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大塚电子株式会社专利技术
大塚电子株式会社共有93项专利
光学特性测量装置制造方法及图纸
本发明提供一种光学特性测量装置,包括内壁具有反射面的半球部以及平面部,该平面部被配置成堵塞半球部的开口,在半球部的内壁侧具有反射面。平面部包括第一窗,该第一窗用于在包含半球部的实质的曲率中心的范围内安装光源。半球部和平面部中的至少一方包...
光学测量系统、光学测量方法和光学测量系统用的镜板技术方案
光学测量系统(100)包括积分球(110),积分球(110)具有第一窗(132)并且在其内壁上具有反射表面(110a)。光学测量系统进一步包括用于将光源支撑在积分球的大致中央位置处的支撑构件(120),和配置在连接第一窗与由支撑构件支撑...
配光特性测量装置和配光特性测量方法制造方法及图纸
本发明提供一种用于测量光源的配光特性的配光特性测量装置和配光特性测量方法。配光特性测量装置包括以具有规定的相对关系的方式配置的多个检测器。一个检测器的检测范围的至少一部分与邻接的其它检测器的检测范围重复。配光特性测量装置还包括:驱动单元...
光源支承装置及采用该装置的光辐射特性测定装置制造方法及图纸
本发明提供光源支承装置及采用该光源支承装置的光辐射特性测定装置。该光源支承装置包括:基座部;第1支承部,其用于将基座部能够绕第1轴旋转地支承;第1臂部和第2臂部,其分别连接于基座部的两端,沿着与第1轴平行的方向延伸;一对第2支承部,其设...
光学特性测量装置以及光学特性测量方法制造方法及图纸
本发明提供一种光学特性测量装置以及光学特性测量方法。光学特性测量装置(100)具备光源(10)、检测器(40)以及数据处理部(50)。数据处理部(50)具备建模部、分析部以及拟合部。将多个膜模型方程式联立,假设包含在多个膜模型方程式中的...
膜厚测量装置制造方法及图纸
本发明是一种膜厚测量装置(100),该膜厚测量装置(100)具备:光源(10)、第一光路、第一聚光透镜、分光测量部(40)、第二光路、第二聚光透镜、以及数据处理部(50)。光源照射具有规定的波长范围的测量光。第一光路将从光源(10)照射...
分光特性测量方法以及分光特性测量装置制造方法及图纸
提供一种分光特性测量方法以及分光特性测量装置,用于更高精度地测量被测量光的分光特性。分光特性测量方法包括以下步骤:使波长范围为第二波长范围的光入射到在第一波长范围具有检测灵敏度的分光测量器,第二波长范围为上述第一波长范围的一部分;从与由...
包括半球型的积分球的光学测量装置制造方法及图纸
本发明提供一种光学测量装置(100、200、300),其包括:内壁上具有漫反射层(1a)的半球部(1);通过半球部的实际的曲率中心,且配置为封闭半球部的开口部的、在半球部的内表面侧具有反射层的平面部(10)。平面部包括:用于将要在形成于...
量子效率测量装置以及量子效率测量方法制造方法及图纸
将作为量子效率的测量对象部的试样(OBJ1)以及具有已知的反射率特性的标准体(REF1)分别安装到设置于平面镜(5)的试样窗(2)上。根据在分别安装了试样(OBJ1)以及标准体(REF1)的情况下由光谱仪测量到的各个光谱来测量试样(OB...
液晶盒的倾角测定方法和装置制造方法及图纸
提供一种液晶盒的倾角测定方法和装置,可以无需显微光学系统,且只需一次测定液晶盒的透射光强度。从光源(21)的光取出线偏振分量的光;把该偏振分量的光照在液晶盒(23)上以使得该光的光轴(B)与液晶盒(23)的法线成倾斜的角度(θ);基于透...
反射型液晶盒的倾角测定方法以及测定装置制造方法及图纸
本发明提供一种反射型液晶盒的倾角测定方法以及测定装置。从光源(21)的光中取出直线偏振分量的光,以使该光的光轴(B)成为与反射型液晶盒(23)的法线倾斜的角度(θ)的方式,对反射型液晶盒(23)照射该偏振分量的光,根据被反射型液晶盒(2...
显示器的评价方法及装置制造方法及图纸
使测定图形在显示器上移动,使图像传感器的视野跟踪所述测定图形的移动,并对测定图形的图像进行摄影。根据该摄影的图像,求活动图像响应曲线。接着,将获得的活动图像响应曲线变换为MTF(Modulation Transfer Functio...
评估移动图像显示质量的测量系统技术方案
公开了一种系统,该系统包括一个可旋转的镜子2,一个通过镜子2拍摄屏幕5图像的照相机3,一个具有覆盖部分屏幕5的探测范围的光电探测器4,和一个控制部件6。当光电探测器4探测到包含在显示在屏幕5上的移动图像中的测量模式时,光电探测器4输出探...
画面的运动图像质量测量评价装置制造方法及图纸
本发明提供一种画面的运动图像质量测量评价装置,具有:可旋转的反射镜(2);通过反射镜(2)对画面进行拍摄的摄像机(3);控制部(6),控制部(6)如果根据画面(5)的亮度变化检测出在画面(5)上放映的运动图像所包含的测量图案通过了画面(...
动态图像显示性能判定方法和装置以及检查画面制造方法及图纸
本发明公开了一种动态图像显示性能判定方法和装置以及检查画面,在判定对象显示器的画面上,使测试图像滚动显示。准备利用相同测试图像生成的、表示不同的动态图像显示性能指标值的多个样本图像,在可与所述滚动中的测试图像对比的状态下,静止显示所述多...
活动图像响应曲线的测定方法及其装置制造方法及图纸
本发明提供一种活动图像响应曲线的测定方法及其装置,在测定对象显示器(5)中使图像滚动,并用彩色摄影机(3)跟踪拍摄上述滚动着的活动图像以取得活动图像跟踪图像,并将使用了基于上述活动图像跟踪图像而得到的感光强度数据的彩色活动图像响应曲线变...
彩色显示器的活动图像质量改善方法以及程序技术
本发明提供一种彩色显示器的活动图像质量改善方法以及程序,取得与图像正活动着的部分对应的图像信号,在该已取得的图像信号的活动图像的边缘部分,对边缘的差色R+G附加成为规定关系(补色关系)的颜色B,由此消去边缘的色调,并将附加了上述消除边缘...
用于评价显示器的运动图像质量的系统和方法技术方案
随着图像传感器的视场追踪测试模型的运动而在用于测量的屏幕5上移动测试模型以便观察BEW。然后,以与上述观察中相同的速度v↓[c]移动图像传感器的视场33以捕捉静态模型PE,并观察捕捉到的图像的分布图中出现的滚动方向上的模糊宽度W。基于所...
垂直定位的液晶板单元间隙的测量方法和器件技术
光线以关于VA(垂直定位)液晶板的一个角度入射,该液晶板的表面垂直于液晶分子的光轴,因此人为产生只归因于液晶层的双折射。这就允许VA液晶的厚度(单元间隙)能被精确地测量。
测量液晶单元间隙的方法技术
定起偏振器(14)的偏振角为θ1,测量液晶单元(15)在正交尼科耳状态下的反射强度S1和参考反射强度Ref1。然后,设定不同的偏振角θ2,测量该液晶单元在正交尼科耳状态下的反射强度S2和参考反射强度Ref2。确定测量强度的比率S1/Re...
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