一种用于非对称引脚器件的锁紧座制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于非对称引脚器件的锁紧座。有益效果在于：本实用新型专利技术在使用时可以直接将HZIP25型的器件本体依次插入到测试座上盖、测试座锁定推板以及测试座底座上，以便通过拨动测试座锁定扳手来实现测试座锁定推板的便捷移动，从而实现测试座探针与HZIP25型器件本体上引脚的充分接触，方便对HZIP25型器件本体进行高效测试，由于整个测试过程中只需通过拨动以及拔插方式便可实现HZIP25型器件本体的便捷拆装，从而有效避免了HZIP25型器件本体在测试过程中的损坏，便于HZIP25型器件本体后续的生产销售，降低了测试成本，同时使得整个测试座可以多次重复使用，确保了HZIP25型器件本体的测试效率。确保了HZIP25型器件本体的测试效率。确保了HZIP25型器件本体的测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种用于非对称引脚器件的锁紧座


[0001]本技术涉及HZIP25器件测试
，具体涉及一种用于非对称引脚器件的锁紧座。

技术介绍

[0002]HZIP25器件是一种针脚排布不同于一般DIP系列器件的封装，其电路封装偏向于两排引脚的一侧，HZIP25器件在生产时需要对其性能进行测试。
[0003]目前的封装器件测试座一般均为DIP系列测试座，该种结构的测试座主要是用于对引脚对称分布的封装器件进行测试，而对于引脚不对称分布的HZIP25器件，目前的封装器件测试座没有办法使用，同时由于HZIP25器件引脚排布密集而且整体比较长，使用焊接测试会导致拆装困难并引起器件引脚变形，不利于HZIP25器件的后续生产销售，从而使得HZIP25器件的测试效率较为低下，测试成本较高。

