本实用新型公开了自动化下压锁紧测试座，包括测试座底座，所述测试座底座中部安装有测试座插针，所述测试座底座上端两侧安装有测试座底座锁扣。有益效果在于：本实用新型通过测试座上盖、测试座弹簧、测试座插针、测试座底座、导向柱以及压块的配合设计，...

本实用新型公开了一种大体积模块器件分离式测试座，包括底座，所述底座中部安装有下针板。有益效果在于：本实用新型在使用时可将FF800R12EK7型的被测试器件倒放在底座上，以便使FF800R12EK7型的被测试器件上的插脚与测试探针接触，...

本实用新型公开了一种具有引脚保护的器件测试座，包括底座，所述底座底端中部安装有下针板，所述下针板上端固定有测试插针，所述底座内位于所述下针板上方通过固定螺栓安装有浮动托盘，所述浮动托盘底端外围与所述下针板上端之间固定有浮动弹簧。有益效果...

本实用新型公开了一种用于非对称引脚器件的锁紧座。有益效果在于：本实用新型在使用时可以直接将HZIP25型的器件本体依次插入到测试座上盖、测试座锁定推板以及测试座底座上，以便通过拨动测试座锁定扳手来实现测试座锁定推板的便捷移动，从而实现测...

本实用新型公开了一种模块器件分离式测试座，包括测试座底座，所述测试座底座的上端两侧均布有锁紧模块底座。有益效果在于：本实用新型通过测试座底座、锁紧模块底座、锁紧模块锁钩、散热器、散热条板、被测试器件、引脚、测试座探针、转轴、扭簧以及转动...

本实用新型公开了一种可用于大电流器件测试的测试座，包括测试座上盖，所述测试座上盖上端中部通过测试座旋转把手螺母连接有测试座上盖旋转把手，所述测试座上盖底端中部通过串有弹簧的螺钉固定有接触电极固定压块。有益效果在于：本实用新型在使用时只需...

本实用新型公开了陶瓷板器件测试座，包括测试座底座、测试座上盖、上盖压板和测试座中框，所述测试座底座中部安装有测试探针，所述测试座底座上侧安装有所述测试座中框，所述测试座中框一侧连接有所述测试座上盖。有益效果在于：本实用新型通过测试座上盖...

本实用新型公开了老化测试座，包括测试座上盖、测试座底座、锁扣和弹簧二，所述测试座上盖下方设置有所述测试座底座。有益效果在于：本实用新型通过锁扣、螺丝一、弹簧一、散热压块、螺丝二以及弹簧二的设计，能够在老化测试时将被测试器件连同上盖基座一...

本实用新型公开了一种可用于十字形状器件老化测试的测试座。有益效果在于：本实用新型在使用时可以直接将待测试的十字形状的被测试器件放置在测试座底座上，并通过测试座卡钩与测试座卡块配合固定来实现测试座上盖本体在测试座底座上的可靠压合固定，以便...

本实用新型公开了大电流锁紧式测试座，包括测试座底座、测试座把手、测试座压块和曲轴，所述测试座底座内安装有六个测试座探针，其中一个所述测试座探针一侧安装有外凸式的所述测试座压块。有益效果在于：本实用新型通过预先将被测试器件放置在测试座探针...

本实用新型公开了一种多引脚DCS封装器件的翻盖式测试座，包括底座、上盖和测试探针，所述底座一侧壁上安装有所述上盖，所述底座上端中部开设有卡固槽二，所述底座上端位于所述卡固槽二一侧开设有卡固槽一，所述底座上端位于所述卡固槽二另一侧开设有卡...

本实用新型一种批量测试样品的下压式探针测试座，包括底座，底座的上方设有上盖，上盖的一端与底座转动连接，上盖的底部活动连接有压块，底座的内部相对压块的位置设有探针插板，底座的内部且位于探针插板的上方可拆卸连接有器件托盘，本实用新型具有以下...

本实用新型公开了下压锁紧测试座。有益效果在于：本实用新型通过在下压锁紧座上盖上开设有滑槽，并在滑槽内安装下压锁紧座弹簧压块，同时配合复位弹簧以及锁紧片的设计，使得该测试座在使用时可以通过先将下压锁紧座上盖下压来实现下压锁紧座弹簧压块向滑...

本实用新型公开了一种芯片托盘，涉及芯片封装技术领域，包括：托盘本体，所述托盘本体具有凹槽，所述凹槽底壁上设有若干个通孔，所述通孔用于芯片上的引脚的穿入；盖板，所述盖板用于盖住托盘本体；卡扣，所述卡扣用于将盖板和托盘本体连接。在本申请中，...

本实用新型公开了一种集成电路托盘，涉及芯片封装技术领域，包括：托盘本体和用于与托盘本体配合固定集成电路主体的盖板；所述托盘本体上开设有用于嵌入集成电路主体的容纳部，所述容纳部的两侧边沿均设有若干个依次排列设置的条形槽，所述条形槽用于集成...