老化测试座制造技术

本实用新型专利技术公开了老化测试座，包括测试座上盖、测试座底座、锁扣和弹簧二，所述测试座上盖下方设置有所述测试座底座。有益效果在于：本实用新型专利技术通过锁扣、螺丝一、弹簧一、散热压块、螺丝二以及弹簧二的设计，能够在老化测试时将被测试器件连同上盖基座一起弹性压紧在测试座底座上，有效避免了被测试器件在老化测试过程中采用螺栓进行压紧的固定方式，从而避免了在被测试器件上留下压痕，方便被测试器件高效测试以及后续的正常销售，同时采用散热压块来对被测试器件进行散热，能够有效避免被测试器件在老化试过程中因长时间大电流通过所产生的热量得不到及时发散从而导致被测试器件烧损，确保了被测试器件的测试质量。确保了被测试器件的测试质量。确保了被测试器件的测试质量。

【技术实现步骤摘要】
老化测试座


[0001]本技术涉及DCS测试座
，具体涉及老化测试座。

技术介绍

[0002]DCS一般指分散控制系统，是以微处理器为基础，采用控制功能分散、显示操作集中、兼顾分而自治和综合协调的设计原则的新一代仪表控制系统。集散控制系统简称DCS，也可直译为“分散控制系统”或“分布式计算机控制系统。而一般在控制模块类的器件制造过程中常需要对控制模块类的器件进行老化性能测试。
[0003]然而目前在对控制模块类的被测试器件进行老化性能测试时主要是采用螺栓锁紧的方式来实现被测试器件的固定，该种固定方式操作较为繁琐，从而不便于被测试器件的高效测试，同时在测试后还容易在被测试器件上留下压痕，影响被测试器件后续的正常销售，此外，在被测试器件老化测试过程中容易因长时间大电流通过被测试器件所产生的热量得不到及时发散，从而导致被测试器件烧损，大大降低了被测试器件的测试质量，因此急需一种新型的老化测试座来解决上述问题。

技术实现思路

[0004](一)要解决的技术问题
[0005]为了克服现有技术不足，现提出老化测试座，解决了目前在对控制模块类的被测试器件进行老化性能测试时主要是采用螺栓锁紧的方式来实现被测试器件的固定，该种固定方式操作较为繁琐，从而不便于被测试器件的高效测试，同时在测试后还容易在被测试器件上留下压痕，影响被测试器件后续的正常销售，此外，在被测试器件老化测试过程中容易因长时间大电流通过被测试器件所产生的热量得不到及时发散，从而导致被测试器件烧损，大大降低了被测试器件的测试质量的问题。
[0006](二)技术方案
[0007]本技术通过如下技术方案实现：本技术提出了老化测试座，包括测试座上盖、测试座底座、锁扣和弹簧二，所述测试座上盖下方设置有所述测试座底座，所述测试座上盖与所述测试座底座之间安装有被测试器件，所述测试座上盖包括上盖基座、通过螺丝一对称安装在所述上盖基座两侧的所述锁扣、安装在所述锁扣与所述上盖基座之间的弹簧一、通过螺丝二安装在所述上盖基座上端中部的散热压块以及安装在所述螺丝二与所述散热压块之间的所述弹簧二，所述测试座底座包括底座器件框、固定在所述底座器件框中部的插针固定板以及安装在所述插针固定板上的测试插针。
[0008]进一步的，所述螺丝一与所述上盖基座螺纹连接，所述螺丝一贯穿所述锁扣，且所述锁扣能够相对于所述螺丝一转动。
[0009]通过采用上述技术方案，所述螺丝一能够为所述锁扣在转动时提供支撑，从而确保所述锁扣的开合时的正常拨动。
[0010]进一步的，所述锁扣有两个，所述弹簧一与所述上盖基座以及所述锁扣均挂钩连
接。
[0011]通过采用上述技术方案，所述弹簧一能够实现所述锁扣在闭合时与所述测试座底座可靠压紧固定，以实现所述测试座上盖的可靠闭合。
[0012]进一步的，所述螺丝二贯穿所述散热压块，所述螺丝二与所述上盖基座螺纹连接。
[0013]通过采用上述技术方案，所述散热压块在压合时能够相对所述螺丝二的杆部进行上下滑动，以便实现被测试器件的可靠安装固定，此时所述弹簧二处于压缩状态，当老化测试完且所述测试座上盖取出后，所述弹簧二能够实现所述散热压块的自动复位。
[0014]进一步的，所述螺丝二贯穿所述弹簧二，所述弹簧二上端与所述螺丝二接触，所述弹簧二底端与所述散热压块接触。
[0015]通过采用上述技术方案，所述螺丝二一方面能够实现所述散热压块相对所述上盖基座的可靠固定，另一方面所述螺丝二能够确保所述散热压块在安装时的便捷上下滑动。
[0016]进一步的，所述插针固定板与所述底座器件框螺丝固定，所述测试插针与所述插针固定板过盈配合，且所述测试插针贯穿所述插针固定板。
[0017]通过采用上述技术方案，所述测试插针在测试时直接与所述被测试器件上的引脚接触，以便与外部设备配合实现所述被测试器件老化性能的测试。
[0018]进一步的，所述测试座底座上与所述锁扣相连处采用卡台状结构，同时所述测试座底座上端还预留有对所述被测试器件进行限位的凸台。
[0019]通过采用上述技术方案，能够确保所述被测试器件在所述测试座底座上的的快速精准安装。
[0020](三)有益效果
[0021]本技术相对于现有技术，具有以下有益效果：
[0022]为解决目前在对控制模块类的被测试器件进行老化性能测试时主要是采用螺栓锁紧的方式来实现被测试器件的固定，该种固定方式操作较为繁琐，从而不便于被测试器件的高效测试，同时在测试后还容易在被测试器件上留下压痕，影响被测试器件后续的正常销售，此外，在被测试器件老化测试过程中容易因长时间大电流通过被测试器件所产生的热量得不到及时发散，从而导致被测试器件烧损，大大降低了被测试器件的测试质量的问题，本技术通过锁扣、螺丝一、弹簧一、散热压块、螺丝二以及弹簧二的设计，能够在老化测试时将被测试器件连同上盖基座一起弹性压紧在测试座底座上，有效避免了被测试器件在老化测试过程中采用螺栓进行压紧的固定方式，从而避免了在被测试器件上留下压痕，方便被测试器件高效测试以及后续的正常销售，同时采用散热压块来对被测试器件进行散热，能够有效避免被测试器件在老化试过程中因长时间大电流通过所产生的热量得不到及时发散从而导致被测试器件烧损，确保了被测试器件的测试质量。
附图说明
[0023]图1是本技术所述老化测试座的结构示意图；
[0024]图2是本技术所述老化测试座的主剖视图；
[0025]图3是本技术所述老化测试座的仰视图；
[0026]图4是本技术所述老化测试座中测试座底座的结构示意图。
[0027]附图标记说明如下：
[0028]1、测试座上盖；101、上盖基座；102、螺丝二；103、散热压块；104、弹簧二；105、弹簧一；106、锁扣；107、螺丝一；2、测试座底座；201、底座器件框；202、测试插针；203、插针固定板；3、被测试器件。
具体实施方式
[0029]为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
[0030]如图1
‑
图4所示，本实施例中的老化测试座，包括测试座上盖1、测试座底座2、锁扣106和弹簧二104，测试座上盖1下方设置有测试座底座2，测试座上盖1与测试座底座2之间安装有被测试器件3，测试座上盖1包括上盖基座101、通过螺丝一107对称安装在上盖基座101两侧的锁扣106、安装在锁扣106与上盖基座101之间的弹簧一105、通过螺丝二102安装在上盖基座101上端中部的散热压块103以及安装在螺丝二102与散热压块103之间的弹簧二104，螺丝一107能够为锁扣106在转动时提供支撑，从而确保锁扣106的开合时的正常拨动，散热压块103在压合时能够相对螺丝二102的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.老化测试座，其特征在于：包括测试座上盖(1)、测试座底座(2)、锁扣(106)和弹簧二(104)，所述测试座上盖(1)下方设置有所述测试座底座(2)，所述测试座上盖(1)与所述测试座底座(2)之间安装有被测试器件(3)，所述测试座上盖(1)包括上盖基座(101)、通过螺丝一(107)对称安装在所述上盖基座(101)两侧的所述锁扣(106)、安装在所述锁扣(106)与所述上盖基座(101)之间的弹簧一(105)、通过螺丝二(102)安装在所述上盖基座(101)上端中部的散热压块(103)以及安装在所述螺丝二(102)与所述散热压块(103)之间的所述弹簧二(104)，所述测试座底座(2)包括底座器件框(201)、固定在所述底座器件框(201)中部的插针固定板(203)以及安装在所述插针固定板(203)上的测试插针(202)。2.根据权利要求1所述的老化测试座，其特征在于：所述螺丝一(107)与所述上盖基座(101)螺纹连接，所述螺丝一(107)贯穿所述锁扣(106)，且所述锁扣(106)能够相对于所述螺丝一(107...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱永汉，朱雨帆，
申请(专利权)人：杭州瑞来电子有限公司，
类型：新型
国别省市：