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本发明涉及半导体测试技术领域，具体地说是一种应用于自动测试机SOC芯片并行测试切换方法。具体流程如下：S1：在测试载具板上的数据接口及MCU端连接一组数字测试通道A，在测试载具板上的以太网接口端连接一组数字测试通道B，数字测试通道B上连接时...
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