光谱测定装置以及光谱测定方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种更优异的光谱测定装置以及光谱测定方法。光谱测定装置具备：CCD(Charge Coupled Device)检测器，包含二维排列的多个受光元件；光学系统，将入射光分光并照射至所述CCD检测器；以及限制部，对朝向所述多个受光元件的各行的一部分行以及各列的一部分列的至少任一方的来自所述光学系统的光的照射进行限制。

【技术实现步骤摘要】
光谱测定装置以及光谱测定方法
本专利技术涉及一种光谱测定装置以及光谱测定方法，特别涉及一种将对象光分光的光谱测定装置以及光谱测定方法。
技术介绍
在非专利文献1中记载了作为测定光的电磁波谱的光学设备的光谱测定装置的概略。然后，近年来，正在开发用于测定按波长的强度的光谱测定装置。此外，正在开发将CCD(ChargeCoupledDevice：电荷耦合器件)检测器作为受光单元的摄影装置。例如，在日本特开2010-266538号公报(专利文献1)中公开了如下所示的构成。即，摄影装置具备：拍摄图像的CCD图像传感器；变更图像的变焦倍率的可变倍率透镜以及透镜驱动器；指示变焦倍率的变更的操作部；从通过CCD图像传感器拍摄的图像检测特征部分的特征检测部；以及CPU，在通过操作部指示了变焦倍率的变更的情况下，将通过特征检测部检测到的特征部分的大小与特征检测部可以检测的特征部分的大小的限界值进行比较，并根据操作部所指示的变焦倍率和比较结果对可变倍率透镜以及透镜驱动器进行控制。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开2010-266538号公报专利文献2：日本特开平10-145679号公报专利文献3：日本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光谱测定装置，具备：CCD检测器，包含二维排列的多个受光元件；光学系统，将入射光分光并照射至所述CCD检测器；以及限制部，对朝向所述多个受光元件的各行的一部分行以及各列的一部分列的至少任一方的来自所述光学系统的光的照射进行限制。

【技术特征摘要】
2017.02.07 JP 2017-0207871.一种光谱测定装置，具备：CCD检测器，包含二维排列的多个受光元件；光学系统，将入射光分光并照射至所述CCD检测器；以及限制部，对朝向所述多个受光元件的各行的一部分行以及各列的一部分列的至少任一方的来自所述光学系统的光的照射进行限制。2.根据权利要求1所述的光谱测定装置，其中，基于与光谱测定有关的条件设定所述限制部的限制对象。3.根据权利要求2所述的光谱测定装置，其中，通过所述光学系统进行分光的各波长的光照射至对应的所述列，基于由所述CCD检测器实施的一个光谱的测定时间以及所述CCD检测器应检测的光量的至少任一方，设定作为所述限制对象的所述行数。4.根据权利要求2或3所述的光谱测定装置，其中，通过所述光学系统进行分光的各波长的光照射至对应的所述列，将分别对应于所述光谱测定装置应取得的光谱的多个波长的多个所述列以外的、一个或多个所述列设定为所述限制对象。5.根据权利要求1至4中任一项所述的光谱测定装置，其中，所述光学系统包含将分光后的光聚光于所述限制部不作为限制对象的所述受光元...

【专利技术属性】
技术研发人员：前田吾郎，
申请(专利权)人：大塚电子株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP