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本实用新型涉及一种便捷开启的翻盖式芯片测试座，包括底座，底座上枢接有面盖，底座内设有安装槽，安装槽内设有芯片连接板，芯片连接板上方设有芯片定位板，底座底部设有与芯片连接板连接的探针连接板，面盖底部设有卡钩，底座内壁设有凹陷形成的卡槽，底座内...
该专利属于北臻（浙江）电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北臻（浙江）电子科技有限公司授权不得商用。

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