一种具有引脚保护的器件测试座制造技术

本实用新型专利技术公开了一种具有引脚保护的器件测试座，包括底座，所述底座底端中部安装有下针板，所述下针板上端固定有测试插针，所述底座内位于所述下针板上方通过固定螺栓安装有浮动托盘，所述浮动托盘底端外围与所述下针板上端之间固定有浮动弹簧。有益效果在于：本实用新型专利技术通过在测试座的底座上增设浮动托盘以及浮动弹簧，当CQFP162器件在该测试座上固定时在浮动弹簧作用下能够始终确保浮动托盘与CQFP162器件上的引脚接触，以对CQFP162器件上的引脚处提供可靠支撑，这样设计能够有效避免上盖在闭合过程中将CQFP162器件上的引脚压坏，提高该测试座在对CQFP162器件测试时的效率，同时由于避免了CQFP162器件在测试后的损坏报废，从而大大节省CQFP162器件的测试成本。从而大大节省CQFP162器件的测试成本。从而大大节省CQFP162器件的测试成本。

【技术实现步骤摘要】
一种具有引脚保护的器件测试座


[0001]本技术涉及CQFP162器件性能测试
，具体涉及一种具有引脚保护的器件测试座。

技术介绍

[0002]CQFP162是一种中间为矩形，四周布满铍铜引脚的器件，具有引脚强度低，排布密集的特点，CQFP162器件在生产后需要采用测试座来将CQFP162器件进行固定测试。
[0003]目前用于对CQFP162器件进行测试的测试座主要由一个上盖、一个下盖以及安装在下盖上的测试针板构成，该种结构的测试座在对CQFP162器件进行测试时是直接将CQFP162器件放置在测试座上，然后再将测试座上盖压合来实现CQFP162器件在该测试座上的固定，从而方便后续通过测试座来对CQFP162性能进行测试，虽然上述结构的测试座能够实现对CQFP162的测试，但是在测试过程中CQFP162器件的引脚处多为悬空状态，当压合上盖时极易造成CQFP162器件上引脚的压弯，这会导致CQFP162器件在测试后严重损坏，无法再正常使用，从而大大降低了测试座对CQFP162器件的测试效率，增加了CQFP162器件测试成本。

