一种芯片测试机动态调试时修改、抓取AWG波形数据的方法技术

本发明专利技术涉及芯片测试机技术领域，具体地说是一种芯片测试机动态调试时修改、抓取AWG波形数据的方法。其特征在于包括如下步骤：S1，备份；S2，根据波形配置文件的参数调用数学函数产生相应的点，将点数据保存为波形文件格式；S3，设置示波器配置文件，通道触发条件；S4，编译器将波形文件编译为中间文档，装载器将中间文档载入AWG中；S5，触发芯片测试机运行；S6，示波器抓取数据，S7，保存数据；S8，恢复芯片测试机的设置和数据；S9，测试。同现有技术相比，在不改变芯片测试机原有测试程序的情况下，动态修改AWG波形数据，并用示波器抓取其波形频率以及通道之间的延时数据，解决了在测试过程中芯片测试机需要重新修改程序的问题，提高了调试效率。试效率。试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试机动态调试时修改、抓取AWG波形数据的方法


[0001]本专利技术涉及芯片测试机
，具体地说是一种芯片测试机动态调试时修改、抓取AWG波形数据的方法。

技术介绍

[0002] 在一般情况下，在对芯片测试机进行调试时，需要将测试程序写好并编译之后装载到机台硬件，如果想要更改波形数据，必须更改测试程序，然后重新编译，并且重新装载所有的内容，然后再去调试。这种操作流程多了很多没必要的步骤而浪费时间，例如，如果项目文件包含了比较大的Pattern 文件，虽然没有改动项目文件，但是项目文件也需要重新编译和装载的，那么编译、装载整个项目就会花费大量时间。
[0003]因此，设计一种芯片测试机动态调试时修改、抓取AWG波形数据的方法，解决了在测试过程中芯片测试机需要重新修改程序，重新装载程序， 运行许多不相干的测试程序才能动态调试的问题，提高了调试效率。

技术实现思路

[0004]本专利技术为克服现有技术的不足，提高一种芯片测试机动态调试时修改、抓取AWG波形数据的方法，在不改变芯片测试机原有测试程序的情况下，动态修改AWG波形数据，并用示波器抓取其波形频率以及通道之间的延时数据，解决了在测试过程中芯片测试机需要重新修改程序，重新装载程序， 运行许多不相干的测试程序才能动态调试的问题，提高了调试效率。
[0005]为实现上述目的，设计一种芯片测试机动态调试时修改、抓取AWG波形数据的方法，其特征在于包括如下步骤：S1，备份当前芯片测试机的设置和数据；S2，读取波形配置文件，根据波形配置文件的参数调用相应的数学函数产生相应的点，将产生的点数据保存为波形文件格式；S3，使用GPIB缆线将示波器和芯片测试机的计算机连接，设置示波器配置文件，并根据示波器配置文件设置示波器通道触发条件；S4，计算机中的编译器将波形文件编译为装载器可以识别的中间文档，装载器将中间文档载入到芯片测试机的AWG的存储器中；S5，触发芯片测试机运行，并根据示波器配置文件开启相应通道；S6，示波器根据设置的触发条件抓取数据，S7，保存步骤S6中抓取的数据；S8，根据步骤S1中备份的设置和数据，恢复芯片测试机的设置和数据；S9，对步骤S7中保存的数据进行测试，判断实际的波形频率、通道之间的延时数据是否满足测试要求；所述的步骤S9具体包括如下步骤：
S91，在测试配置文件中设置期望的波形频率、期望的延时数据及测试要求；S92，开始测试，将抓取的波形频率与设置的期望频率比较，判断是否满足测试要求，并记录数据；S93，将抓取的延时数据与设置的期望延时数据比较，判断是否满足测试要求，并记录数据；S94，输出步骤S92、S93中的数据及判断结果。
[0006]所述的波形配置文件包括特定波形文件的数据格式、特定波形文件的周期个数、波形幅值最大值与满量程的百分比、每个点数据需要重复的个数、波形类型，所述的特定波形文件的数据格式为二级制数或浮点数，特定波形文件的周期个数为1
‑
1024个，波形幅值最大值与满量程的百分比为1
‑
100，每个点数据需要重复的个数为0
‑ꢀ
4096个，波形类型为Sine或Cos或Ramp或 Triangle或自定义。
[0007]所述的特定波形文件的数据格式为二进制数时，波形配置文件还包括指定数据的位宽，指定数据的位宽为1
‑
32。
[0008]所述的自定义波形类型为Sin函数，Cos函数，abs函数，mid函数，round函数，sqrt函数的任意叠加。
[0009]所述的示波器配置文件包括示波器参考通道号、示波器通道号、判断该通道是否打开、最大触发次数、触发状态显示、触发电压、触发沿、运行模式，示波器参考通道号为0
‑
3，示波器通道号为0
‑
3，最大触发次数为1
‑
65535，触发电压为0
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20V，触发沿为上升沿或下降沿，运行模式为多次触发或单次触发。
[0010]所述的步骤S9中的测试配置文件包括要测试的AWG通道号、期望的波形频率、波形频率测试要求、期望的延时数据、延时数据测试要求。
[0011]本专利技术同现有技术相比，在不改变芯片测试机原有测试程序的情况下，动态修改AWG波形数据，并用示波器抓取其波形频率以及通道之间的延时数据，解决了在测试过程中芯片测试机需要重新修改程序，重新装载程序， 运行许多不相干的测试程序才能动态调试的问题，提高了调试效率。
附图说明
[0012]图1为本专利技术实施例一中产生的波形文件。
具体实施方式
[0013]实施例一：本实施例是一种芯片测试机动态调试时修改、抓取AWG波形数据的方法，具体包括如下步骤：S1，备份当前芯片测试机的设置和数据；S2，读取波形配置文件，根据波形配置文件的参数调用相应的数学函数产生相应的点，将产生的点数据保存为波形文件格式；S3，使用GPIB缆线将示波器和芯片测试机的计算机连接，设置示波器配置文件，并根据示波器配置文件设置示波器通道触发条件；S4，计算机中的编译器将波形文件编译为装载器可以识别的中间文档，装载器将
中间文档载入到芯片测试机的AWG的存储器中；S5，触发芯片测试机运行，并根据示波器配置文件开启相应通道；S6，示波器根据设置的触发条件抓取数据，S7，保存步骤S6中抓取的数据；S8，根据步骤S1中备份的设置和数据，恢复芯片测试机的设置和数据；S9，对步骤S7中保存的数据进行测试，判断实际的波形频率、通道之间的延时数据是否满足测试要求；所述的步骤S9具体包括如下步骤：S91，在测试配置文件中设置期望的波形频率、期望的延时数据及测试要求；S92，开始测试，将抓取的波形频率与设置的期望频率比较，判断是否满足测试要求，并记录数据；S93，将抓取的延时数据与设置的期望延时数据比较，判断是否满足测试要求，并记录数据；S94，输出步骤S92、S93中的数据及判断结果。
[0014]本实施例步骤S1中对芯片测试机正在运行中的数据进行备份，防止出现数据丢失的现象。
[0015]本实施例步骤S2中的波形配置文件如下所示：[文件数据格式]：Float；[指定数据位宽]：16；[波形文件的周期个数]：1024；[FullRange%]：100；[每个点数据需要重复的个数]：0；[波形类型]：自定义。
[0016]如图1所示，本实施例自定义的波形类型为周期幅值为0.5的Sin波叠加3个周期的幅值为1的Cos波形，共1024点。
[0017]点数据 = 0.5 * Sin[X * 2 * 3.14159265358979 * 1 / 1024] + 1 * Cos[ X *2 * 3.14159265358979 * 1 / 1024] 。
[0018]此处X的范围为1
‑
1024，各点对应的点数据的值即为波形的点值，保存为如图1所示的波形文件。
[0019]本实施例步骤S3中的波形配置文件如下所示：[示本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试机动态调试时修改、抓取AWG波形数据的方法，其特征在于包括如下步骤：S1，备份当前芯片测试机的设置和数据；S2，读取波形配置文件，根据波形配置文件的参数调用相应的数学函数产生相应的点，将产生的点数据保存为波形文件格式；S3，使用GPIB缆线将示波器和芯片测试机的计算机连接，设置示波器配置文件，并根据示波器配置文件设置示波器通道触发条件；S4，计算机中的编译器将波形文件编译为装载器可以识别的中间文档，装载器将中间文档载入到芯片测试机的AWG的存储器中；S5，触发芯片测试机运行，并根据示波器配置文件开启相应通道；S6，示波器根据设置的触发条件抓取数据，S7，保存步骤S6中抓取的数据；S8，根据步骤S1中备份的设置和数据，恢复芯片测试机的设置和数据；S9，对步骤S7中保存的数据进行测试，判断实际的波形频率、通道之间的延时数据是否满足测试要求；所述的步骤S9具体包括如下步骤：S91，在测试配置文件中设置期望的波形频率、期望的延时数据及测试要求；S92，开始测试，将抓取的波形频率与设置的期望频率比较，判断是否满足测试要求，并记录数据；S93，将抓取的延时数据与设置的期望延时数据比较，判断是否满足测试要求，并记录数据；S94，输出步骤S92、S93中的数据及判断结果。2.根据权利要求1所述的一种芯片测试机动态调试时修改、抓取AWG波形数据的方法，其特征在于：所述的波形配置文件包括特定波形文件的数据格式、特定波形文件的周期个数、波形幅值最大值与满量程的百分比、每个点数据需要重复的个数、波形类型，所述的特定波形文件的数据格式为二级制数或浮点数，特定波形文件的周期个数为1

【专利技术属性】
技术研发人员：魏津，张经祥，吴艳平，
申请(专利权)人：胜达克半导体科技上海有限公司，
类型：发明
国别省市：