一种多引脚DCS封装器件的翻盖式测试座制造技术

本实用新型专利技术公开了一种多引脚DCS封装器件的翻盖式测试座，包括底座、上盖和测试探针，所述底座一侧壁上安装有所述上盖，所述底座上端中部开设有卡固槽二，所述底座上端位于所述卡固槽二一侧开设有卡固槽一，所述底座上端位于所述卡固槽二另一侧开设有卡固槽三。有益效果在于：本实用新型专利技术通过上盖、底座以及测试探针之间的配合，使得该测试座在使用时能够通过将DCS器件压在底座上来经测试探针实现DCS器件的便捷测量，确保了DCS器件的测试效率，同时在测试后DCS器件上的引脚不会损坏，方便DCS器件后续的正常加工使用，节省了DCS器件的生产成本，此外在测试后该测试座可以继续进行多次测试使用，大大提高了该测试座的使用效率。大大提高了该测试座的使用效率。大大提高了该测试座的使用效率。

【技术实现步骤摘要】
一种多引脚DCS封装器件的翻盖式测试座


[0001]本技术涉及
，具体涉及一种多引脚DCS封装器件的翻盖式测试座。

技术介绍

[0002]DCS(分散控制系统)是以微处理器为基础，采用控制功能分散、显示操作集中、兼顾分而自治和综合协调的设计原则的新一代仪表控制系统它采用控制分散、操作和管理集中的基本设计思想，采用多层分级、合作自治的结构形式。其主要特征是它的集中管理和分散控制。DCS在电力、冶金、石化等各行各业都获得了极其广泛的应用。一般在DCS器件生产时需要对DCS器件进行测试。
[0003]然而目前在对引脚较长的DCS器件进行测试时主要是将器件直接焊接于线路板上进行测试，一方面在测试时DCS器件的固定过程较为繁琐，从而导致DCS器件的测试效率较为低下，另一方面采用该种测试方式会导致被测试的器件将无法继续进行加工，大大增加了DCS器件的生产成本，同时测试后的部件多是直接报废，无法多次重复利用，因此急需一种多引脚DCS封装器件的翻盖式测试座来解决上述问题。

技术实现思路

[0004](一)要解决的技术问题
[0005]为了克服现有技术不足，现提出一种多引脚DCS封装器件的翻盖式测试座，解决了目前在对引脚较长的DCS器件进行测试时主要是将器件直接焊接于线路板上进行测试，一方面在测试时DCS器件的固定过程较为繁琐，从而导致DCS器件的测试效率较为低下，另一方面采用该种测试方式会导致被测试的器件将无法继续进行加工，大大增加了DCS器件的生产成本，同时测试后的部件多是直接报废，无法多次重复利用的问题。
[0006](二)技术方案
[0007]本技术通过如下技术方案实现：本技术提出了一种多引脚DCS封装器件的翻盖式测试座，包括底座、上盖和测试探针，所述底座一侧壁上安装有所述上盖，所述底座上端中部开设有卡固槽二，所述底座上端位于所述卡固槽二一侧开设有卡固槽一，所述底座上端位于所述卡固槽二另一侧开设有卡固槽三，所述卡固槽一、所述卡固槽二以及所述卡固槽三内均安装有所述测试探针，所述上盖包括盖体、安装在所述盖体正对所述底座的侧壁上的压板以及安装在所述盖体一侧壁上的卡钩，所述底座上正对所述卡钩处安装有卡板。
[0008]进一步的，所述上盖与所述底座转动连接，所述盖体与所述压板螺钉连接，所述卡钩成型于所述盖体上。
[0009]通过采用上述技术方案，所述卡钩与所述卡板卡合能够实现所述上盖的可靠闭合，从而实现所述底座上DCS器件的可靠压紧固定。
[0010]进一步的，所述盖体以及所述卡钩均采用铝合金制成，所述压板采用PEEK塑料制成。
[0011]通过采用上述技术方案，能够确保所述上盖与所述DCS器件接触部位的绝缘性。
[0012]进一步的，所述卡固槽一、所述卡固槽二以及所述卡固槽三均成型于所述底座上，且所述卡固槽二的深度大于所述卡固槽一的深度以及所述卡固槽三的深度。
[0013]通过采用上述技术方案，所述卡固槽一、所述卡固槽二以及所述卡固槽三的尺寸与DCS器件的尺寸相匹配，方便DCS器件的便捷放置。
[0014]进一步的，所述底座采用PEEK塑料制成，所述卡板成型于所述底座上。
[0015]通过采用上述技术方案，能够确保所述底座上与DCS器件接触部位的绝缘性。
[0016]进一步的，所述测试探针与所述卡固槽一、所述卡固槽二以及所述卡固槽三均插接，所述测试探针采用铍铜制成。
[0017]通过采用上述技术方案，所述测试探针为实现DCS器件测量的主要部件。
[0018](三)有益效果
[0019]本技术相对于现有技术，具有以下有益效果：
[0020]为解决目前在对引脚较长的DCS器件进行测试时主要是将器件直接焊接于线路板上进行测试，一方面在测试时DCS器件的固定过程较为繁琐，从而导致DCS器件的测试效率较为低下，另一方面采用该种测试方式会导致被测试的器件将无法继续进行加工，大大增加了DCS器件的生产成本，同时测试后的部件多是直接报废，无法多次重复利用的问题，本技术通过上盖、底座以及测试探针之间的配合，使得该测试座在使用时能够通过将DCS器件压在底座上来经测试探针实现DCS器件的便捷测量，确保了DCS器件的测试效率，同时在测试后DCS器件上的引脚不会损坏，方便DCS器件后续的正常加工使用，节省了DCS器件的生产成本，此外在测试后该测试座可以继续进行多次测试使用，大大提高了该测试座的使用效率。
附图说明
[0021]图1是本技术所述一种多引脚DCS封装器件的翻盖式测试座在上盖翻开时的结构示意图；
[0022]图2是本技术所述一种多引脚DCS封装器件的翻盖式测试座在上盖翻开时的仰视图。
[0023]附图标记说明如下：
[0024]1、上盖；101、盖体；102、卡钩；103、压板；2、底座；3、卡固槽二；4、卡板；5、测试探针；6、卡固槽一；7、卡固槽三。
具体实施方式
[0025]为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
[0026]如图1
‑
图2所示，本实施例中的一种多引脚DCS封装器件的翻盖式测试座，包括底座2、上盖1和测试探针5，底座2采用PEEK塑料制成，底座2一侧壁上安装有上盖1，底座2上端中部开设有卡固槽二3，底座2上端位于卡固槽二3一侧开设有卡固槽一6，底座2上端位于卡固槽二3另一侧开设有卡固槽三7，卡固槽二3的深度大于卡固槽一6的深度以及卡固槽三7
的深度，卡固槽一6、卡固槽二3以及卡固槽三7的尺寸与DCS器件的尺寸相匹配，方便DCS器件的便捷放置，卡固槽一6、卡固槽二3以及卡固槽三7内均安装有测试探针5，上盖1包括盖体101、安装在盖体101正对底座2的侧壁上的压板103以及安装在盖体101一侧壁上的卡钩102，底座2上正对卡钩102处安装有卡板4，卡钩102与卡板4卡合能够实现上盖1的可靠闭合，从而实现底座2上DCS器件的可靠压紧固定。
[0027]如图1
‑
图2所示，本实施例中，上盖1与底座2转动连接，盖体101与压板103螺钉连接，卡钩102成型于盖体101上，盖体101以及卡钩102均采用铝合金制成，压板103采用PEEK塑料制成，能够确保上盖1与DCS器件接触部位的绝缘性，卡固槽一6、卡固槽二3以及卡固槽三7均成型于底座2上。
[0028]如图1
‑
图2所示，本实施例中，卡板4成型于底座2上，能够确保底座2上与DCS器件接触部位的绝缘性，测试探针5与卡固槽一6、卡固槽二3以及卡固槽三7均插接，测试探针5采用铍铜制成，测试探针5为实现DCS器件测量的主要部件。
[0029]本实施例的具体实施过程如下：使用时首先将待测试的DCS器件放置在卡固槽一6、卡固槽二3以及卡固槽三7内，并使本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多引脚DCS封装器件的翻盖式测试座，其特征在于：包括底座(2)、上盖(1)和测试探针(5)，所述底座(2)一侧壁上安装有所述上盖(1)，所述底座(2)上端中部开设有卡固槽二(3)，所述底座(2)上端位于所述卡固槽二(3)一侧开设有卡固槽一(6)，所述底座(2)上端位于所述卡固槽二(3)另一侧开设有卡固槽三(7)，所述卡固槽一(6)、所述卡固槽二(3)以及所述卡固槽三(7)内均安装有所述测试探针(5)，所述上盖(1)包括盖体(101)、安装在所述盖体(101)正对所述底座(2)的侧壁上的压板(103)以及安装在所述盖体(101)一侧壁上的卡钩(102)，所述底座(2)上正对所述卡钩(102)处安装有卡板(4)。2.根据权利要求1所述的一种多引脚DCS封装器件的翻盖式测试座，其特征在于：所述上盖(1)与所述底座(2)转动连接，所述盖体(101)与所述压板(103)螺钉连接，所述卡钩(102)...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱雨帆，
申请(专利权)人：杭州瑞来电子有限公司，
类型：新型
国别省市：