液晶盒的倾角测定方法和装置制造方法及图纸

提供一种液晶盒的倾角测定方法和装置，可以无需显微光学系统，且只需一次测定液晶盒的透射光强度。从光源（２１）的光取出线偏振分量的光；把该偏振分量的光照在液晶盒（２３）上以使得该光的光轴（Ｂ）与液晶盒（２３）的法线成倾斜的角度（θ）；基于透过液晶盒（２３）后出射的光的与偏振分量成直角方向的偏振分量中的光强度，求出光强度透射率（Ｔｃ）；用该光强度透射率（Ｔｃ）、液晶的正常光折射率（ｎｏ）和异常光折射率（ｎｅ）、角度（θ）以及液晶的厚度（ｄ），求出液晶的倾角（β）。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及向液晶屏封入了垂直取向(VA)模式的液晶(以下称VA液晶)或水 平取向(IPS :面内切换)模式的液晶(以下称IPS液晶)的状态下的该液晶盒的倾角测 定方法和装置。 本专利技术尤其涉及在具有多畴结构的VA液晶盒中，该液晶盒的倾角测定方法和装置。
技术介绍
图9示出VA液晶盒的多畴结构。在向相对置的玻璃基片11、12之间注入了液晶 的液晶盒的各像素区域中，在一个玻璃基片12上的取向膜的表面或底层设置突起状的结 构物31。根据该构成，一像素内的各区域(称为畴)中的液晶分子a的取向在各个畴中 向不同方向倾斜。 在没有电压时，各液晶分子a因结构物31而相对于基片面在各个畴中向不同方向 稍微倾斜(该角度称为倾角，尤其指未施加电压时的倾角，也称为预倾角)。如果施加 电压，则液晶分子向预先倾斜的方向大幅度倾斜。由于在像素中的各个畴中该倾斜方向为 不同的方向，所以获得视野角宽的优良的液晶显示器。 作为现有的VA液晶盒的倾角测定方法，在液晶盒的两面上配置了偏振元件和检 测元件的状态下，从配置了偏振元件的一侧向液晶盒照射具有单一波长的光束。此时，一边 使偏振元件和检测元件各自的透射轴相互本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种液晶盒的倾角测定方法，其特征在于：从光源取出线偏振分量的光；把该偏振分量的光照在液晶盒上以使得该光的光轴与上述液晶盒的法线成倾斜的角度；测定透过上述液晶盒后出射的光中的、在与光的行进方向垂直的面内与上述偏振分量成直角方向的偏振分量中的光强度，求出光强度透射率；用该光强度透射率、上述液晶的正常光折射率和异常光折射率、上述倾斜的角度以及上述液晶的厚度，求出上述液晶的倾角。

【技术特征摘要】
JP 2008-10-30 2008-280083一种液晶盒的倾角测定方法，其特征在于从光源取出线偏振分量的光；把该偏振分量的光照在液晶盒上以使得该光的光轴与上述液晶盒的法线成倾斜的角度；测定透过上述液晶盒后出射的光中的、在与光的行进方向垂直的面内与上述偏振分量成直角方向的偏振分量中的光强度，求出光强度透射率；用该光强度透射率、上述液晶的正常光折射率和异常光折射率、上述倾斜的角度以及上述液晶的厚度，求出上述液晶的倾角。2. 如权利要求1所述的液晶盒的倾角测定方法，其特征在于求出上述液晶的倾角的工序包括作为上述倾斜的角度的函数，求出上述液晶的上述倾角与把倾斜的液晶在上述液晶盒中的与光的行进方向垂直的面内投影时该投影面内的液晶的倾角的关系的第一工序；以及作为上述光强度透射率的函数，求出上述液晶的上述倾角与把倾斜的液晶在上述液晶盒中的与光的行进方向垂直的面内投影时该投影面内的液晶的倾角的关系的第二工序。3. 如权利要求2所述的液晶盒的倾角测定方法，其特征在于上述第一工序中的函数包含液晶的折射率作为变量，上述第二工序中的函数包含上述正常光折射率与异常光折射率的折射率差和在液晶内部的光路长度分别作为变量。4. 如权利要求1或2所述的液晶盒的倾角测定方法，其特征在于上述液晶盒在一个像素内包含多个畴，上述液晶按上述各个畴朝着不同的方向倾斜，上述光强度透射率包含上述液晶盒的所有畴的面积中的、倾角朝着与上述光轴不平行的方向的畴的面积所占的比例作为系数。5. 如权利要求1或2所述的液晶盒的倾角测定方法，其特征在于上述光轴与上述液晶盒的法线所成的倾斜的角度在25度 80度的范围内。6. 如权利要求1或2所述的液晶盒的倾角测定方法，其特征在于上述光强度透射率是，用透过上述液晶盒后出射的光的光强度除透过上述液晶盒后出射的光的、与上述偏振分量成直角方向的偏振分量中的光强度而得到的。7. 如权利要求6所述的液晶盒的倾角测定方法，其特征在于用透过上述液晶盒后出射的光的、与上述偏振分量成直角方向的偏振分量中的光强度与透过上述液晶盒后出射...

【专利技术属性】
技术研发人员：杉田一纮，铜田知广，
申请(专利权)人：大塚电子株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]