光学角度特性测定装置制造方法及图纸

一种用来作为散射角的函数测量来自试样的散射光的强度的装置，包括：一个用来反射来自试样（２３）的散射光并使之聚焦的椭圆面反射镜（２４），一个位于来自椭圆面反射镜（２４）的反射光的焦点并把出现在椭圆面反射镜（２４）的表面上的像成像的成像透镜（２５），以及一个用来记录由成像透镜（２５）所形成的像的摄像机（２６），借此在很短的时间段内检测广角范围内的散射光。（*该技术在2018年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种能够作为角度的函数测定来自试样的出射光的强度的光学角度特性测定装置。
技术介绍
用光照射到试样，通过测定出射光的角度依存性或时间变化可以得到有关颗粒的大小、形状、分子量、热运动等的信息。此一测定出射光的角度依存性的装置，可以称为光学角度特性测定装置，其中，测定散射光的角度依存性的装置还可以称为光散射强度测定装置。此一光散射强度测定装置，把用光从一个方向照射试样，检测散射光的检测器设置在试样的周围旋转的测角器之上，使测角器旋转而进行各种角度下的检测。可是，在前述的光散射强度测定装置中，存在着如果打算测定广角度范围的散射光，则测定要花费几十分钟以上，其时间效率很差，同时无法测定在测定时间内产生缔合或粘合等历时变化的试样这样的缺点。如果要缩短测定时间，则有必要减少测定的角度点，因此不得不牺牲数据的精度。进而，为了在使测角器旋转之际观测点不错位，不得不进行精度非常高的机械设计，因此还存在着装置制作很费功夫这样的问题。因此，还开发了把多个检测器环形地固定在试样的周围，来进行散射光检测的装置。但是，在此一装置中，所测定的角度的数量受限制。本专利技术的目的在于，在可以作为出射本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学角度特性测定装置，能够测定从试样出射的光强度的角度分布，其特征在于，备有：反射来自试样的出射光并使之聚光用的反射镜；配置在来自反射镜的反射光的聚光点、把出现在反射镜的表面上的像在摄像面上成像的成像机构；记录由成像机构成像的像的摄像机构。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：筒井和典，岡宏一，船户正好，川口晃，浜田哲男，辻尾典男，
申请(专利权)人：大塚电子株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]