技术实现思路

[0004](一)要解决的技术问题
[0005]本技术所要解决的技术问题是针对现有技术的现状，提供一种具有引脚保护功能，且能够提高CQFP162器件测试效率的器件测试座。
[0006](二)技术方案
[0007]本技术通过如下技术方案实现：本技术提出了一种具有引脚保护的器件测试座，包括底座，所述底座底端中部安装有下针板，所述下针板上端固定有测试插针，所述底座内位于所述下针板上方通过固定螺栓安装有浮动托盘，所述浮动托盘底端外围与所述下针板上端之间固定有浮动弹簧，所述浮动托盘上端安装有器件本体。
[0008]进一步的，所述下针板与所述底座螺栓连接，所述测试插针所述下针板过盈配合固定。
[0009]通过采用上述技术方案，所述测试插针能够与所述器件本体上的引脚接通，以便在该测试座与外部测试设备接通后实现对所述器件本体的便捷测试。
[0010]进一步的，所述浮动弹簧顶端与所述浮动托盘插接，所述浮动弹簧底端与所述下针板插接。
[0011]通过采用上述技术方案，在所述浮动弹簧作用下能够确保所述浮动托盘的便捷顶起。
[0012]进一步的，所述固定螺栓贯穿所述浮动托盘，所述固定螺栓与所述下针板旋接，且所述浮动托盘上的安装孔径大于所述固定螺栓的杆径但小于所述固定螺栓的螺栓头直径。
[0013]通过采用上述技术方案，这样设计不会将所述浮动托盘固定死，也就是说在所述
器件本体放到所述浮动托盘上后，当测试座闭合时在所述浮动托盘作用下可以为所述器件本体的引脚处提供可靠支撑，并且因为所述浮动托盘在测试座闭合时会向下运动，在为被测试器件提供支撑的同时，也保护了被测试器件。
[0014]进一步的，所述器件本体与所述浮动托盘搭接，所述浮动托盘上开设有用于对所述器件本体上引脚保护的凹槽，所述器件本体为CQFP162型的测试器件。
[0015]通过采用上述技术方案，这样设计使得该测试座在使用时能够有效的对所述器件本体进行支撑防护，从而避免在测试过程中所述器件本体上的引脚压弯损坏。
[0016]进一步的，所述底座上端一侧转动连接有上盖，所述上盖正对所述底座的侧壁上固定有方形框状结构的压块，所述上盖上位于所述压块一侧安装有锁钩，所述底座上与所述锁钩配合部位开设有锁槽。
[0017]通过采用上述技术方案，当所述上盖闭合后通过所述锁钩与所述锁槽的卡合作用可以实现所述上盖的可靠闭合。
[0018]进一步的，所述锁钩与所述上盖转动连接，且所述压块与所述上盖螺栓连接。
[0019]通过采用上述技术方案，在所述压块作用下能够将所述器件本体可靠下压，以确保测试时所述测试插针与所述器件本体的可靠接触。
[0020](三)有益效果
[0021]本技术相对于现有技术，具有以下有益效果：
[0022]为解决目前用于对CQFP162器件进行测试的测试座主要由一个上盖、一个下盖以及安装在下盖上的测试针板构成，该种结构的测试座在对CQFP162器件进行测试时是直接将CQFP162器件放置在测试座上，然后再将测试座上盖压合来实现CQFP162器件在该测试座上的固定，从而方便后续通过测试座来对CQFP162性能进行测试，虽然上述结构的测试座能够实现对CQFP162的测试，但是在测试过程中CQFP162器件的引脚处多为悬空状态，当压合上盖时极易造成CQFP162器件上引脚的压弯，这会导致CQFP162器件在测试后严重损坏，无法再正常使用，从而大大降低了测试座对CQFP162器件的测试效率，增加了CQFP162器件测试成本的问题，本技术通过在测试座的底座上增设浮动托盘以及浮动弹簧，当CQFP162器件在该测试座上固定时在浮动弹簧作用下能够始终确保浮动托盘与CQFP162器件上的引脚接触，以对CQFP162器件上的引脚处提供可靠支撑，这样设计能够有效避免上盖在闭合过程中将CQFP162器件上的引脚压坏，大大提高该测试座在对CQFP162器件测试时的效率，同时由于避免了CQFP162器件在测试后的损坏报废，从而大大节省CQFP162器件的测试成本。
附图说明
[0023]图1是本技术所述一种具有引脚保护的器件测试座在上盖打开时的主剖视图；
[0024]图2是本技术所述一种具有引脚保护的器件测试座在上盖打开时的俯视图；
[0025]图3是本技术所述一种具有引脚保护的器件测试座在上盖打开时的仰视图；
[0026]图4是本技术所述一种具有引脚保护的器件测试座在上盖闭合时的主剖视图；
[0027]图5是本技术所述一种具有引脚保护的器件测试座中在未放入器件本体时下针板与浮动托盘的连接结构示意图。
[0028]附图标记说明如下：
[0029]1、上盖；2、压块；3、底座；4、浮动托盘；5、下针板；6、测试插针；7、锁钩；8、器件本体；9、锁槽；10、浮动弹簧；11、固定螺栓。
具体实施方式
[0030]为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
[0031]如图1
‑
图5所示，本实施例中的一种具有引脚保护的器件测试座，包括底座3，底座3底端中部安装有下针板5，下针板5上端固定有测试插针6，底座3内位于下针板5上方通过固定螺栓11安装有浮动托盘4，浮动托盘4底端外围与下针板5上端之间固定有浮动弹簧10，浮动托盘4上端安装有器件本体8，固定螺栓11贯穿浮动托盘4，固定螺栓11与下针板5旋接，且浮动托盘4上的安装孔径大于固定螺栓11的杆径但小于固定螺栓11的螺栓头直径，这样设计不会将浮动托盘4固定死，也就是说在器件本体8放到浮动托盘4上后，当本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种具有引脚保护的器件测试座，其特征在于：包括底座(3)，所述底座(3)底端中部安装有下针板(5)，所述下针板(5)上端固定有测试插针(6)，所述底座(3)内位于所述下针板(5)上方通过固定螺栓(11)安装有浮动托盘(4)，所述浮动托盘(4)底端外围与所述下针板(5)上端之间固定有浮动弹簧(10)，所述浮动托盘(4)上端安装有器件本体(8)。2.根据权利要求1所述的一种具有引脚保护的器件测试座，其特征在于：所述下针板(5)与所述底座(3)螺栓连接，所述测试插针(6)和所述下针板(5)过盈配合固定。3.根据权利要求1所述的一种具有引脚保护的器件测试座，其特征在于：所述浮动弹簧(10)顶端与所述浮动托盘(4)插接，所述浮动弹簧(10)底端与所述下针板(5)插接。4.根据权利要求1所述的一种具有引脚保护的器件测试座，其特征在于：所述固定螺栓(11)贯穿所述浮动托盘(4)，所述固定螺栓(11)与所...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱雨帆，朱永汉，
申请(专利权)人：杭州瑞来电子有限公司，
类型：新型
国别省市：