【技术实现步骤摘要】
一种便捷开启的翻盖式芯片测试座
[0001]本技术涉及芯片测试领域，具体涉及一种便捷开启的翻盖式芯片测试座。
技术介绍
[0002]在半导体领域中，为了对产品的品质进行把控，在出厂前需要对对IC组件进行相应的测试，并且随着时代的发展，采用测试座将芯片与芯片测试机连接的方式，已逐步取代直接将待测芯片焊接于测试电路板上与芯片测试机连接的方式，通过采用测试座连接的方式，能够便于待测芯片的安装，从而有效提高对芯片批量测试的效率。
[0003]例如，公告号为CN214409200U的中国专利文件，公开了一种翻盖式PCB芯片测试座，主要包括：底座、翻盖，所述底座和翻盖之间铰接，所述翻盖朝向底座的一面设置有一下压部件，所述底座内设置有针组件，在所述针组件的上方设置有一浮板，所述浮板与针组件之间设置有弹簧，所述浮板处开设有若干通孔，所述浮板的上方设置有芯片导向块，所述芯片导向块的位置与下压部件相对应。
[0004]由上述公开的内容可知，通过将芯片放入至芯片导向块内，使得芯片的底部锡球能够与浮板接触连接，在将翻盖盖合后，下压部...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种便捷开启的翻盖式芯片测试座，其特征在于，包括底座，所述底座上枢接有面盖，所述底座内设有安装槽，所述面盖用于将安装槽开启或关闭，所述安装槽内设有芯片连接板，所述芯片连接板上方设有芯片定位板，所述底座底部设有与芯片连接板连接的探针连接板，所述面盖底部设有卡钩，所述底座内壁设有凹陷形成的卡槽，所述卡钩可卡入卡槽，并构成两者之间的卡接配合，所述底座内转动连接有旋转杆，所述旋转杆一端作为推动端，所述推动端延伸至卡槽，所述旋转杆与底座之间连接有用于带动旋转杆复位的扭簧，所述底座外壁设有按钮，所述按钮底部设有朝向旋转杆延伸的按压端，通过按钮下压，使得按压端顶压旋转杆以带动旋转杆转动，将卡钩从卡槽内推出。2.根据权利要求1所述的一种便捷开启的翻盖式芯片测试座，其特征...
【专利技术属性】
技术研发人员：范彩凤，
申请(专利权)人：北臻浙江电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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