【技术实现步骤摘要】
一种应用于自动测试机SOC芯片并行测试切换方法
[0001]本专利技术涉及半导体测试
,具体地说是一种应用于自动测试机SOC芯片并行测试切换方法。
技术介绍
[0002]系统级芯片(System
‑
on
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Chip)是指在同一颗芯片内部集成了多个不同功能的内核,每个内核都有自己的设计参数和检验指标,内核之间通过内部总线实现逻辑和数据交互。例如:机顶盒处理器就是一类典型的SOC芯片,其内部包含了强大的微处理器内核、以太网内核、音频信号编解码内核、视频信号编解码内核、内部存储器内核、外扩存储器控制内核、电源管理内核等。
[0003]不同功能内核运转的时钟速度不尽相同,例如:微处理器的外部串行数据通讯端口运行在25MHz(时钟周期为40.0ns),而其以太网端口却是基于24MHz运行(时钟周期为41.667ns)。音频编解码需要数字测试通道和音频模拟信号源加采集器的配合,而视频编解码需要数字测试通道和高频模拟信号发生器加采集器的配合。
[0004]这类复杂芯片的测试,要求自 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种应用于自动测试机SOC芯片并行测试切换方法,包括测试载具板、数字测试通道、时钟域切换电路,其特征在于:具体流程如下:S1:在测试载具板上的数据接口及MCU端连接一组数字测试通道A,在测试载具板上的以太网接口端连接一组数字测试通道B,数字测试通道B上连接时钟域切换电路;S2:设置系统时钟周期为250MHz,则数字测试通道组A的频率为250 MHz/10=25 MHz;设置模拟时钟周期为240 MHz,则数字测试通道组B的频率为240MHz/10=24 MHz;S3:测试开始时,利用数字测试通道组A对被测SOC芯片完成微处理器MCU的功能测试;利用数字测试通道组B对被测SOC芯片完成以太网内核的功能测试;S4:两项测试完成后,判断测试是否通过,是则被测SOC芯片认定合格;否则被测SOC芯片认定不合格。2.根据权利要求1所...
【专利技术属性】
技术研发人员:魏津,张经祥,徐润生,
申请(专利权)人:胜达克半导体科技上海有限公司,
类型:发明
国别省市:
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