本发明公开了一种半导体开路测试机，本发明通过设置两个多路复用器，一个多路复用器的复用端连接参数测量单元通道的Force信号，另一个多路复用器的复用端连接参数测量单元通道的Sense信号，两个多路复用器的多路端按照顺序一一连接后共同连接至...

本发明公开一种测试机AC校准方法，包括通过布线将多个测试通道汇聚一节点；以一测试通道为待校准测试通道，将其工作于驱动模式，其余测试通道工作于接收模式；在工作于驱动模式的测试通道上加载驱动信号，由工作于接收模式的测试通道捕获驱动信号；将工...

本实用新型涉及测量电变量技术领域，具体地说是一种集成电路测试机内高压数字通道自检模块的诊断电路。一种集成电路测试机内高压数字通道自检模块的诊断电路，所述的高压通道自检模块包括DPS_F0端口至DPS_F3端口、DPS_S0端口至DPS_...

本实用新型涉及测量电变量技术领域，具体地说是一种集成电路测试机的自诊断电路。包括集成电路测试机，集成电路测试机内设有数字通道模块、精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块、多功能继电器模块，其特征在于：所述的集成电路测试机上设有若干...

本发明涉及测量电变量技术领域，具体地说是一种集成电路测试机的自诊断电路及方法。包括集成电路测试机，集成电路测试机内设有数字通道模块、精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块、多功能继电器模块，其特征在于：所述的集成电路测试机上设有若...

本实用新型公开了一种平衡风道结构，包括纵向挡板和横向挡板；纵向挡板布置方向与板卡插槽平行，其完全覆盖板卡插槽且其上开有均匀分布的通孔结构，通孔结构的总面积占板卡插槽面积的50～70％；横向挡板垂直与纵向挡板，其布置在板卡布置槽的开口侧且...

本发明涉及芯片测试机技术领域，具体地说是一种芯片测试机内提高抓取信号精度的方法。其特征在于包括如下步骤：S1，取理想变化点；S2，取样本点，对每个样本点及理想变化点分别进行检测扫描，并记录每检测扫描结果；S3，多次重复步骤S2；S4，建...

本实用新型公开了一种芯片测试机的远程监控和维护系统，包括FPGA自检系统、通讯模块及远程监控服务器；FPGA自检系统与芯片测试机主控FPGA通讯连接且通过通讯模块与远程监控服务器连接；FPGA自检系统获取芯片测试机主控FPGA输出的芯片...

本实用新型公开了一种高精度芯片测试时间成本分析系统，包括FPGA计时模块；FPGA计时模块分别与集成电路自动测试机和待测试模块连接；FPGA计时模块通过数据传输模块与上位机实现数据通讯。本实用新型的高精度芯片测试时间成本分析系统，采用硬...

本发明涉及半导体技术领域，具体的说是一种芯片自动测试机内测试通道信号传输时间的校准方法。一种芯片自动测试机内测试通道信号传输时间的校准方法，包括自动测试机、AC‑cal载具板、Odd‑Even载具板。同现有技术相比，提供一种芯片自动测试...

本发明涉及芯片测试机技术领域，具体地说是一种芯片测试机动态调试时修改、抓取AWG波形数据的方法。其特征在于包括如下步骤：S1，备份；S2，根据波形配置文件的参数调用数学函数产生相应的点，将点数据保存为波形文件格式；S3，设置示波器配置文...

本发明涉及半导体测试技术领域，具体地说是一种应用于自动测试机SOC芯片并行测试切换方法。具体流程如下：S1：在测试载具板上的数据接口及MCU端连接一组数字测试通道A，在测试载具板上的以太网接口端连接一组数字测试通道B，数字测试通道B上连...

本发明涉及半导体测试技术领域，具体地说是一种应用于相位调整电路的误差补偿计算方法。具体流程如下：S1：FPGA初始化；S2：FPGA自检，若显示正常，则继续步骤S3；若自检显示有误，则系统上报错误；S3：读取FPGA使用时间的长度；S4...

本发明涉及自动测试机技术领域，具体地说是一种自动测试机的线路自检方法。其特征在于包括如下步骤：S1，设置驱动信号发生器的输出电平；S2，设置接收信号比较器处的比较电压值、比较时间值的初始值；S3，驱动信号发生器在输出实际高电平；S4，将...

本发明涉及半导体测试技术领域，具体地说是一种基于可编程电源的数字货币处理器芯片的测量方法。具体测试方法如下：S1：测试载具板连接可编程电源；S2：在可编程电源内设置主控电源通道及从属电源通道；S3：当进行数字货币处理器芯片工作模式测试时...

本发明涉及半导体测试技术领域，具体地说是一种针对自动测试机的异步频谱泄漏的抑制方法。一种针对自动测试机的异步频谱泄漏的抑制方法，具体解决方法如下：S1：启动被测芯片的测试工作；S2：启动自动测试机的采样模块进行数据采样，采样数据长度为1...

本发明涉及模拟数字转换器技术领域，具体地说是一种低成本测试模拟数字转换器线性度的方法。其特征在于包括如下步骤：S1，设置高精度参数测量单元工作参数；S2，设置数字测试通道为输入捕获模式；S3，执行数字测试通道样式程序，被测模拟数字转换器...

本发明涉及半导体测试技术领域，具体地说是一种载具板自校准的高精度测试方法。具体测试方法如下：S1：在测试载具板上设有芯片专用测试管座与4颗继电器的连接电路；S2：在芯片专用测试管座上放置被测芯片；S3：当测试载具板进行自校准模式时，4颗...

本发明涉及半导体测试技术领域，具体地说是一种基于FPGA在数字测试通道上实现定制模块的方法。具体测试方法如下：S1：根据通用模块的资源用量，为每个数字通道的定制模块规划资源数量；S2：设计定制模块；S3：将通用模块及定制模块与主控模块连...

本发明涉及半导体测试技术领域，具体地说是一种用于晶圆测试的晶粒加权补偿计算方法。具体流程如下：S1：通过PMU初测方法，找出晶圆上有代表性的某个晶粒的补偿值；S2：找出补偿值后，使用“过‑不过”测试方法对剩下的晶粒做快速测试；S3：如果...