【技术实现步骤摘要】
本技术涉及dfn器件测试，具体涉及器件翻盖测试座。
技术介绍
1、dfn器件在生产后，为了对dfn器件的性能进行把控，常需借助器件测试座来对dnf器件的性能进行测试。
2、目前由于17145102类dfn器件为特殊规格集成电路封装，采用标准的测试座无法实现对17145102类dfn器件的正常测试，而采用贴片板的方式进行器件测试，会导致器件的引脚出现损坏，使得测试后的17145102类dfn器件无法用于销售以及后续生产过程，同时也使得17145102类dfn器件的测试过程较为繁琐，测试效率较为低下。
技术实现思路
1、(一)要解决的技术问题
2、本技术所要解决的技术问题是针对现有技术的现状，提供一种能够多次重复测试使用，测试效率高的器件翻盖测试座。
3、(二)技术方案
4、本技术通过如下技术方案实现：本技术提出了器件翻盖测试座，包括测试座底座，所述测试座底座上端中部一侧安装有定位凸块，所述测试座底座上端位于所述定位凸块两侧对称安装有两排测试座插...
【技术保护点】
1.器件翻盖测试座，其特征在于：包括测试座底座(4)，所述测试座底座(4)上端中部一侧安装有定位凸块(6)，所述测试座底座(4)上端位于所述定位凸块(6)两侧对称安装有两排测试座插针(5)，所述测试座插针(5)包括直杆部(501)、安装在所述直杆部(501)顶端的环杆部(502)以及安装在所述环杆部(502)顶端的顶紧部(503)，所述测试座底座(4)上端位于所述测试座插针(5)处放置有被测器件(1)，所述测试座底座(4)上端一侧还通过转动轴(3)连接有测试座上盖(2)。
2.根据权利要求1所述的器件翻盖测试座，其特征在于：所述测试座上盖(2)上端一侧内通...
【技术特征摘要】
1.器件翻盖测试座，其特征在于：包括测试座底座(4)，所述测试座底座(4)上端中部一侧安装有定位凸块(6)，所述测试座底座(4)上端位于所述定位凸块(6)两侧对称安装有两排测试座插针(5)，所述测试座插针(5)包括直杆部(501)、安装在所述直杆部(501)顶端的环杆部(502)以及安装在所述环杆部(502)顶端的顶紧部(503)，所述测试座底座(4)上端位于所述测试座插针(5)处放置有被测器件(1)，所述测试座底座(4)上端一侧还通过转动轴(3)连接有测试座上盖(2)。
2.根据权利要求1所述的器件翻盖测试座，其特征在于：所述测试座上盖(2)上端一侧内通过卡簧轴(8)连接有卡板(7)，所述测试座底座(4)上背对所述转动轴(3)一侧预留有与所述卡板(7)配合的卡台(9)。
3.根据权利要求1所述的器件翻盖测试座，其特征在于：所述测...
【专利技术属性】
技术研发人员：朱雨帆，朱永汉，
申请(专利权)人：杭州瑞来电子有限公司，
类型：新型
国别省市：
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