杭州行芯科技有限公司专利技术

杭州行芯科技有限公司共有48项专利

  • 本申请涉及寄生电容获取方法、电子设备及可读存储介质,其中,寄生电容获取方法,包括:获取芯片电路设计信息中目标网络的第一导体图形信息。基于第一导体图形信息及图形扩展信息,获取与目标网络邻近的第二导体图形信息。基于第一导体图形信息、第二导体...
  • 本申请涉及一种电路的翻转概率信息传播方法、装置和存储介质,其中,该电路的翻转概率信息传播方法包括:首先获取目标电路中关键节点的翻转概率信息,其中,所述关键节点包括原始输入节点和/或寄存器节点;之后再根据所述关键节点的翻转概率信息从所述关...
  • 本申请属于集成电路技术领域,涉及寄生电容提取方法、电子设备及可读存储介质,其中,寄生电容提取方法,包括:对芯片的全局电路按预设规则进行划分,得到预设数量的计算区域;对预设数量的计算区域分别配置计算子任务,并获得计算子任务对应的计算区域对...
  • 本申请提供一种干扰噪声波形获取方法,包括:获取目标受扰网络对应的干扰源信号切换后和切换前的电平差值,以及所述干扰源信号的切换时长;根据所述电平差值和所述切换时长,获取所述目标受扰网络的电路节点的干扰噪声估算值。本申请提供的干扰噪声波形获...
  • 本申请属于芯片技术领域,本申请中芯片封装结构的空间关系管理方法,包括:获取芯片封装结构所对应的所有条目。根据条目对应的空间结构信息将所有条目插入基于树结构的节点,且在检测到待插入条目插入所在节点出现插入溢出时,进行重插入操作或者节点分裂...
  • 本申请涉及一种输出电流曲线的求解方法、装置及电子设备,方法包括:获取电路单元的电压转换时间和电容;根据电压转换时间和电容,确定待插值的至少两条目标电流曲线;提取至少两条目标电流曲线的特征参数,特征参数用于表征至少两条目标电流曲线的形状信...
  • 本申请涉及一种比较寄生参数文件的方法、装置、电子设备及存储介质,方法包括:基于至少一寄生参数文件对目标电路进行时序分析,确定目标电路中至少一目标节点的时序信息,其中,各目标节点的时序信息包括分别对应于至少一寄生参数文件的时序信息;将至少...
  • 本申请涉及一种功耗分析方法、电子设备及存储介质,方法包括以下步骤:确定目标信号的传播链路;根据所述传播链路上的基本单元的功耗,确定所述目标信号对应的功耗。本申请的技术方案,定义目标信号的传播链路,根据传播链路上的基本单元的功耗,确定目标...
  • 本申请属于电路技术领域,涉及电路路径的检测方法、电子设备及可读存储介质,电路路径的检测方法,包括:对芯片全局的所有时序路径进行静态时序分析,确定所有时序路径的静态分析结果。基于静态分析结果中的第一时序裕量,在所有时序路径中确定对象路径,...
  • 本申请的一种热模型的获取方法,包括:将芯片模型按照结构划分规则进行划分,得到多个结构子模块信息;将所述芯片模型按照功耗划分规则进行划分,得到多个功耗子模块信息;根据所述多个结构子模块信息和所述多个功耗子模块信息获取所述芯片模型对应的热模...
  • 本申请提供一种电压波形获取方法和存储介质,所述电压波形获取方法包括:确认电路的输入电流的电流函数;根据所述电路的结构信息生成传递函数;根据所述电流函数和所述传递函数,基于卷积算法生成所述电路的输出电压的电压波形。本申请提供的电压波形获取...
  • 本申请提供了一种目标图形的确定方法、装置、电子设备及存储介质,涉及数据处理领域,该方法包括:获得目标图形组,并基于目标图形组中的多个顶点的第一标识确定多个候选区域和候选区域的第二标识,目标图形组包含版图中分别属于不同图层的两个图形和图形...
  • 本申请提供了一种寄生电容的计算方法、装置及电子设备;所述方法包括:获取目标版图中的第一模式版图,以所述第一模式版图中每一导体为主导体计算获得所述第一模式版图中的寄生电容信息;获取目标版图中的第二模式版图,其中,所述第二版图模式包括第一导...
  • 本申请涉一种电容获取方法,包括如下步骤:将目标结构根据位置划分成多个区域,所述目标结构包括多个信号线导体以及多个悬浮导体;同时对至少两个区域中的悬浮导体进行消除操作;获取所述目标结构中的悬浮导体消除后,所述信号线导体的等效电容。本申请还...
  • 本申请属于芯片技术领域,本申请中芯片封装结构的空间关系管理方法,包括:获取芯片封装结构所对应的所有条目,根据条目对应的空间结构信息将条目插入基于树结构的节点,其中,条目用于表征包装后的基于芯片封装结构按照预设规则切分的材料块的空间结构信...
  • 本申请涉及一种电流曲线的获取方法,方法包括以下步骤:根据目标输入转换时间和目标输出电容,确定待插值的第一至第四输出电流曲线;对第一至第四输出电流曲线进行插值处理,得到第五和第六输出电流曲线;对第五和第六输出电流曲线进行插值处理,得到第七...
  • 本申请涉及一种寄生电容信息的获取方法、装置及电子设备,方法包括:确定电路中的目标区域;确定目标区域中待求解寄生电容的目标网络;基于与目标网络构成电容的至少一关联网络,求解与目标网络对应的寄生电容,其中,关联网络位于根据目标区域的边界数据...
  • 本申请涉及一种电路的翻转概率信息计算方法、装置和计算机设备,其中,该电路的翻转概率信息计算方法包括:获取目标电路中节点的翻转概率信息;基于目标电路中不同节点之间的信号相关性,从目标电路中筛选至少一个目标节点;根据目标节点和目标节点的上游...
  • 本申请涉及电容库创建方法,包括:确定与模型结构对应的模型采样参数,模型结构包括位于第一金属层上的第一导体、位于第二金属层上的第二导体、以及位于第一金属层与第二金属层之间的至少一个介质层,模型采样参数用于指示模型结构的结构信息;基于模型采...
  • 本申请涉及一种寄生参数的查找方法、装置、电子设备及存储介质,所述方法包括以下步骤:在哈希表中查找目标电路单元的环境参数;若查找到环境参数,则获取哈希表中与环境参数对应的指针,根据指针所指向的目标存储位置,在缓存中查找目标电路单元的寄生参...