本技术涉及一种用于芯片测试的分选机械臂，包括基座和吸嘴，基座内设有安装槽，安装槽内对称设有抓取座，抓取座用于连接吸嘴，抓取座内设有气道，气道在抓取座底部形成延伸端，基座内设有便于软管穿入安装槽与延伸端连接的连接孔，抓取座下方设有与抓取座...

本实用新型涉及一种用于电路板测试的放置支架，包括横板和垂直固定于横板的竖板，横板上设有第一放置槽，第一放置槽为多个且彼此间隔设置，竖板上设有与第一放置槽相对的第二放置槽，第一放置槽一侧设有水平延伸的第一拓展槽，第一拓展槽内设有夹块，横板...

本实用新型涉及一种用于芯片测试座连接的排针连接器，包括排针和固定座，固定座上设有与排针数量相适配的插孔，固定座通过插孔套装固定在排针外周，排针位于远离固定座的一侧设有连接座，连接座上设有与排针数量相适配的卡槽，连接座通过卡槽与排针构成卡...

本实用新型涉及一种便于散热的芯片测试座，包括底座，底座上设有可开启的面盖，底座内设有安装槽，安装槽内沿高度方向从上至下依次设有相互连接的芯片定位板、芯片连接板以及探针连接板，面盖设有贯穿面盖的通风孔，通风孔与安装槽连通，面盖上连接有US...

本实用新型涉及一种适用多类型芯片测试的芯片测试座，包括底座，底座上枢接有面盖，底座内设有安装槽，安装槽内依次设有相互连接的芯片定位板、芯片连接板以及探针连接板，芯片定位板与芯片连接板之间可拆卸连接，面盖上设有连接腔，连接腔内设有压块，连...

本实用新型涉及一种用于提高芯片测试效率的机械臂，包括基座和抓取座，基座上设有多个安装工位，安装工位设有卡接凸起，抓取座两侧设有凸缘，凸缘设有贯穿凸缘的卡孔，抓取座底部设有向下延伸的延伸部，延伸部内设有气道，气道向上延伸并在抓取座背向延伸...

本实用新型涉及一种便于芯片压合的旋盖式芯片测试座，包括底座，底座上设有面板，底座内设有安装腔，安装腔内依次设有相互连接的芯片定位板、芯片连接板以及探针连接板，面板上设有可沿高度方向进行滑动的压盖，压盖位于朝向芯片连接板的一侧设有可伸缩的...

本实用新型涉及一种便捷开启的翻盖式芯片测试座，包括底座，底座上枢接有面盖，底座内设有安装槽，安装槽内设有芯片连接板，芯片连接板上方设有芯片定位板，底座底部设有与芯片连接板连接的探针连接板，面盖底部设有卡钩，底座内壁设有凹陷形成的卡槽，底...

本实用新型涉及一种便于芯片定位导向的芯片测试座，包括底座，底座上枢接有面盖，底座内设有空腔，面盖用于将空腔开启或关闭，空腔内设有芯片连接板，芯片连接板下方设有与芯片连接板连接的探针连接板，探针连接板用于与芯片测试机连接，芯片连接板上方设...