一种芯片自动测试机内测试通道信号传输时间的校准方法技术

本发明专利技术涉及半导体技术领域，具体的说是一种芯片自动测试机内测试通道信号传输时间的校准方法。一种芯片自动测试机内测试通道信号传输时间的校准方法，包括自动测试机、AC‑cal载具板、Odd‑Even载具板。同现有技术相比，提供一种芯片自动测试机内测试通道信号传输时间的校准方法，利用自动测试机上的现有条件对其通道进行自校准，以提高自动测试机工作的精准度。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片自动测试机内测试通道信号传输时间的校准方法
本专利技术涉及半导体
，具体的说是一种芯片自动测试机内测试通道信号传输时间的校准方法。
技术介绍
当自动测试机运行时，需要准确的时间信息来设置发送信号和接收输入信号。然而因为电路设计或者器件的原因，导致每个通道上的信号延迟不一样，这就需要自动测试机对通道上的信号传输时间进行校准，校准后的各通道信号到达测试机末端时刻是相同的。
技术实现思路
本专利技术为克服现有技术的不足，提供一种芯片自动测试机内测试通道信号传输时间的校准方法，利用自动测试机上的现有条件对其通道进行自校准，以提高自动测试机工作的精准度。为实现上述目的，设计一种芯片自动测试机内测试通道信号传输时间的校准方法，包括自动测试机、AC-cal载具板、Odd-Even载具板，其特征在于：具体校准方法如下：（1）在自动测试机上安装AC-cal载具板；（2）通过软件对AC-cal载具板上的端口通道进行配置，分别是1个接收信号通道及127个发送信号通道；（3）发送信号通道发射周期为100ns的时钟信号；（4）接收信号通道以50ps的步长，在上升沿或者下降沿左右32步长的范围去搜索发送信号的上升沿或者下降沿的变化时刻，记录为Tx1；（5）选取接收信号通道的最大时刻为Tb，其余接收信号通道与最大接收信号通道的差∆Tx=Txn-Tb用于补偿，n为通道数；（6）将∆Tx的补偿数据补偿在自动测试机系统内；（7）如果步骤（6）中的∆Tx的补偿数据为最后一次补偿，补偿数据后，再次进行步骤（4），若Tx2在（-150ps，+150ps）的范围内，即为通过，否则为不通过；（8）在自动测试机上安装Odd-Even载具板；（9）通过软件对Odd-Even载具板上的端口通道进行配置，配置奇数通道为发送信号通道，与奇数通道连接的偶数通道为接收信号通道；（10）设定偶数的接收信号通道的固定的时刻去捕捉信号的上升沿、下降沿的变化时刻；（11）奇数的发送信号通道发射周期为100ns的时钟信号，每个周期的上升沿或者下降沿以100ps后移，直到接收信号通道捕捉到发送信号通道的上升沿或者下降沿的变化，并记录该时刻为Tx1’；（12）配置偶数通道为发送信号通道，与偶数通道连接的奇数通道为接收信号通道，重复步骤（11），并记录时刻为Tx1’；（13）选取输出信号部分通道的最大时刻为Tb’，其余输出信号部分通道与最大输出信号部分通道的差∆Tx’=Txn’-Tb’用于补偿，n为通道数；（14）将∆Tx’的补偿数据补偿在自动测试机系统内；（15）如果步骤（14）中的∆Tx’的补偿数据为最后一次补偿，补偿数据后，再次进行步骤（11）及步骤（12），若Tx2’在（-150ps，+150ps）的范围内，即为通过，否则为不通过；（16）继续重复步骤（1），至少3次后结束。所述的AC-cal载具板上的每个端口的一端分别通过线路与自动测试机相应的端口连接，并且AC-cal载具板上的每个端口的另一端通过线路汇聚一起。所述的AC-cal载具板上有128个通道。所述的Odd-Even载具板上的端口通过线路依次两两连接。所述的Odd-Even载具板上有128个通道。本专利技术同现有技术相比，提供一种芯片自动测试机内测试通道信号传输时间的校准方法，利用自动测试机上的现有条件对其通道进行自校准，以提高自动测试机工作的精准度。附图说明图1为本专利技术方法流程图。图2为AC-cal载具板的线路连接图。图3为Odd-Even载具板的线路连接图。图4为AC-cal载具板的信号走向示意图。图5为Odd-Even载具板上奇数通道为发射通道的信号走向示意图。图6为Odd-Even载具板上偶数通道为发射通道的信号走向示意图。具体实施方式下面根据附图对本专利技术做进一步的说明。如图1所示，一种芯片自动测试机内测试通道信号传输时间的校准方法，具体校准方法如下：（1）在自动测试机上安装AC-cal载具板；（2）通过软件对AC-cal载具板上的端口通道进行配置，分别是1个接收信号通道（compare）及127个发送信号通道（force）；（3）发送信号通道（force）发射周期为100ns的时钟信号；（4）接收信号通道（compare）以50ps的步长，在上升沿或者下降沿左右32步长的范围去搜索发送信号的上升沿或者下降沿的变化时刻，记录为Tx1；（5）选取接收信号通道（compare）的最大时刻为Tb，其余接收信号通道（compare）与最大接收信号通道（compare）的差∆Tx=Txn-Tb用于补偿，n为通道数；（6）将∆Tx的补偿数据补偿在自动测试机系统内；（7）如果步骤（6）中的∆Tx的补偿数据为最后一次补偿，补偿数据后，再次进行步骤（4），若Tx2在（-150ps，+150ps）的范围内，即为通过，否则为不通过；（8）在自动测试机上安装Odd-Even载具板；（9）通过软件对Odd-Even载具板上的端口通道进行配置，配置奇数通道为发送信号通道（force），与奇数通道连接的偶数通道为接收信号通道（compare）；（10）设定偶数的接收信号通道（compare）的固定的时刻去捕