本技术属于晶圆测试技术领域，尤其涉及一种探针卡固定工装及维护系统，该探针卡固定工装用于将探针卡固定于不同的维护装置上，该探针卡固定工装包括固定板和底座，固定板上设置有承载孔，探针卡可拆卸的设置于固定板上，探针卡的探针穿过承载孔；底座设置...

本技术属于鱼丝定型技术领域，公开了一种用于打点器鱼丝拉直的工具。用于打点器鱼丝拉直的工具包括箱体、固定支架、弹性件、盖板、进气口和散热孔；固定支架包括相对设置在箱体内的第一支架和第二支架，第一支架与第二支架中至少一者能相对于箱体移动；弹...

本技术属于芯片拍摄技术领域，尤其涉及一种摄像调节桌，该摄像调节桌包括桌体、支撑架、滑杆组件和摄像头，支撑架固定于桌体；滑杆组件包括横滑杆和竖滑杆，横滑杆和竖滑杆上都设置有滑槽，横滑杆能够相对于支撑架沿X轴方向移动，竖滑杆能够相对于横滑杆...

本技术涉及芯片封装技术领域，尤其涉及一种芯片剥离装置，用于将芯片从载带和盖带上剥离，包括支撑机构和剥离机构，支撑机构包括沿第一方向相对间隔设置的第一支撑架和第二支撑架；剥离机构固定在支撑机构上，剥离机构包括收集部和分离部，收集部包括止挡...

本技术属于半导体设备技术领域，公开了一种测试板保护装置及测试套件。其中，测试板保护装置用于保护测试板表面的元器件，测试板保护装置包括盖体，盖体用于罩设测试板，且盖体开设有上下连通的避让孔，避让孔用于避让测试板表面的测试元件的接口。使用者...

本技术公开了一种射频连接器固定装置，属于通信设备技术领域。射频连接器固定装置包括底座和固定件，底座包括第一连接部和第一固定部，第一连接部能与测试板连接；或底座通过第一连接部与测试板一体成型；固定件包括第二连接部和第二固定部，第二连接部与...

本技术公开了一种移动保护设备，涉及仪器运输技术领域。本技术的移动保护设备包括支架组件、第一放置平台和移动组件。第一放置平台设置在支架组件上，第一放置平台上方形成第一承载部，第一承载部的周向设置有多个围板，第一承载部用于放置承载物品，且第...

本实用新型公开了一种芯片烘烤装置，属于芯片设备技术领域

本发明提供了一种基于ATE平台的校准方法及装置，该装置包括：自动测试机、外围基准源设备、转接板、分选机；自动测试机与外围基准源设备连接，外围基准源设备用于产生基准信号；外围基准源设备与转接板连接；转接板与分选机的引线连接，转接板用于接收...

本实用新型涉及生产制造技术领域，尤其涉及一种调温装置，包括第一调温模块、第二调温模块和气体输入模块。第一调温模块包括支撑架和多个调温管，支撑架能够支撑调温管并调节相邻调温管的距离，每个调温管均具有第一进气口和多个第一出气口。第二调温模块...

本发明公开了一种射频芯片的自动补偿方法及系统、设备与介质，自动补偿方法包括步骤：对射频芯片测试第一预设次数，根据各次抓取的第一采样测试数据的平均值和预设标准值，确定补偿差值；代入补偿差值后，对射频芯片测试第二预设次数，根据各次抓取的第二...

本发明提供了一种感温芯片的量产校准方法及装置，该方法包括：安装对应设备的测试负载板，将感温模块固定在测试对接盘中，并将感温模块与测试负载板连接；通过所述感温模块获得当前环境实际温度；根据当前环境实际温度判断所述感温模块是否异常；读取被测...

本发明提供了一种基于ATE平台的芯片测试方法及装置，该方法包括：测试机获取测试数据，将测试数据上传到服务器；数据分析单元解析测试机上传的数据，得到并记录晶圆测试或者成品测试的测试结果；根据测试结果，计算每个测试项的优先级；根据每个测试项...

本申请提供了一种集成电路测试过程中温度测量方法及装置，涉及集成电路测试领域，方法包括：在处理模块中建立与集成电路匹配的电路模型，并建立图像分析模型，电路模型由多个虚拟电路模块组成，将处理模块与测试设备连接，测试设备记录实测电路模块编号，...

本申请提供了一种芯片测试数据文档导出方法及系统，涉及数据处理领域，方法包括：将测试数据传输至内部存储器；处理器对测试数据进行处理，将每次测试完成的时间作为测试时间戳，用测试时间戳对各组测试数据进行标记；将被测试时间戳标记的测试数据作为内...