苏州威达智科技股份有限公司专利技术

苏州威达智科技股份有限公司共有39项专利

  • 本发明公开的一种晶片PACK自动上下料装置,包括预分盘机构以及设置在预分盘机构两侧的第一夹持机构与第二夹持机构;预分盘机构底部设置有升降机构,升降机构用于带动预分盘机构沿设置方向滑动;预分盘机构包括若干个分隔片,若干个分隔片层叠设置,相...
  • 本发明公开的一种用于盖板玻璃双表面缺陷光学检测方法,包括开启同轴光源,通过相机对下方的盖板玻璃进行拍照,得到玻璃图像;通过分析玻璃图像得到缺陷平面位置;依次调整玻璃盖板不同方向的分区光源,分析缺陷是否有阴影,得到同一缺陷对应的周边缺陷阴...
  • 本技术公开的一种全自动尺寸检测设备,包括平台以及设置在平台上的顶部导向组件与底部导向组件;顶部导向组件上配合连接有顶部检测组件,顶部检测组件能够沿顶部导向组件水平滑动;平台顶部位于顶部导向组件的一侧设置有支撑框架,支撑框架顶部设置有产品...
  • 本发明公开的一种立方体三色合光棱镜与微显示器贴合方法及系统,包括通过高倍物镜将LED发光平板和标记平板成像在传感器上,进行三个单色LED发光平板与XCube的贴合,在透光的标记平板表面上,采用被动发光的定制图案,创建三个单色LED发光平...
  • 本技术公开的一种光伏顶齿外观检测设备,包括检测机台以及设置在检测机台顶部的导向架;检测机台顶部且位于导向架内侧并列设置有第一移动平台与第二移动平台;第一移动平台与第二移动平台上设置有若干个顶齿;第一移动平台一侧设置有第一单侧检测组件,第...
  • 本发明公开的一种用于MicroLED芯片的主动对位算法,包括将MicroLED芯片放至预设位置,点亮特定图案,并计算芯片中心坐标;获取相机显示画面,根据相机显示画面将MicroLED芯片移至相机画面中心;通过相机对MicroLED芯片进...
  • 本技术公开了一种磁力运输线,包括两个平行间隔设置的底座、分别固定在两个底座上的两个主动磁力齿轮、与底座可转动连接的多个从动磁力齿轮、与多个从动磁力齿轮对应设置的多个驱动磁力齿轮以及驱动主动磁力齿轮转动的动力驱动单元,驱动磁力齿轮与底座可...
  • 本发明公开的一种光伏硅片花篮缺陷检测设备,包括底部框架与顶部框架以及设置在顶部框架内侧的输送流水线;输送流水线上设置有多个花篮,输送流水线控制花篮沿输送方向移动;输送流水线上方沿输送方向依次设置有抓取机构、螺丝检测机构、第一旋转机构与第...
  • 本技术公开的一种晶圆搬运机器人,包括两个并列设置的支架以及配合连接在支架上的水平导轨;水平导轨一侧配合连接有旋转控制台,旋转控制台内部设置有升降导轨,升降导轨一侧配合连接有竖直滑动座,竖直滑动座顶部设置有旋转轴,旋转轴顶部设置有升降机构...
  • 本发明公开的一种易撕胶带拉手翻转机构,包括安装板以及设置在安装板一侧的第一凸轮轨迹板;安装板与第一凸轮轨迹板内侧设置有至少一个翻转组件;安装板另一侧设置有控制气缸与第二凸轮轨迹板,翻转组件翻转安装板并配合连接至第二凸轮轨迹板上;控制气缸...
  • 本发明公开的一种晶圆高动态光谱成像
  • 本发明公开的一种凹面贴合组装设备,包括设备平台;设备平台顶部一端设置有供料组件,供料组件内设置有底膜,底膜上阵列设置有若干个贴合件;供料组件一端设置有飞达剥料组件,飞达剥料组件上方设置有上料抓取组件,上料抓取组件用于抓取底膜并放至飞达剥...
  • 本实用新型公开的一种用于晶圆平台的调节机构,包括水平滑轨与竖直滑轨;水平滑轨顶部配合连接有水平滑块,水平滑块顶部设置有下楔块;竖直滑轨一侧配合连接有上楔块,上楔块能够沿竖直滑轨滑动;上楔块设置在下楔块的上方;本申请通过设置水平滑轨与竖直...
  • 本发明公开的一种半导体晶圆Bump三维形貌测量方法,包括设定扫描轨迹,按照扫描轨迹对晶圆表面进行扫描,获取光谱亮度信息与高度信息,根据光谱亮度信息与高度信息转换为对应的亮度图、高度图与点云信息;扫描晶圆尺寸,生成默认值为0的深度图M,并...
  • 本发明公开的一种VR镜头对位组装设备,包括设备本体与气浮平台机架;气浮平台机架顶部并列第一对位移载模组与第二对位移载模组,第一对位移载模组与第二对位移载模组顶部均配合连接有治具平台,治具平台上设置有第一定位治具与第二定位治具,第一定位治...
  • 本发明公开的一种VR设备镜头对位算法,包括控制镜头沿竖直方向移动,镜头移动过程中发光板在成像系统上进行图像呈现;通过图像发生器使发光板呈现标准的图像;将标准的图像与成像系统上的呈现的图像进行对比,并利用梯度算法计算当前图像各个位置的清晰...
  • 本申请公开了一种多产品平面度检测兼容治具,包括安装座、纵向定位组件、纵向夹持组件、纵向调整单元、宽向定位组件和宽向夹持组件,纵向定位组件包括沿纵长方向相对设置在安装座两边的两个纵向定位件,至少一个纵向定位件被配置为可沿纵长方向滑动;纵向...
  • 本发明公开的一种倒装芯片六面AOI缺陷检测设备,包括设备本体以及设置在设备本体内部的平台;平台顶部设置有上料组件与下料组件,上料组件与下料组件并列设置,上料组与下料组件之间的设置有侧面检测相机;平台上设置有移载组件,移载组件包括移载支架...
  • 本发明公开的一种晶圆自动化检测分选设备,包括设备本体以及设置在设备本体内部的分选平台;分选平台顶部设置有取料组件;分选平台顶部设置有第一安装台与第二安装台,第一安装台顶部设置有交互模组,交互模组一侧设置有中转组件,交互模组用于抓取Tra...
  • 本发明公开的一种基于四点定位提取MicroLED灯珠算法,包括采集灯珠图像,获取灯珠个数信息,并生成灯珠矩阵;根据灯珠矩阵计算发光灯珠区域与水平面的夹角,并计算发光灯珠区域顶点的图像坐标信息;根据S1中生成的灯珠矩阵计算顶点的标准图像坐...