专利查询
首页
专利评估
登录
注册
惠普公司专利技术
惠普公司共有597项专利
非易失多层存储器装置制造方法及图纸
只读存储装置(100)具有多层(102,104),其中第一层(102)形成在半导体衬底(516)上面,而其他一层或多层(104)形成在第一层(102)上面。每一层具有多个非易失存储单元(118),它们包括连接在导电迹线(112,114)...
存储器结构制造技术
一种存储结构,它包括:第一电极(35、835、135、335、435、635);第二电极(37、27、139a、139b、339a、339b、439a、439b、639a、639b);第三电极(33、833、133、141、333、34...
一种制造亚光刻尺寸通路的方法技术
本发明公开了一种制造亚光刻尺寸通路(31)的方法。采用双聚合物方法形成聚合物材料叠层,其中第一聚合物层(11)具有第一蚀刻速率,第二聚合物层(13)具有第二蚀刻速率。第一蚀刻速率被预先设定为当对第一和第二聚合物层(11、13)进行各向同...
使用包含粘合增进剂的混合物来涂覆半导体衬底的方法技术
一种使用涂覆材料(202)来涂覆半导体衬底材料(201)的方法,该方法包括以下步骤:将粘合增进剂与涂覆材料(105)相混合;以及将该混合物施加到半导体衬底材料(106)上。本发明还包括用于将粘合增进剂与涂覆材料相混合的装置以及用于将粘合...
磁存储器的导体结构制造技术
本发明公开一种磁存储器的导体结构。所述导体结构包括一个或几个导体,它们的宽度小于导体与存储单元交叉方向上存储单元的尺寸。导体的厚度被预选成可减小导体的截面积因而增加导体中的电流密度。由于电流密度的增加,流经导体中的减小的电流就能产生足以...
在衬底上加工高密度亚光刻图形的方法技术
本发明公开了一种加工高密度亚光刻图形的方法。此方法包括使用普通的微电子工艺包括形成亚光刻间隔和镶嵌工艺来在衬底(11,71)所含图形的垂直侧壁面上形成一些亚光刻间隔(33,53,83,93)。此亚光刻间隔(33,53,83,93)的周期...
相变材料电子存储器结构及其成形方法技术
本发明包括一种电子存储器结构。该电子存储器结构包括衬底(410)。基本上平的第一导体(420)与该衬底(410)相邻地被形成。一个互连层(430)与该第一导体(420)相邻地被形成。相变材料元件(440)与该互连层(430)相邻地被形成...
具有串联二极管的磁随机存取存储器的三次取样读出制造技术
一种数据存储装置包括电阻存储单元(170,175)的阵列(165)。电阻存储单元(170,175)可以包括磁隧道结和薄膜二极管(260)。所述数据存储装置可以包括与所述阵列(165)电连接并且能够监测流经所选选择存储单元(175)的信号...
存储单元隔离制造技术
存储单元(100)隔离的装置及方法。存储单元(100)包括电阻部件(110),例如磁随机存取存储器(MRAM)单元(110);以及隔离部件(105),例如四层二极管(105)。存储单元(100)可以包含在存储器阵列(180)中。该方法包...
用于包含各向异性半导体薄板的写一次存储器的二极管-和-熔丝存储元件制造技术
交叉点二极管存储器的电子存储阵列(118)中采用的施予者/接受者-有机-结合薄板(606)。施予者/接受者-有机-结合薄板(606)关于电流的流动是各向异性的,而且在超过临界电流时物理上不稳定。因而,在二维存储阵列网格点上的行线(602...
具有软基准层的磁阻器件制造技术
一种磁阻器件(10)包括具有不同矫顽磁性的第一和第二铁磁层(12和14)以及第一和第二层(12和14)之间的隔离层(16)。每个铁磁层(12和14)具有在两个方向中的任何一个取向的磁化。
存储器的存储装置及其制造方法制造方法及图纸
一种存储器的存储装置(10),包括: 第一和第二存储器单元(14),每个具有顶端和底端; 第一和第二第一维导体(16),其中该第一和第二第一维导体基本上是共面并平行且在第一维上延伸,其中该第一第一维导体与该第一存储器单元的底...
