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大塚电子株式会社专利技术
大塚电子株式会社共有93项专利
光学测定系统、光学测定方法以及测定程序技术方案
光学测定系统包括:光源,其产生相干光;第一分束器,其将来自光源的相干光分支为第一光和第二光;图像传感器,其用于记录全息图,该全息图是通过利用第二光调制利用第一光对试样进行照明所得到的光而生成的全息图;以及处理装置。第二光是发散光。处理装...
分光器、厚度测定系统、厚度计算装置、分光器的制造方法及厚度计算方法制造方法及图纸
分光器用于测定层叠有表面层和下层而成的多层结构的对象试样的所述表面层的厚度,所述分光器具有:受光部,接受从所述对象试样的所述表面层侧照射的光的来自所述对象试样的反射光;以及分光部,通过对所述反射光进行分光从而生成反射光光谱;所述分光部生...
光学测定系统和程序产品技术方案
本发明涉及一种光学测定系统和程序产品。能够进行利用光散射法的测定的光学测定系统包括:样本保持器,其用于保持样本;光源,其产生用于向样本照射的光;检测器,其检测在样本中产生的散射光;光纤探针,其包括与样本保持器连结并配置于样本的附近的探针...
信息处理装置、信息处理方法以及信息处理程序制造方法及图纸
信息处理装置包括:输入部,其受理用户操作;输出部,其使图像显示于显示器;以及处理部。处理部进行以下处理:根据与具有两个端的引导对象相关联的第一用户操作,来执行计算第一移动量的处理;以及与第一移动量相应的第一变更量更新对象参数。
光学测量装置及光学测量方法制造方法及图纸
一种能更准确地测量测量对象物的透射率或反射率的光学测量装置及光学测量方法。光学测量装置具备:照射光学系统,向对象区域以直线状照射包含多个波长的照射光;受光光学系统,接收通过向对象区域照射照射光而从对象区域产生的作为透射光或反射光的测量光...
波长校准方法、校准试样以及程序产品技术
本发明提供一种波长校准方法、校准试样以及程序产品。该波长校准方法是多色光谱仪的波长校准方法,该多色光谱仪具备衍射光栅和检测器,由衍射光栅分散的光在检测器处成像。波长校准方法包括以下步骤:对多色光谱仪提供包含已知的明线光谱的光,并获取从检...
光学测定方法和光学测定系统技术方案
光学测定方法包括以下步骤:构成用于记录全息图的光学系统,所述全息图是利用照明光和相干的参考光将利用照明光对试样进行照明所得到的物体光进行调制而生成的全息图;在不存在试样的状态下,在照明光的光学路径上配置包括产生已知的光波分布的光学系统的...
旋转接头和使用该旋转接头的光学测定装置制造方法及图纸
提供一种旋转接头(40),包括:主体侧光纤保持部(25),在第一圆形区域配置受光光纤的各一端面,在其外侧的第一圆环区域配置投光光纤的各一端面;探头侧光纤保持部(33),在第二圆形区域配置受光光纤的各一端面,在其外侧的第二圆环区域配置投光...
光学测定系统和光学测定方法技术方案
光学测定系统包括:第一光源,其产生近红外线;硅基的图像传感器;以及光学系统,其包括将来自第一光源的光分支为第一光和第二光的分束器。光学系统构成为利用图像传感器记录第一全息图,该第一全息图是利用作为发散光的第二光将利用第一光对试样进行照明...
光散射测定装置制造方法及图纸
本发明提供一种具备有助于光散射测定装置的小型化的光学元件保持器的光散射测定装置。本发明提供一种光散射测定装置,其具备:光源;试样池,容纳试样,供来自光源的光射入;检测部,检测从试样池射出的出射光;光学元件保持器,具有旋转轴,并且保持包括...
Zeta电位测定用夹具组制造技术
本公开提供一种能以简便的作业实施试样的更换或镀敷处理的Zeta电位测定用夹具组。本公开为具有框体和固定于框体的测定用夹具的Zeta电位测定用夹具组。框体具有:第一和第二保持壁,对置配置;底壁,连结第一和第二保持壁的下端,具有阳极板和阴极...
光学测定系统和光学测定方法技术方案
提供一种能够抑制噪声来实现更高精度的测定的光学测定系统。光学测定系统包括光源、图像传感器以及光学系统,所述光学系统包括将来自光源的光分支为第一光和第二光的分束器。光学系统能够构成第一光学系统和第二光学系统,所述第一光学系统用于通过图像传...
具备用于血液的冷却水循环部的光线力学疗法装置制造方法及图纸
本发明的光线力学疗法装置从光源向被取出到患者的体外的在血液用管内流动的吸收了光反应剂血液照射光线,破坏血液中不希望的成分或对该成分施加影响。光线力学疗法装置具备:照射单元,具备光源,向血液用管内的血液照射光线;及回路冷却块,对血液用管内...
光学测定系统以及探针技术方案
提供一种测定试样的分光反射率的光学测定系统。光学测定系统包括:光源,其产生测定光;受光部,其接收通过将测定光照射于试样而产生的光来作为观测光;探针,其与光源及受光部以光学方式连接,所述探针能够配置于任意位置;以及运算处理部,其基于受光部...
光学测定系统、光学测定方法以及测定程序技术方案
提供一种测定试样中包含的层的厚度即膜厚的光学测定系统。光学测定系统包括:光源,其产生测定光;受光部,其通过接收将测定光照射于试样而产生的反射光或透过光来作为观测光;探针,其与光源及受光部以光学方式连接,所述探针能够配置于任意位置;膜厚计...
光学测定系统、光学测定方法以及记录介质技术方案
本发明提供一种光学测定系统、光学测定方法以及记录介质。光学测定系统包括:光源;分光检测器;基准试样,其构成为相对于温度变化维持特性;切换机构,其将光学路径在第一光学路径与第二光学路径之间进行切换,所述第一光学路径用于向试样照射光并将在试...
光散射测定装置以及测定用夹具制造方法及图纸
本发明提供一种光散射测定装置以及测定用夹具,能实施前向测定或者侧向测定和后向测定双方,且具有单个受光器,由此小型且低成本。一种光散射测定装置,具有:光源;单个受光器;试样保持部,具有试样池、框体以及光学元件,其中,该框体具有配置试样池的...
厚度测量装置及厚度测量方法制造方法及图纸
本发明提供一种能够准确地测量试样厚度的厚度测量装置及厚度测量方法。厚度测量装置具有:第一透光构件,其具有第一参照面;第二透光构件,其与第一透光构件相向设置,具有第二参照面;第一投光部,其经由第一参照面向设置在第一透光构件和第二透光构件之...
测量装置以及测量方法制造方法及图纸
一种测量装置(100),用于测量测量对象物的形状,该测量装置(100)具有:光源部(20);受光部(30);以及主体部(10),包括:透光部(70),射出线状光;投光光路(51),其为从光源部(20)到透光部(70)的光路;以及受光光路...
电动电位测定用夹具制造技术
本发明提供一种电动电位测定用夹具,其不需要专用工具就能以简便的作业将试样配置于盒。用于电泳迁移率测定装置的电动电位测定用夹具具有:框体,具有相互对置配置并且在分别对应的位置具有开口的第一和第二保持壁以及将第一与第二保持壁的各下端连结的底...
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