捉信号的上升沿、下降沿的变化时刻；（11）奇数的发送信号通道（force）发射周期为100ns的时钟信号，每个周期的上升沿或者下降沿以100ps后移，直到接收信号通道（compare）捕捉到发送信号通道（force）的上升沿或者下降沿的变化，并记录该时刻为Tx1’；（12）配置偶数通道为发送信号通道（force），与偶数通道连接的奇数通道为接收信号通道（compare），重复步骤（11），并记录时刻为Tx1’；（13）选取输出信号部分（Drive）通道的最大时刻为Tb’，其余输出信号部分（Drive）通道与最大输出信号部分（Drive）通道的差∆Tx’=Txn’-Tb’用于补偿，n为通道数；（14）将∆Tx’的补偿数据补偿在自动测试机系统内；（15）如果步骤（14）中的∆Tx’的补偿数据为最后一次补偿，补偿数据后，再次进行步骤（11）及步骤（12），若Tx2’在（-150ps，+150ps）的范围内，即为通过，否则为不通过；（16）继续重复步骤（1），至少3次后结束。如图2所示，AC-cal载具板上的每个端口的一端分别通过线路与自动测试机相应的端口连接，并且AC-cal载具板上的每个端口的另一端通过线路汇聚一起。所述的AC-cal载具板上有128个通道。如图3所示，Odd-Even载具板上的端口通过线路依次两两连接。所述的Odd-Even载具板上有128个通道。如图4所示，AC-cal载具板上使用127个通道的合信号做为参考，127个通本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片自动测试机内测试通道信号传输时间的校准方法，包括自动测试机、AC-cal载具板、Odd-Even载具板，其特征在于：具体校准方法如下：/n（1）在自动测试机上安装AC-cal载具板；/n（2）通过软件对AC-cal载具板上的端口通道进行配置，分别是1个接收信号通道及127个发送信号通道；/n（3）发送信号通道发射周期为100ns的时钟信号；/n（4）接收信号通道以50ps的步长，在上升沿或者下降沿左右32步长的范围去搜索发送信号的上升沿或者下降沿的变化时刻，记录为Tx1；/n（5）选取接收信号通道的最大时刻为Tb，其余接收信号通道与最大接收信号通道的差∆Tx= Txn-Tb用于补偿，n为通道数；/n（6）将∆Tx的补偿数据补偿在自动测试机系统内；/n（7）如果步骤（6）中的∆Tx的补偿数据为最后一次补偿，补偿数据后，再次进行步骤（4），若Tx2在（-150ps，+150ps）的范围内，即为通过，否则为不通过；/n（8）在自动测试机上安装Odd-Even载具板；/n（9）通过软件对Odd-Even载具板上的端口通道进行配置，配置奇数通道为发送信号通道，与奇数通道连接的偶数通道为接收信号通道；/n（10）设定偶数的接收信号通道的固定的时刻去捕捉信号的上升沿、下降沿的变化时刻；/n（11）奇数的发送信号通道发射周期为100ns的时钟信号，每个周期的上升沿或者下降沿以100ps后移，直到接收信号通道捕捉到发送信号通道的上升沿或者下降沿的变化，并记录该时刻为Tx1’；/n（12）配置偶数通道为发送信号通道，与偶数通道连接的奇数通道为接收信号通道，重复步骤（11），并记录时刻为Tx1’；/n（13）选取输出信号部分通道的最大时刻为Tb’，其余输出信号部分通道与最大输出信号部分通道的差∆Tx’= Txn’-Tb’用于补偿，n为通道数；/n（14）将∆Tx’的补偿数据补偿在自动测试机系统内；/n（15）如果步骤（14）中的∆Tx’的补偿数据为最后一次补偿，补偿数据后，再次进行步骤（11）及步骤（12），若Tx2’在（-150ps，+150ps）的范围内，即为通过，否则为不通过；/n（16）继续重复步骤（1），至少3次后结束。/n...

【技术特征摘要】
1.一种芯片自动测试机内测试通道信号传输时间的校准方法，包括自动测试机、AC-cal载具板、Odd-Even载具板，其特征在于：具体校准方法如下：
（1）在自动测试机上安装AC-cal载具板；
（2）通过软件对AC-cal载具板上的端口通道进行配置，分别是1个接收信号通道及127个发送信号通道；
（3）发送信号通道发射周期为100ns的时钟信号；
（4）接收信号通道以50ps的步长，在上升沿或者下降沿左右32步长的范围去搜索发送信号的上升沿或者下降沿的变化时刻，记录为Tx1；
（5）选取接收信号通道的最大时刻为Tb，其余接收信号通道与最大接收信号通道的差∆Tx=Txn-Tb用于补偿，n为通道数；
（6）将∆Tx的补偿数据补偿在自动测试机系统内；
（7）如果步骤（6）中的∆Tx的补偿数据为最后一次补偿，补偿数据后，再次进行步骤（4），若Tx2在（-150ps，+150ps）的范围内，即为通过，否则为不通过；
（8）在自动测试机上安装Odd-Even载具板；
（9）通过软件对Odd-Even载具板上的端口通道进行配置，配置奇数通道为发送信号通道，与奇数通道连接的偶数通道为接收信号通道；
（10）设定偶数的接收信号通道的固定的时刻去捕捉信号的上升沿、下降沿的变化时刻；
（11）奇数的发送信号通道发射周期为100ns的时钟信号，每个周期的上升沿或者下降沿以100ps后移，直到接收信号通道捕捉到发送信号通道的上升沿或者下降沿的变化，并记录该时刻为Tx1...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏津，张经祥，吴艳平，
申请(专利权)人：胜达克半导体科技上海有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31