用于包含各向异性半导体薄板的写一次存储器的二极管-和-熔丝存储元件制造技术
本发明公开了用于包含各向异性半导体薄板的写一次存储器的二极管-和-熔丝存储元件。交叉点二极管存储器的电子存储阵列(118)中采用的施予者/接受者-有机-结合薄板(606)。施予者/接受者-有机-结合薄板(606)关于电流的流动是各向异性...
采用中空反射器的扫描线照明系统技术方案
用于照明一个目标物(14)上的扫描区(42)的一种照明系统(10)可以包括一个中空反射器(46),该中空反射器具有一个内反射面(54)、一个入射孔径(56)、和一个出射孔径(58)。一个光源(44)设置在中空反射器(46)的入射孔径(5...
自对准电子源装置制造方法及图纸
包括用于电子发射装置的新结构和新材料的自对准电子源装置10可用于高级存储系统。装置10包括由介质层(11,15,19)分开的发射电极13、引出电极17和聚焦电极21。通过单个光刻步骤和蚀刻处理形成贯穿各电极和介质层并且在发射电极13终止...
包含阻塞寄生路径电流的共享设备的交叉点存储器阵列制造技术
一种信息存储设备(8),包括一个存储器元件(12)的电阻交叉点阵列(10)和很多用于在读操作期间阻塞阵列(10)中的寄生路径电流的设备(22,222)。每个阻塞设备(22,222)连接到阵列中的一组存储器元件(10)并为其共享。
具有低孔隙度高掺杂接触层的硅发射体制造技术
本发明涉及一种高发射电子发射体。该高发射电子发射体10包括电子注射层1、与电子注入层1接触的高孔隙度多孔硅材料的活性层3与活性层3接触的低孔隙度多孔硅材料的接触层5并包括带高掺杂区8的界面表面12、和还可有与接触层5接触的顶电极7。接触...
场增强金属绝缘体-半导体/金属绝缘体-金属电子发射器制造技术
在基于金属绝缘体半导体或者金属绝缘体金属发射器的电子发射器中,场发射结构被包括在发射器结构内。这种场发射器可以包括一个导电基底和这个导电基底上形成的一个电子供给层。这个电子供给层,例如未掺杂多晶硅,具有一些突出部分,形成在它的表面上。可...
具有负电子亲和性的注入冷发射极制造技术
冷电子发射极(200、200-1、200-2、200-3、200-12、200-13)可以包括n+重掺杂的宽带隙区(WBG)(220)、p掺杂WBG区(230)、及低功函数金属层(240)(n+-p-M结构)。此结构的改进包括p区(23...
大电流雪崩和注入隧穿半导体-介质-金属稳定冷发射极制造技术
冷电子发射极(200、200-1、200-2)包括p型重掺杂的半导体(230)、介质层(245)及金属层(240)(p-D-M结构)。此结构的改进包括p区(230)下方的n+型重掺杂区(220)(n+-p-D-M结构)。这些结构使得可兼...
首页
<<
6
7
8
9
10
11
12
>>
尾页
科研机构数量排行前10
华为技术有限公司
134485
珠海格力电器股份有限公司
99367
中国石油化工股份有限公司
87773
浙江大学
81467
三星电子株式会社
68335
中兴通讯股份有限公司
67403
国家电网公司
59735
清华大学
56623
腾讯科技深圳有限公司
54362
华南理工大学
51829
最新更新发明人
京东方科技集团股份有限公司
51234
LG电子株式会社
27726
交互数字专利控股公司
2505
日铁化学材料株式会社
428
南京逐陆医药科技有限公司
40
青庭智能科技苏州有限公司
14
思齐乐私人有限公司
12
格莱科新诺威逊私人有限公司
2
索尼互动娱乐股份有限公司
758
北京卡尤迪生物科技股份有限公司
14