一种便于芯片定位导向的芯片测试座制造技术

本实用新型专利技术涉及一种便于芯片定位导向的芯片测试座，包括底座，底座上枢接有面盖，底座内设有空腔，面盖用于将空腔开启或关闭，空腔内设有芯片连接板，芯片连接板下方设有与芯片连接板连接的探针连接板，探针连接板用于与芯片测试机连接，芯片连接板上方设有辅助导向板，辅助导向板用于确保芯片在与芯片连接板连接的过程中，芯片的引脚与芯片连接板保持垂直，辅助导向板上设有贯穿的导向口，导向口内设有向内偏移形成的承接部，承接部用于对芯片的外框支撑。本实用新型专利技术具有以下优点和效果：通过设置辅助导向板，在与芯片连接板连接的过程中确保待测芯片的引脚垂直于芯片连接板，防止芯片在连接的过程中产生损坏。止芯片在连接的过程中产生损坏。止芯片在连接的过程中产生损坏。

【技术实现步骤摘要】
一种便于芯片定位导向的芯片测试座


[0001]本技术涉及芯片测试
，具体涉及一种便于芯片定位导向的芯片测试座。

技术介绍

[0002]在半导体领域中，为了对产品的品质进行把控，在出厂前需要通过芯片测试机对芯片的单个IC元器件以及各电路网络的开、短路情况，以及模拟器件功能和数字器件逻辑功能进行相应的测试，为了便于将待测芯片连接到芯片测试机，目前主要采用芯片测试座实现待测芯片与芯片测试机的快捷连接。
[0003]例如，公告号为CN214409200U的中国专利文件，公开了一种翻盖式PCB芯片测试座，主要包括：底座、翻盖，所述底座和翻盖之间铰接，所述翻盖朝向底座的一面设置有一下压部件，所述底座内设置有针组件，在所述针组件的上方设置有一浮板，所述浮板与针组件之间设置有弹簧，所述浮板处开设有若干通孔，所述浮板的上方设置有芯片导向块，所述芯片导向块的位置与下压部件相对应。
[0004]由上述公开的内容可知，通过将翻盖盖合后，下压部件能够与芯片接触并下压芯片，使得芯片带动芯片导向块下压，同时，浮板也相应地下压，冲压针与芯片底部锡球接触，当达到平衡位置时，浮板停止下降，芯片完成与冲压针的连接，然而，专利技术人在实施上述方案的过程中发现，芯片在放入芯片导向块时无法确保芯片垂直放入芯片导向块，并且芯片下压的过程中容易受外界因素的影响与芯片导向块之间存在偏差角度，从而导致芯片底部引脚无法垂直正对于冲压针，容易在连接时造成芯片的损坏。