技术实现思路

[0004](一)要解决的技术问题
[0005]本技术所要解决的技术问题是针对现有技术的现状，提供一种测试效率高，且能够多次重复使用，降低HZIP25器件测试成本的用于非对称引脚器件的锁紧座。
[0006](二)技术方案
[0007]本技术通过如下技术方案实现：本技术提出了一种用于非对称引脚器件的锁紧座，包括测试座底座，所述测试座底座上端中部安装有测试座锁定推板，所述测试座锁定推板内两侧固定有滑柱，所述测试座底座上与所述滑柱配合部位开设有滑槽，所述测试座底座上位于所述测试座锁定推板一侧安装有测试座锁定扳手，所述测试座底座上方固定有测试座上盖，所述测试座上盖以及所述测试座底座上与所述测试座锁定扳手配合处均开设有拨槽，所述测试座底座中部安装有Y型结构的测试座插针。
[0008]进一步的，所述测试座上盖上端一侧安装有器件本体，且所述器件本体贯穿所述测试座上盖。
[0009]通过采用上述技术方案，所述器件本体为引脚非对称结构的HZIP25型封装器件。
[0010]进一步的，所述滑柱与所述测试座锁定推板插接，所述滑柱与所述滑槽滑动连接。
[0011]通过采用上述技术方案，在所述滑柱与所述滑槽的配合下能够实现所述测试座锁定推板在所述测试座底座上的稳定滑动。
[0012]进一步的，所述测试座锁定扳手采用折弯型结构，且所述测试座锁定扳手正对所述测试座锁定推板的部位为曲轴结构。
[0013]通过采用上述技术方案，所述测试座锁定扳手上的直杆部在竖向状态时所述测试座锁定推板是处于放松状态的，也就是说此时所述测试座插针不会与所述器件本体的引脚充分接触，当所述测试座锁定扳手的直杆部在水平状态，则所述测试座锁定推板是处于锁紧状态的，也就说此时所述测试座插针会紧紧抱住所述器件本体上的引脚，从而便于对所
述器件本体进行测试。
[0014]进一步的，所述测试座插针与所述测试座底座插接，所述测试座插针与所述器件本体上的引脚一一对应。
[0015]通过采用上述技术方案，这样设计能够确保所述器件本体在安装后确保所述测试座插针与所述器件本体引脚的充分接触。
[0016]进一步的，所述测试座上盖与所述测试座底座螺栓连接，所述器件本体依次贯穿所述测试座上盖以及所述测试座锁定推板。
[0017]通过采用上述技术方案，这样设计能够实现HZIP25型的器件本体的稳定安装。
[0018](三)有益效果
[0019]本技术相对于现有技术，具有以下有益效果：
[0020]为解决目前的封装器件测试座一般均为DIP系列测试座，该种结构的测试座主要是用于对引脚对称分布的封装器件进行测试，而对于引脚不对称分布的HZIP25器件，目前的封装器件测试座没有办法使用，同时由于HZIP25器件引脚排布密集而且整体比较长，使用焊接测试会导致拆装困难并引起器件引脚变形，不利于HZIP25器件的后续生产销售，从而使得HZIP25器件的测试效率较为低下，测试成本较高的问题，本技术在使用时可以直接将HZIP25型的器件本体依次插入到测试座上盖、测试座锁定推板以及测试座底座上，以便通过拨动测试座锁定扳手来实现测试座锁定推板的便捷移动，从而实现测试座探针与HZIP25型器件本体上引脚的充分接触，方便对HZIP25型器件本体进行高效测试，由于整个测试过程中只需通过拨动以及拔插方式便可实现HZIP25型器件本体的便捷拆装，从而有效避免了HZIP25型器件本体在测试过程中的损坏，便于HZIP25型器件本体后续的生产销售，降低了测试成本，同时使得整个测试座可以多次重复使用，确保了HZIP25型器件本体的测试效率。
附图说明
[0021]图1是本技术所述一种用于非对称引脚器件的锁紧座的结构示意图；
[0022]图2是本技术所述一种用于非对称引脚器件的锁紧座的仰视图；
[0023]图3是本技术所述一种用于非对称引脚器件的锁紧座的左剖视图；
[0024]图4是本技术所述一种用于非对称引脚器件的锁紧座中测试座锁定扳手的主视图；
[0025]图5是本技术所述一种用于非对称引脚器件的锁紧座中测试座底座、测试座锁定推板以及测试座锁定扳手的连接结构示意图。
[0026]附图标记说明如下：
[0027]1、器件本体；2、测试座锁定扳手；3、测试座上盖；4、测试座锁定推板；5、测试座底座；6、测试座插针；7、拨槽；8、滑柱；9、滑槽。
具体实施方式
[0028]为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
[0029]如图1
‑
图5所示，本实施例中的一种用于非对称引脚器件的锁紧座，包括测试座底座5，测试座底座5上端中部安装有测试座锁定推板4，测试座锁定推板4内两侧固定有滑柱8，测试座底座5上与滑柱8配合部位开设有滑槽9，测试座底座5上位于测试座锁定推板4一侧安装有测试座锁定扳手2，测试座底座5上方固定有测试座上盖3，测试座上盖3以及测试座底座5上与测试座锁定扳手2配合处均开设有拨槽7，测试座底座5中部安装有Y型结构的测试座插针6，测试座锁定扳手2采用折弯型结构，且测试座锁定扳手2正对测试座锁定推板4的部位为曲轴结构，测试座锁定扳手2上的直杆部在竖向状态时测试座锁定推板4是处于放松状态的，也就是说此时测试座插针6不会与器件本体1的引脚充分接触，当测试座锁定扳手2的直杆部在水平状态，则测试座锁定推板4是处于锁紧状态的，也就说此时测试座插针6会紧紧抱住器件本体1上的引脚，从而便于对器件本体1进行测试。
[0030]如图1
‑
图5所示，本实施例中，测试座上盖3上端一侧安装有器件本体1，且器件本体1贯穿测试座上盖3，器件本体1为引脚非对称结构的HZIP25型封装器件，测试座上盖3与测试座底座5螺栓连接，器件本体1依次贯穿测试座上盖3以及测试座锁定推板4，这样设计能够实现HZIP25型的器件本体1的稳定安装。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于非对称引脚器件的锁紧座，其特征在于：包括测试座底座（5），所述测试座底座（5）上端中部安装有测试座锁定推板（4），所述测试座锁定推板（4）内两侧固定有滑柱（8），所述测试座底座（5）上与所述滑柱（8）配合部位开设有滑槽（9），所述测试座底座（5）上位于所述测试座锁定推板（4）一侧安装有测试座锁定扳手（2），所述测试座底座（5）上方固定有测试座上盖（3），所述测试座上盖（3）以及所述测试座底座（5）上与所述测试座锁定扳手（2）配合处均开设有拨槽（7），所述测试座底座（5）中部安装有Y型结构的测试座插针（6）。2.根据权利要求1所述的一种用于非对称引脚器件的锁紧座，其特征在于：所述测试座上盖（3）上端一侧安装有器件本体（1），且所述器件本体（1）贯穿所述测试座上盖（3）。3.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱雨帆，朱永汉，
申请(专利权)人：杭州瑞来电子有限公司，
类型：新型
国别省市：