，
申请(专利权)人：深圳市韶音科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44