技术实现思路

[0005]针对现有技术存在的不足，本技术的目的在于提供一种便于芯片定位导向的芯片测试座，能够在与芯片连接板连接的过程中确保待测芯片的引脚垂直于芯片连接板，防止芯片在连接的过程中产生损坏。
[0006]为实现上述目的，本技术提供了如下技术方案：一种便于芯片定位导向的芯片测试座，包括底座，所述底座上枢接有面盖，所述底座内设有空腔，所述面盖用于将空腔开启或关闭，所述空腔内设有芯片连接板，所述芯片连接板下方设有与芯片连接板连接的探针连接板，所述探针连接板用于与芯片测试机连接，所述芯片连接板上方设有辅助导向板，所述辅助导向板用于确保芯片在与芯片连接板连接的过程中，芯片的引脚与芯片连接板保持垂直，所述辅助导向板上设有贯穿的导向口，所述导向口内设有向内偏移形成的承接部，所述承接部用于对芯片的外框支撑。
[0007]本技术进一步设置为：所述辅助导向板内侧壁设有安装槽，所述安装槽内设有顶压弹簧，所述顶压弹簧为多个并彼此间隔设置，所述顶压弹簧一端固定于安装槽槽底，另一端连接有夹块，当芯片放置于承接部时，所述夹块顶压于芯片的外框。
[0008]本技术进一步设置为：所述底座的两侧内壁分别设有导向槽，所述辅助导向
板的两侧外壁分别设有与两侧导向槽对应的导向块，所述导向块延伸至导向槽内，并构成对辅助导向板水平方向的限位配合。
[0009]本技术进一步设置为：所述导向块侧壁设有连接槽，所述连接槽为多个并沿竖直方向彼此间隔设置，所述连接槽内转动连接有滑轮，所述导向槽内设有与滑轮相对的滑轨，所述滑轮与滑轨构成滑动配合。
[0010]本技术进一步设置为：所述夹块外壁设有凸出的定位块，所述安装槽内设有与定位块对应的定位槽，所述定位块位于定位槽内。
[0011]与现有技术相比，本技术的有益效果在于：
[0012]通过设置辅助导向板，在将待测芯片通过测试座与芯片测试机连接时，通过将待测芯片放入导向口，由承接部对芯片的外框进行支撑，该辅助导向板与芯片连接板平行，此时仅需确保将芯片放入导向口后，芯片与承接部平行便能保障芯片底部的引脚垂直于芯片连接板，随后再通过辅助导向板对平行放入承接部的芯片进行限位，从而能够防止面盖盖合后，在下压芯片朝向芯片连接板移动时芯片产生偏转，所以有效解决了现有的测试座在下压芯片的过程中，芯片容易受外界因素的影响产生偏转的技术问题，进而能够在与芯片连接板连接的过程中确保待测芯片的引脚垂直于芯片连接板，防止芯片在连接的过程中产生损坏。
附图说明
[0013]图1为本技术内部结构示意图；
[0014]图2为本技术中底座的俯视结构示意图；
[0015]图3为本技术中辅助导向板与底座的连接结构示意图；
[0016]图4为本技术A处局部放大结构示意图；
[0017]图5为本技术B处局部放大结构示意图。
具体实施方式
[0018]下面将结合附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0019]在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0020]如图1至图5所示，本技术公开了一种便于芯片定位导向的芯片测试座，包括底座1，底座1上枢接有面盖2，底座1内设有空腔3，面盖2用于将空腔3开启或关闭，空腔3内设有芯片连接板4，芯片连接板4下方设有与芯片连接板4连接的探针连接板5，探针连接板5用于与芯片测试机连接，芯片连接板4上方设有辅助导向板6，辅助导向板6用于确保芯片在与芯片连接板4连接的过程中，芯片的引脚与芯片连接板4保持垂直，辅助导向板6上设有贯穿的导向口61，导向口61内设有向内偏移形成的承接部62，承接部62用于对芯片的外框支
撑，在将待测芯片通过测试座与芯片测试机连接时，通过将待测芯片放入导向口61，由承接部62对芯片的外框进行支撑，该辅助导向板6与芯片连接板4平行，此时仅需确保将芯片放入导向口61后，芯片与承接部62平行便能保障芯片底部的引脚垂直于芯片连接板4，随后再通过辅助导向板6对平行放入承接部62的芯片进行限位，从而能够防止面盖2盖合后，在下压芯片朝向芯片连接板4移动时芯片产生偏转，进而能够在与芯片连接板4连接的过程中确保待测芯片的引脚垂直于芯片连接板4，防止芯片在连接的过程中产生损坏。
[0021]本实施例中，辅助导向板6对放入承接部62的芯片的限位结构为，在辅助导向板6内侧壁设有安装槽63，安装槽63内设有顶压弹簧7，顶压弹簧7为多个并彼此间隔设置，顶压弹簧7一端固定于安装槽63槽底，另一端连接有夹块8，当芯片放置于承接部62时，芯片的外框能够对夹块8进行顶压，使得与夹块8连接的弹簧受力产生形变，弹簧因形变产生的反作用力能够作用于夹块8，使得夹块8能够对芯片的外框进行紧密顶压，构成对芯片水平方向的限位配合，从而能够防止平行放入承接部62的芯片在下移的过程中产生偏转。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种便于芯片定位导向的芯片测试座，其特征在于，包括底座，所述底座上枢接有面盖，所述底座内设有空腔，所述面盖用于将空腔开启或关闭，所述空腔内设有芯片连接板，所述芯片连接板下方设有与芯片连接板连接的探针连接板，所述探针连接板用于与芯片测试机连接，所述芯片连接板上方设有辅助导向板，所述辅助导向板用于确保芯片在与芯片连接板连接的过程中，芯片的引脚与芯片连接板保持垂直，所述辅助导向板上设有贯穿的导向口，所述导向口内设有向内偏移形成的承接部，所述承接部用于对芯片的外框支撑。2.根据权利要求1所述的一种便于芯片定位导向的芯片测试座，其特征在于，所述辅助导向板内侧壁设有安装槽，所述安装槽内设有顶压弹簧，所述顶压弹簧为多个并彼此间隔设置，所述顶压弹簧一端固定于安装槽槽底，另一端连接有夹...

【专利技术属性】
技术研发人员：范彩凤，
申请(专利权)人：北臻浙江电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：