大塚电子株式会社专利技术

大塚电子株式会社共有93项专利

  • 本发明提供一种光学测量装置,包括:照射光学系统,向测量对象直线状地照射具有规定的波长范围的测量光;测量光学系统,接受通过测量光的照射而从测量对象产生的作为透射光或反射光的直线状测量干涉光;及处理装置。测量光学系统包括:衍射光栅,将测量干...
  • 本发明的光学测定装置包含:主体基座、可移动地结合于所述主体基座的光学基座、固定于所述光学基座的测定光学系统、以及使所述光学基座相对于所述主体基座进行相对移动的光学基座移动机构。所述光学基座移动机构使所述光学基座相对于所述主体基座在内部测...
  • 本发明提供一种使用了光学测量装置的光学测量方法,所述光学测量装置具备:照射光学系统,向测量对象直线状地照射具有规定的波长范围的测量光;以及测量光学系统,将通过测量光的照射而从测量对象产生的作为透射光或者反射光的直线状的测量干涉光向与该测...
  • 本发明提供一种更优异的光谱测定装置以及光谱测定方法。光谱测定装置具备:CCD(Charge Coupled Device)检测器,包含二维排列的多个受光元件;光学系统,将入射光分光并照射至所述CCD检测器;以及限制部,对朝向所述多个受光...
  • 光学特性测定装置以及光学特性测定方法
    本发明使基于来自样本的光的样本的光学特性的测定容易进行。光学特性测定装置(1、1A)具备光学系统(12)、检测部(13)以及解析部(14)。光学系统对从样本(2)射入的检测光进行聚光。检测部对在样本与光学系统之间的光学距离相互不同的状态...
  • 测量装置以及测量方法
    提供一种能够在更短时间内测量荧光体的光学性能的测量装置以及测量方法。测量装置(1)具备:光源(52),其用于对荧光体照射激励光;受光部(10),其用于接收激励光中的透过了荧光体的光以及通过激励光而由荧光体产生的荧光;以及检测部(200)...
  • 分光测定装置
    本发明提供一种能减少由光纤的弯曲所产生的测定误差并且提高供给至分光测定部的光的光量的分光测定装置。分光测定装置具备:分光测定部,对通过狭缝射入的光进行分光测定;以及光漫射单元,使从多个光纤供给的光漫射,以漫射后的光直接或者经由透镜或反射...
  • 光学测定方法以及光学测定装置
    本发明提供一种使用至少在近红外区域具有检测灵敏度的检测器的光学测定方法。光学测定方法包含:获取在任意的曝光时间通过检测器来对任意的样本光进行测定后的输出值的步骤;以及如果获取到输出值时的曝光时间处于第二范围内则以与输出值对应的校正量来校...
  • 厚度测量装置及厚度测量方法
    本发明提供一种能够准确地测量试样厚度的厚度测量装置及厚度测量方法。厚度测量装置具有:第一透光构件,其具有第一参照面;第二透光构件,其与第一透光构件相向设置,具有第二参照面;第一投光部,其经由第一参照面向设置在第一透光构件和第二透光构件之...
  • 光学特性测定装置以及光学系统
    提供一种能够实现小型化且提高了通用性的光学特性测定装置以及光学系统。光学特性测定装置包含:第一光学元件,其将来自被测定物的测定光变换为平行光;反射型透镜,其通过反射来自第一光学元件的平行光来将该平行光变换为会聚光;受光部,其接收来自反射...
  • 预倾角测定装置及预倾角测定方法
    本发明提供能抑制误差的预倾角测定装置及预倾角测定方法。预倾角测定装置(1)具备:透射测定投光部(2),其向液晶基板(LC)的测定位置(M)照射偏振的测定光;透射测定受光部(3),其接收测定光的透射光,获取透射光的偏振状态;倾斜测定投光部...
  • 显微分光装置
    本发明提供一种更优异的显微分光装置。显微分光装置具备:光源;多个投光光纤,接收来自所述光源的光;分光器;多个受光光纤,用于将接收的光导向所述分光器;以及共焦点光学系统,用于对来自所述多个投光光纤的多个光束分别进行聚光并照射到样品,并且用...
  • 本发明提供一种能够在较短的时间内安装并且能够提高检测灵敏度的光学特性测定系统以及光学特性测定系统的校正方法。光学特性测定系统包括第一测定装置。第一测定装置包括:第一检测元件,其配置在壳体内;第一冷却部,其至少局部与第一检测元件接合,用于...
  • 光学测定装置以及光学测定方法
    光学测定装置的控制部在旋转体的旋转速度被控制为规定值的状态下,将由光源产生的固定强度的光照射到照射区域,并且基于通过由第二检测部接收所照射出的该光的反射光或透射光而输出的强度随时间的变化来获取第一定时信息,其中,该照射区域是样本随着旋转...
  • 本发明的课题在于提供一种双光子吸收化合物,所述双光子吸收化合物的水溶性优异,且可在近红外波长区域内吸收双光子而被激发从而发出红色荧光。式(1)表示的化合物的水溶性优异,且可在近红外波长区域内吸收双光子而被激发从而发出红色荧光。式(1)中...
  • 提供一种即使是指向性强的光源也能够以更高的精度测量该光源的配光特性的配光特性测量装置以及配光特性测量方法。配光特性测量装置包括:摄像部,其被配置为与光源分离规定距离;移动机构,其在维持光源与摄像部之间的距离的状态下,使摄像部相对于光源的...
  • 提供一种不易受到振动等外来干扰的影响、不需要进行参照光和试样光的光路差调整的动态光散射测定装置等。动态光散射测定装置(1)包含:照射部:其将来自低相干光源(10)的光照射到包含颗粒(42)的试样(40);光谱强度取得部,其使来自参照面的...
  • 分光光度计和分光光度测量方法
    一种分光光度计,其特征在于,包括:光检测部,其将所接收的光转换为电信号并输出;电路部,其包括多个增益放大器和多个AD转换器,对来自所述检光检测部的输出信号使用所述多个增益放大器以多个增益进行放大,并使用所述多个AD转换器转换为数字信号,...
  • 本发明提供一种光学测量装置(1),包括:中空的圆筒状构件(2),其在一个平面上具有第一开口(10),并且在另一平面上具有第二开口(18);旋转机构(52、54),其用于使圆筒状构件绕圆筒状构件的中心轴即第一轴线旋转;支承部(20、22)...
  • 提供一种标准光源以及测量方法,是适合于具有与以往的标准光源不同的配光特性的光源的总光通量测量的、具有更简单结构的新的标准光源以及使用了该标准光源的测量方法。标准光源(10)包含发光部(14)、与发光部电连接的供电部(18)以及限制部(1...