本发明提供开口可变检查光学系统及彩色滤光片的评价方法。本发明的构成包括具有多边形的透射部分的可变开口单元（１３），在试样Ｓ的位置形成透射可变开口单元（１３）的光的投光点的聚光光学系统（１２ａ、１２ｂ），上述可变开口单元（１３），可以使上...

一种用来作为散射角的函数测量来自试样的散射光的强度的装置，包括：一个用来反射来自试样（２３）的散射光并使之聚焦的椭圆面反射镜（２４），一个位于来自椭圆面反射镜（２４）的反射光的焦点并把出现在椭圆面反射镜（２４）的表面上的像成像的成像透镜...

按照本发明的自动光学测量方法，利用把可动的反射板６移至光轴位置，光投射部分３ａ经过可动反射板６、不动反射板１１、和可动反射板６投射的光，被光接收部分３ｂ接收，另一方面，利用把可动反射板６移离光轴和把参照物８放在样品台１０上，光投射部分３...

根据本发明的用于测量散射光的探头其结构如下：一光输入光纤４和一用于收集并传输散射光的散射光测量光纤６被插入探头３的主体中；该光纤４通过设置在该用于测量光散射的探头３中的孔向外延伸；每个光纤４、６的端部用套圈６６或６７覆盖；套圈６６、６７...

一种光子相关器，它包括：多个取样门１１ａ－１１ｅ，这些取样门在不同的时期中打开；多个存储器１２ａ－１２ｅ，这些存储器每一个都是与多个取样门１１ａ－１１ｅ中的各个取样门相应地设置的，用于存储与光子数目相应的数据；以及，数据处理控制部分，用...

本发明提供了一种多点测量系统，它包括：光源（１、２）；多个照明光纤（５、６），用于将光源发出的光传送给试样，以便照亮试样的多个点（Ａ、Ｂ）；多个接收光纤（８、９），用于在该多个点采集光束，该光束包括透射、反射和散射光束；光学通路选择部件...

一种荧光测量装置布置成通过使用激发光源而基本同时测量在试样腔中的多个试样或者相同试样的多个点。该荧光测量装置有在激发光照射位置处的旋转试样台座（２），多个通孔（２ａ）形成于旋转试样台座（２）的圆周上，且试样放置单元（３）可插入各个通孔（...

具备照射出在某一波长范围扩展的光线的光源Ｓ、使从上述光源照射出的光线发生反射的第１反射镜Ｍ１、引导上述被第１反射镜反射的光线的长光程气管１、从上述长光程气管射出的光线发生反射的第２反射镜Ｍ２、以及检测被上述第２反射镜反射的光线的传感器Ｄ...

本发明涉及气体中杂质的定量方法及装置。从气体中除去杂质、导入容器１５、透过容器１５光的强度作为参照实施测定。将含已知浓度杂质的气体导入同一容器１５，保持同温同压，测定透过容器１５光的强度，由上述两次测定所得的光强度之比求杂质的吸光度。此...

本发明提供一种显微测量装置，所述显微测量装置具有：被相对镜筒（１１）固定、并用于会聚来自物镜（Ｌｏ）的平行光线的第１中间透镜（Ｌ１）；半透半反镜（ＨＭ），使通过所述物镜（Ｌｏ）和所述第１中间透镜（Ｌ１）的光的一部分通过、一部分反射；在被...

按照本发明的光谱检测设备，包括光电检测器（１３）和覆盖该光电检测器（１３）光接收表面（１３ａ）的透光板（１３ｂ），又在该设备中，透光板１３ｂ的前表面Ｓ是倾斜的，且在入射光中，一旦被透光板（１３ｂ）后表面Ｔ反射的任何光，此后的传播都被透光...

在本发明的光谱测量仪中，检测器（１３）的检测表面（１３ａ）是一个二维检测表面并且从分光镜出来的谱光照射在检测表面（１３ａ）上的Ａ区。在检测表面（１３ａ）除了谱光照射的Ａ区以外其它区的信号强度从Ａ区的信号强度中被减去。因此有可能以这样的方...

本发明提供一种光学测量装置，具备：平面镜（３），其具有作为光入射窗或光源安装部（５）之功能的中央开口部、和可以由光检测器（６）进行测量的观测窗（６’）；和积分半球（２），其在平面镜（３）的中央开口部内具有曲率半径的中心，且内壁面具有光漫...