一种用于非对称引脚器件的锁紧座制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于非对称引脚器件的锁紧座。有益效果在于：本实用新型专利技术在使用时可以直接将HZIP25型的器件本体依次插入到测试座上盖、测试座锁定推板以及测试座底座上，以便通过拨动测试座锁定扳手来实现测试座锁定推板的便捷移动，从而实现测试座探针与HZIP25型器件本体上引脚的充分接触，方便对HZIP25型器件本体进行高效测试，由于整个测试过程中只需通过拨动以及拔插方式便可实现HZIP25型器件本体的便捷拆装，从而有效避免了HZIP25型器件本体在测试过程中的损坏，便于HZIP25型器件本体后续的生产销售，降低了测试成本，同时使得整个测试座可以多次重复使用，确保了HZIP25型器件本体的测试效率。确保了HZIP25型器件本体的测试效率。确保了HZIP25型器件本体的测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种用于非对称引脚器件的锁紧座


[0001]本技术涉及HZIP25器件测试
，具体涉及一种用于非对称引脚器件的锁紧座。

技术介绍

[0002]HZIP25器件是一种针脚排布不同于一般DIP系列器件的封装，其电路封装偏向于两排引脚的一侧，HZIP25器件在生产时需要对其性能进行测试。
[0003]目前的封装器件测试座一般均为DIP系列测试座，该种结构的测试座主要是用于对引脚对称分布的封装器件进行测试，而对于引脚不对称分布的HZIP25器件，目前的封装器件测试座没有办法使用，同时由于HZIP25器件引脚排布密集而且整体比较长，使用焊接测试会导致拆装困难并引起器件引脚变形，不利于HZIP25器件的后续生产销售，从而使得HZIP25器件的测试效率较为低下，测试成本较高。

技术实现思路

[0004](一)要解决的技术问题
[0005]本技术所要解决的技术问题是针对现有技术的现状，提供一种测试效率高，且能够多次重复使用，降低HZIP25器件测试成本的用于非对称引脚器件的锁紧座。
[0006](二)技术方案
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于非对称引脚器件的锁紧座，其特征在于：包括测试座底座（5），所述测试座底座（5）上端中部安装有测试座锁定推板（4），所述测试座锁定推板（4）内两侧固定有滑柱（8），所述测试座底座（5）上与所述滑柱（8）配合部位开设有滑槽（9），所述测试座底座（5）上位于所述测试座锁定推板（4）一侧安装有测试座锁定扳手（2），所述测试座底座（5）上方固定有测试座上盖（3），所述测试座上盖（3）以及所述测试座底座（5）上与所述测试座锁定扳手（2）配合处均开设有拨槽（7），所述测试座底座（5）中部安装有Y型结构的测试座插针（6）。2.根据权利要求1所述的一种用于非对称引脚器件的锁紧座，其特征在于：所述测试座上盖（3）上端一侧安装有器件本体（1），且所述器件本体（1）贯穿所述测试座上盖（3）。3.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱雨帆，朱永汉，
申请(专利权)人：杭州瑞来电子有限公司，
类型：新型
国别省市：