光学特性测定系统以及光学特性测定系统的校正方法技术方案

本发明专利技术提供一种能够在较短的时间内安装并且能够提高检测灵敏度的光学特性测定系统以及光学特性测定系统的校正方法。光学特性测定系统包括第一测定装置。第一测定装置包括：第一检测元件，其配置在壳体内；第一冷却部，其至少局部与第一检测元件接合，用于冷却检测元件；以及抑制机构，其用于抑制在壳体内的检测元件的周围产生的温度变化。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种能够测定光学特性的光学特性测定系统以及光学特性测定系统的校正方法。
技术介绍
存在如下需求：为了对含有光敏物质的材料或试剂的特性进行评价而想要对这些物质发出的微弱的光进行测定。例如，日本特开平09-159604号公报公开了一种纯态氧测定装置，其对于含有对从紫外区域到可视区域的任意的波长都具有光吸收特性的光敏物质的试样、对光直接或间接地不稳定且只能得到少量的试样也能够进行测定。另外，日本特开平09-292281号公报、国际公开第2010/084566号以及日本特开2011-196735号公报公开了一种测定量子效率的测定装置和测定方法，其中，该量子效率表示含有荧光发光物质的试样所吸收的光量子量与从试样产生的荧光的光量子量之间的比。在日本特开平09-159604号公报所公开的纯态氧测定装置中，为了提高检测灵敏度而使用了液氮冷却型锗探测器。通过使用液氮等来冷却检测元件，能够使检测元件稳定化，能够扩大检测动态范围。另一方面，为了用液氮冷却检测元件，将预冷等也包括在内到达能够实际使用的状态为止需要进行几个小时的准备，因此不实用。
技术实现思路
希望实现一种能够在较短的时间内安装并且能本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学特性测定系统，具备第一测定装置，该光学特性测定系统的特征在于，所述第一测定装置具备：第一检测元件，其配置在壳体内；第一冷却部，其至少局部与所述第一检测元件接合，用于冷却所述第一检测元件；以及抑制机构，其用于抑制在所述壳体内的所述第一检测元件的周围产生的温度变化。

【技术特征摘要】
2015.07.07 JP 2015-1360361.一种光学特性测定系统，具备第一测定装置，该光学特性测定系统的特征在于，所述第一测定装置具备：第一检测元件，其配置在壳体内；第一冷却部，其至少局部与所述第一检测元件接合，用于冷却所述第一检测元件；以及抑制机构，其用于抑制在所述壳体内的所述第一检测元件的周围产生的温度变化。2.根据权利要求1所述的光学特性测定系统，其特征在于，所述抑制机构具备第二冷却部，该第二冷却部至少局部与所述壳体接合，用于将所述壳体内的热向所述壳体的外部排出。3.根据权利要求1或2所述的光学特性测定系统，其特征在于，所述抑制机构还具备隔热机构，该隔热机构配置在所述壳体的周围，用于抑制热从所述壳体的周围向所述壳体内侵入。4.根据权利要求3所述的光学特性测定系统，其特征在于，所述光学特性测定系统还具备第二测定装置，所述第一测定装置还具备第一衍射光栅，该第一衍射光栅与所述第一检测元件相对应地配置，构成为将第一波长范围的光引导至所述第一检测元件，所述第二测定装置具备：第二检测元件，其配置在壳体内；以及第二衍射光栅，其与所述第二检测元件相对应地配置，构成为将第二波长范围的光引导至所述第二检测元件，所述第一测定装置的所述第一检测元件构成为检测灵敏度比所述第二测定装置的所述第二检...

【专利技术属性】
技术研发人员：大泽祥宏，水口勉，野口宗裕，
申请(专利权)人：大塚电子株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP