【技术实现步骤摘要】
本技术涉及芯片测试，具体涉及一种用于芯片测试的分选机械臂。
技术介绍
1、芯片是半导体元件产品的统称,又称微电路、微芯片、集成电路。是指内含集成电路的硅片,体积很小,常常是计算机或其他电子设备的一部分。由于芯片生产需经过几百步的工艺，任何一步的错误都可能导致器件失效，因此芯片在出厂前需要通过芯片分选机对其各项性能进行检测，在检测时，一般通过机械手将芯片抓取后放入到测试座中，并通过相应的光学测试模块实现对芯片的检测，而常用的抓取方式一般通过由仿真机械手进行直接抓取或者通过吸盘进行吸附抓取，而仿真机械手的结构一般需要与芯片外形和大小相适配，适用要求较高，因此在大多数情况下主要采用吸盘式的机械臂。
2、例如，公告号为cn211578718u的中国专利文件，公开了一种应用于芯片测试的吸嘴传动结构包括连接基板、吸嘴固定块、压块、吸嘴、搭扣，所述连接基板、吸嘴固定块、压块从下到上依次设置，所述搭扣设置于连接基板的两侧，所述连接基板上设有第一凹槽，所述压块上设有第二凹槽，所述压块和连接基板连接，所述第一凹槽和第二凹槽配合形成一空间腔体，其内固定连接吸嘴固定块，所述吸嘴贯穿吸嘴固定块和压块。
3、由上述公开的内容可知，在上述技术方案中吸嘴通过吸嘴固定块安装于连接基板，并在连接基板和吸嘴固定块之间设有弹簧，可起到在抓取芯片的过程中对吸嘴进行缓冲，保护吸嘴不受损坏，然而在实际使用时，测试不同规格的芯片需要配备不同规格的测试座，导致相邻测试座之间的间距产生变化，为了确保吸嘴能够将芯片准确抓取至测试座中，需要对相邻吸嘴之间的间距
技术实现思路
1、针对现有技术存在的不足，本技术的目的在于提供一种用于芯片测试的分选机械臂，能够便捷的对相邻吸嘴之间的间距进行调节，以通过减少对机械臂调试的时间，来提高整体对芯片测试的效率。
2、为实现上述目的，本技术提供了如下技术方案：一种用于芯片测试的分选机械臂，其特征在于，包括基座和吸嘴，所述基座内设有安装槽，所述安装槽内对称设有抓取座，所述抓取座用于连接吸嘴，所述抓取座内设有气道，所述气道在抓取座底部形成延伸端，所述基座内设有便于软管穿入安装槽与延伸端连接的连接孔，所述抓取座下方设有与抓取座连接的同步调节装置，所述同步调节装置用于使得两侧抓取座相向移动或相背移动，以实现相邻吸嘴之间间距的调节。
3、本技术进一步设置为：所述同步调节装置包括双向丝杠，所述双向丝杠两端转动连接于安装槽，所述抓取座底部作为连接部，两侧所述连接部分别设有与双向丝杠两端相适配的螺纹，所述抓取座通过连接部套装于双向丝杠，并构成螺纹配合。
4、本技术进一步设置为：所述基座两侧内壁设有与双向丝杠平行的导向槽，所述抓取座两侧分别设有与两侧导向槽相对应的导向部，所述导向部延伸至导向槽内，当双向丝杠转动时，所述导向部在导向槽内滑动，以确保抓取座水平移动。
5、本技术进一步设置为：所述导向部的顶部和底部分别设有连接槽，所述连接槽为多个且彼此间隔设置，所述连接槽内转动连接有滑轮，所述滑轮抵接于导向槽内。
6、本技术进一步设置为：所述延伸端向外延伸，所述抓取座位于背向延伸端的一侧设有用于连接吸嘴的连接端。
7、与现有技术相比，本技术的有益效果在于：
8、由于在安装槽内对称设置用于连接吸嘴的抓取座，并在抓取座的下方设置与抓取座连接的同步调节装置，通过同步调节装置能够使得两侧的抓取座同时进行移动，使得两侧的抓取座能够相向移动或相背移动，以实现相邻吸嘴之间间距的快速调节，所以，有效解决了在现有技术中相邻吸嘴之间的间距在调节时存在不便的技术问题，进而能够便捷的对相邻吸嘴之间的间距进行调节，以通过减少对机械臂调试的时间，来提高整体对芯片测试的效率。
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1.一种用于芯片测试的分选机械臂，其特征在于，包括基座和吸嘴，所述基座内设有安装槽，所述安装槽内对称设有抓取座，所述抓取座用于连接吸嘴，所述抓取座内设有气道，所述气道在抓取座底部形成延伸端，所述基座内设有便于软管穿入安装槽与延伸端连接的连接孔，所述抓取座下方设有与抓取座连接的同步调节装置，所述同步调节装置用于使得两侧抓取座相向移动或相背移动，以实现相邻吸嘴之间间距的调节。
2.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试的分选机械臂，其特征在于，所述同步调节装置包括双向丝杠，所述双向丝杠两端转动连接于安装槽，所述抓取座底部作为连接部，两侧所述连接部分别设有与双向丝杠两端相适配的螺纹，所述抓取座通过连接部套装于双向丝杠，并构成螺纹配合。
3.根据权利要求2所述的一种用于芯片测试的分选机械臂，其特征在于，所述基座两侧内壁设有与双向丝杠平行的导向槽，所述抓取座两侧分别设有与两侧导向槽相对应的导向部，所述导向部延伸至导向槽内，当双向丝杠转动时，所述导向部在导向槽内滑动，以确保抓取座水平移动。
4.根据权利要求3所述的一种用于芯片测试的分选机械臂，其特征在于，所
5.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试的分选机械臂，其特征在于，所述延伸端向外延伸，所述抓取座位于背向延伸端的一侧设有用于连接吸嘴的连接端。
...【技术特征摘要】
1.一种用于芯片测试的分选机械臂，其特征在于，包括基座和吸嘴，所述基座内设有安装槽，所述安装槽内对称设有抓取座，所述抓取座用于连接吸嘴，所述抓取座内设有气道，所述气道在抓取座底部形成延伸端，所述基座内设有便于软管穿入安装槽与延伸端连接的连接孔，所述抓取座下方设有与抓取座连接的同步调节装置，所述同步调节装置用于使得两侧抓取座相向移动或相背移动，以实现相邻吸嘴之间间距的调节。
2.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试的分选机械臂，其特征在于，所述同步调节装置包括双向丝杠，所述双向丝杠两端转动连接于安装槽，所述抓取座底部作为连接部，两侧所述连接部分别设有与双向丝杠两端相适配的螺纹，所述抓取座通过连接部套装于双向丝杠，并构成...
【专利技术属性】
技术研发人员：范彩凤，
申请(专利权)人：北臻浙江电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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