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大塚电子株式会社专利技术
大塚电子株式会社共有93项专利
光学测定系统、多层膜制造装置和光学测定方法制造方法及图纸
本发明涉及一种光学测定系统、多层膜制造装置和光学测定方法。光学测定系统包括:光源,其用于产生测定光;受光部,其接受向试样照射测定光产生的反射光或透射光作为观测光;以及生成部,其基于表示试样的最上层的光学特性的第一矩阵和表示试样的除最上层...
光学测定系统和光学测定方法技术方案
一种光学测定系统和光学测定方法。光学测定系统包括:光源,其用于产生测定光;受光部,其接收对试样照射测定光而产生的反射光或透射光来作为观测光;获取单元,其获取观测光中包含的波长范围内的、被设定为两端的相位相同的波长区间的观测光光谱;初始值...
粒径测定方法、粒径测定装置及粒径测定程序制造方法及图纸
本发明涉及粒径测定方法、粒径测定装置及粒径测定程序,设定与作为测定对象的粒径相应的适当的测定时间,节省无用的测定时间。粒径测定方法包括:测试测定步骤,在包括预先设定的多个测定时刻的测试测定时间内对试样照射光,测定被试样散射的散射光的测试...
光动力治疗装置制造方法及图纸
实现能够通过有限个数的光检测器正确地检测发光元件的光量的紧凑的光动力治疗装置。本公开的光动力治疗装置包括:发光部(112、112),具备多个光源(110),所述多个光源(110)分别属于多个组中的某一个组;光检测器(120X、120Y)...
光动力治疗装置及光动力治疗装置用盒制造方法及图纸
在光动力治疗装置中对患者的血液高效地照射光。本公开的光动力治疗用装置(100)包括:盒(10),包括卷芯和以环绕所述卷芯的周围的方式配置的管;壳体(50),收纳所述盒(10);及光源(60),配置于所述壳体(50)内,并对所述管照射光,...
光动力疗法条件参数的确定方法和光动力疗法装置制造方法及图纸
本发明是一种确定光动力疗法的条件参数的方法,所述光动力疗法在对被检体给药5-氨基乙酰丙酸类之后,对在细胞内积蓄的原卟啉IX照射光,所述方法包括以下步骤:在实验阶段,计算出表示细胞生存率(Y)、细胞内原卟啉IX蓄积量(X)以及光照射能量密...
光学测定方法、光学测定装置及光学测定程序制造方法及图纸
本发明涉及光学测定方法、光学测定装置及光学测定程序。其技术问题是使用简易的测定机构测定分光光谱,确定该分光光谱中包括的峰值或谷值的次数并且测定准确的延迟。本发明的光学测定方法,包括:对样品测定分光光谱的步骤;使用第一波长色散公式按峰值或...
光学测量装置以及光学测量方法制造方法及图纸
本发明提供一种光学测量装置,更准确地测量测量对象物的透射率或反射率。光学测量装置包括:照射光学系统,向测量对象物照射包含多个波长的照射光;受光光学系统,接收测量光,所述测量光为通过向所述测量对象物照射所述照射光进而从所述测量对象物产生的...
光学测定装置的线性校正方法、光学测定方法以及光学测定装置制造方法及图纸
本发明提供光学测定装置的线性校正方法、光学测定方法以及光学测定装置,高精度地进行使用了CMOS线性图像传感器的光学测定装置的线性校正。具备CMOS线性图像传感器的光学测定装置的线性校正方法包括:曝光步骤,使曝光时间变化而使强度恒定的基准...
膜厚测量装置以及膜厚测量方法制造方法及图纸
本发明提供一种膜厚测量装置,既能够抑制因进行膜厚测量而对测量对象物产生的污染,又能够以更短的时间进行膜厚测量。所述膜厚测量装置包括:测量用光路径,用于向测量对象物照射来自光源的光;校正用光路径,用于向参考用构件照射来自所述光源的光;以及...
光学测定方法和处理装置制造方法及图纸
本发明提供一种光学测定方法和处理装置。光学测定方法包括以下步骤:获取已被赋予针对第一波长范围的光谱辐射照度的值的第一标准灯的第一检测结果;获取已被赋予针对至少一部分波长范围与第一波长范围重复的第二波长范围的光谱辐射照度的值的第二标准灯的...
光学测定装置、波长校正方法以及标准试样制造方法及图纸
本发明通过一种光学测定装置、波长校正方法以及标准试样。光学测定装置包括以下单元:理论干涉谱获取单元,其获取基于标准试样的已知的厚度、折射率以及消光系数进行数学计算得出的、关于该标准试样的反射率干涉谱或透过率干涉谱来作为理论干涉谱;实测干...
光学测量装置及光学测量方法制造方法及图纸
一种能更准确地测量测量对象物的透射率或反射率的光学测量装置及光学测量方法。光学测量装置具备:照射光学系统,向对象区域以直线状照射包含多个波长的照射光;受光光学系统,接收通过向对象区域照射照射光而从对象区域产生的作为透射光或反射光的测量光...
发光体计测装置及发光体计测方法制造方法及图纸
本申请提供一种能从计测球面上的较宽的范围计测发光体的亮度的、容易小型化的发光体计测装置及发光体计测方法。发光体计测装置在从保持部(50)观察支承部(42)位于轴(A2)的一侧的非反转姿势和从保持部(50)观察支承部(42)位于轴(A2)...
光学测定系统和光学测定方法技术方案
本发明提供一种光学测定系统和光学测定方法,提供一种针对在以往的光学测定装置中测定精度可能降低的样品也能够更高精度地测定光学特性的结构。光学测定系统包括:光源,其发出用于向样品照射的测定光;分光检测器,其接收由测定光在样品处产生的反射光或...
光学测定装置制造方法及图纸
本发明提供一种光学测定装置,具备:光纤,其用于将来自光源的光引导至壳体;检测元件,其配置在所述壳体的内部;衍射光栅,其用于将来自所述光源的光引导至所述检测元件;冷却机构,其至少局部与所述检测元件接合,用于冷却所述检测元件;温度调节机构,...
测定系统及测定方法技术方案
本申请涉及测定系统及测定方法。测定系统包括:积分器,具有形成于相互对置的位置的入射窗和试样窗;受光器,通过在离开试样窗规定距离的位置形成的观测窗,测定积分器的照度;挡板,配置于连结积分器内的试样窗和观测窗的光学路径上;以及处理装置,通过...
厚度测定装置以及厚度测定方法制造方法及图纸
一种厚度测定装置及方法,谋求提高测定配置于一对探头间的基板厚度的厚度测定装置的测定精度。该装置包括:第一探头,输出与到测定对象的表面的距离相关的第一测定信号;第二探头,输出与到测定对象的背面的距离相关的第二测定信号;运算部,计算出配置于...
光学测定装置以及光学测定方法制造方法及图纸
本公开涉及一种光学测定装置以及光学测定方法,其要解决的问题在于,在对试样中的一方的表面照射光的光学测定装置中,测定探头与试样之间的距离和试样的膜厚。本公开的厚度测定装置包括:探头,包括具有参照面的透射光学构件,经由所述参照面将光照射至试...
光学特性测定方法以及光学特性测定系统技术方案
本发明提供一种在使用对象物的拍摄图像来测定该对象物的光学特性的构成中,能得到更良好的测定结果的光学特性测定方法以及光学特性测定系统。光学特性测定方法是测定对象物的光学特性的光学特性测定方法,包括:使用与所述对象物离开规定距离地进行配置、...
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