本实用新型专利技术公开一种用于半导体集成芯片的可靠性检测装置，包括长条板、转接板和测试板，所述测试板设置于转接板的一侧表面并位于转接板与长条板之间，所述转接板通过导线与测试机构连接，所述第一安装板的两个端面上分别连接有一滑动块，所述长条板上并位于滑动块两侧分别固定有一第一固定板，位于同一个滑动块两侧的两个第一固定板之间连接有一固定杆，所述滑动块可滑动的套装于所述固定杆上，所述固定杆上还套装有一拉伸弹簧，此拉伸弹簧的两端分别与滑动块和其中一个第一固定板连接。本实用新型专利技术通过拉伸弹簧的设置，既对滑动块起到限位的作用，还提高了滑动块移动过程中的稳定性，进而保证对集成电路夹持的稳定性。
【技术实现步骤摘要】
用于半导体集成芯片的可靠性检测装置
本技术涉及集成电路测试领域，尤其涉及一种用于半导体集成芯片的可靠性检测装置。
技术介绍
集成电路是一种微型电子器件，通过采用一定的工艺，把一个电路中所需要的晶体管、二极管、电阻、电容和电感等元件及布线互连在一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。对电子产品进行功能测试时，一般是对电子产品的集成电路进行功能测试。对集成电路进行功能测试时，需要将集成电路的各个功能引脚通过集成电路转接板连接到测试装置。专利号为CN201521133796.4的集成电路测试装置，包括转接板、测试底座、测试仪和PC机；转接板上设有包括多个测试点的测试区和所述测试仪的数据输出接口；多个测试点分别具有可被测试仪识别的唯一标识；测试底座具有连接集成电路引脚的插入口；测试底座位于测试区，且插入口与测试点一一对应；测试仪上设有与多个测试点对应连接的数据输入接口，用于测试通过测试底座连接的集成电路的电学参数；PC机与测试仪连接。利用上述集成电路测试装置，将待测试的多种集成电路放置在测试底座上，测试底座设置在可被测试仪识别的测试区上，PC机将测试程序传送给测试仪对集成电路进行测试，其测试效率高、成本低、实用性强。该专利没有对所需测试的集成电路进行夹持固定的装置，从而使得集成电路在在测试的过程中容易受到外力撞击而掉落，进而影响人们测试的正常进行。
技术实现思路
本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种用于半导体集成芯片的可靠性检测装置。为达到上述目的，本技术采用的技术方案是：一种用于半导体集成芯片的可靠性检测装置，包括长条板、转接板和测试板，所述测试板设置于转接板的一侧表面并位于转接板与长条板之间，所述转接板通过导线与测试机构连接，所述长条板与转接板之间通过至少两个连接件固定连接；所述长条板上并位于测试板两侧分别开有一长条槽，两个所述长条槽内分别设置有一连接块，此两个连接块各自的一端连接有一挡板，此两个连接块各自的另一端连接有一第一安装板，两个所述挡板位于连接有测试板的长条板的一侧，两个所述第一安装板位于相背于测试板的长条板的另一侧；所述长条板表面两端分别固定有一与第一安装板对应的第二固定板，此第二固定板与对应的第一安装板面对面设置，一螺杆的一端贯穿第二固定板并与第一安装板连接，此螺杆的另一端固定连接有一第二安装板，所述第二固定板通过一具有内螺纹的螺管与螺杆连接；所述第一安装板的两个端面上分别连接有一滑动块，所述长条板上并位于滑动块两侧分别固定有一第一固定板，位于同一个滑动块两侧的两个第一固定板之间连接有一固定杆，所述滑动块可滑动的套装于所述固定杆上，所述固定杆上还套装有一拉伸弹簧，此拉伸弹簧的两端分别与滑动块和其中一个第一固定板连接。上述技术方案中进一步改进的方案如下：1.上述方案中，所述第一固定板与长条板通过焊接固定连接。2.上述方案中，所述滑动块通过焊接连接于第一安装板的两个端面上。3.上述方案中，所述测试机构包括集成电路测试仪，所述集成电路测试仪通过导线与电脑连接，所述集成电路测试仪通过导线与转接板连接。4.上述方案中，所述连接件呈凹形状，此连接件的两端通过螺钉分别与转接板、长条板连接。5.上述方案中，所述转接板表面的四个拐角处均通过螺钉连接有一安装件，四个安装件的端部均开设有螺孔。由于上述技术方案的运用，本技术与现有技术相比具有下列优点：本技术用于半导体集成芯片的可靠性检测装置，其通过在测试板的一侧设置两个挡板，用于对集成电路的两端夹持固定，还能根据集成电路的大小调节两个挡板之间的距离，方便了根据大小不同的集成电路进行夹持固定；另外，其第一安装板的两个端面上分别连接有一滑动块，所述长条板上并位于滑动块两侧分别固定有一第一固定板，位于同一个滑动块两侧的两个第一固定板之间连接有一固定杆，所述滑动块可滑动的套装于所述固定杆上，所述固定杆上还套装有一拉伸弹簧，此拉伸弹簧的两端分别与滑动块和其中一个第一固定板连接，通过拉伸弹簧的设置，既对滑动块起到限位的作用，还提高了滑动块移动过程中的稳定性，进而保证对集成电路夹持的稳定性。附图说明附图1为本技术用于半导体集成芯片的可靠性检测装置的第一轴测图；附图2为本技术用于半导体集成芯片的可靠性检测装置的第二轴测图；附图3为本技术检测装置的转接板和测试板连接结构示意图；附图4为本技术用于半导体集成芯片的可靠性检测装置的系统框图。以上附图中：1、连接块；2、第一安装板；3、固定杆；4、螺杆；5、螺管；6、第二安装板；7、第一固定板；8、拉伸弹簧；9、长条槽；10、滑动块；11、连接件；12、长条板；13、挡板；14、第二固定板；15、螺孔；16、安装件；17、转接板；18、测试板。具体实施方式实施例1：一种用于半导体集成芯片的可靠性检测装置，包括长条板12、转接板17和测试板18，所述测试板18设置于转接板17的一侧表面并位于转接板17与长条板12之间，所述转接板17通过导线与测试机构连接，所述长条板12与转接板17之间通过至少两个连接件11固定连接；所述长条板12上并位于测试板18两侧分别开有一长条槽9，两个所述长条槽9内分别设置有一连接块1，此两个连接块1各自的一端连接有一挡板13，此两个连接块1各自的另一端连接有一第一安装板2，两个所述挡板13位于连接有测试板18的长条板12的一侧，两个所述第一安装板2位于相背于测试板18的长条板12的另一侧；所述长条板12表面两端分别固定有一与第一安装板2对应的第二固定板14，此第二固定板14与对应的第一安装板2面对面设置，一螺杆4的一端贯穿第二固定板14并与第一安装板2连接，此螺杆4的另一端固定连接有一第二安装板6，所述第二固定板14通过一具有内螺纹的螺管5与螺杆4连接；所述第一安装板2的两个端面上分别连接有一滑动块10，所述长条板12上并位于滑动块10两侧分别固定有一第一固定板7，位于同一个滑动块10两侧的两个第一固定板7之间连接有一固定杆3，所述滑动块10可滑动的套装于所述固定杆3上，所述固定杆3上还套装有一拉伸弹簧8，此拉伸弹簧8的两端分别与滑动块10和其中一个第一固定板7连接。上述第一固定板7与长条板12通过焊接固定连接；上述滑动块10通过焊接连接于第一安装板2的两个端面上；上述测试机构包括集成电路测试仪，上述集成电路测试仪通过导线与电脑连接，上述集成电路测试仪通过导线与转接板17连接。实施例2：一种用于半导体集成芯片的可靠性检测装置，包括长条板12、转接板17和测试板18，所述测试板18设置于转接板17的一侧表面并位于转接板17与长条板12之间，所述转接板17通过导线与测试机构连接，所述长条板12与转接板17之间通过至少两个连接件11固定连接；所述长条板12上并位于测试板18两侧分别开本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种用于半导体集成芯片的可靠性检测装置，其特征在于：包括长条板（12）、转接板（17）和测试板（18），所述测试板（18）设置于转接板（17）的一侧表面并位于转接板（17）与长条板（12）之间，所述转接板（17）通过导线与测试机构连接，所述长条板（12）与转接板（17）之间通过至少两个连接件（11）固定连接；/n所述长条板（12）上并位于测试板（18）两侧分别开有一长条槽（9），两个所述长条槽（9）内分别设置有一连接块（1），此两个连接块（1）各自的一端连接有一挡板（13），此两个连接块（1）各自的另一端连接有一第一安装板（2），两个所述挡板（13）位于连接有测试板（18）的长条板（12）的一侧，两个所述第一安装板（2）位于相背于测试板（18）的长条板（12）的另一侧；/n所述长条板（12）表面两端分别固定有一与第一安装板（2）对应的第二固定板（14），此第二固定板（14）与对应的第一安装板（2）面对面设置，一螺杆（4）的一端贯穿第二固定板（14）并与第一安装板（2）连接，此螺杆（4）的另一端固定连接有一第二安装板（6），所述第二固定板（14）通过一具有内螺纹的螺管（5）与螺杆（4）连接；/n所述第一安装板（2）的两个端面上分别连接有一滑动块（10），所述长条板（12）上并位于滑动块（10）两侧分别固定有一第一固定板（7），位于同一个滑动块（10）两侧的两个第一固定板（7）之间连接有一固定杆（3），所述滑动块（10）可滑动的套装于所述固定杆（3）上，所述固定杆（3）上还套装有一拉伸弹簧（8），此拉伸弹簧（8）的两端分别与滑动块（10）和其中一个第一固定板（7）连接。/n...
【技术特征摘要】
1.一种用于半导体集成芯片的可靠性检测装置，其特征在于：包括长条板（12）、转接板（17）和测试板（18），所述测试板（18）设置于转接板（17）的一侧表面并位于转接板（17）与长条板（12）之间，所述转接板（17）通过导线与测试机构连接，所述长条板（12）与转接板（17）之间通过至少两个连接件（11）固定连接；
所述长条板（12）上并位于测试板（18）两侧分别开有一长条槽（9），两个所述长条槽（9）内分别设置有一连接块（1），此两个连接块（1）各自的一端连接有一挡板（13），此两个连接块（1）各自的另一端连接有一第一安装板（2），两个所述挡板（13）位于连接有测试板（18）的长条板（12）的一侧，两个所述第一安装板（2）位于相背于测试板（18）的长条板（12）的另一侧；
所述长条板（12）表面两端分别固定有一与第一安装板（2）对应的第二固定板（14），此第二固定板（14）与对应的第一安装板（2）面对面设置，一螺杆（4）的一端贯穿第二固定板（14）并与第一安装板（2）连接，此螺杆（4）的另一端固定连接有一第二安装板（6），所述第二固定板（14）通过一具有内螺纹的螺管（5）与螺杆（4）连接；
所述第一安装板（2）的两个端面上分别连接有一滑动块（10），所述长条板（12）上并位于滑动块（10）两侧分别固定有一第一固定板（7），位于同一...
【专利技术属性】
技术研发人员：彭兴义，
申请(专利权)人：盐城芯丰微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32
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