一种芯片测试数据文档导出方法及系统技术方案

本申请提供了一种芯片测试数据文档导出方法及系统，涉及数据处理领域，方法包括：将测试数据传输至内部存储器；处理器对测试数据进行处理，将每次测试完成的时间作为测试时间戳，用测试时间戳对各组测试数据进行标记；将被测试时间戳标记的测试数据作为内部中间数据的一部分；将测试时间戳同步备份至外部存储器作为外部中间数据；将同一芯片的内部中间数据作为一个内部文档；将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容在内部存储器中查找，若查找到，则调取内部存储器中被该测试时间戳标记的内部中间数据；将所有调取的内部中间数据打包导出至外部存储器作为导出文档。有助于避免将其他测试员的测试数据导出造成数据混淆和机密泄露。淆和机密泄露。淆和机密泄露。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试数据文档导出方法及系统


[0001]本申请涉及数据处理
，尤其涉及一种芯片测试数据文档导出方法及系统。

技术介绍

[0002]芯片测试数据通常包括功能测试、性能测试、可靠性测试等，不同的芯片、不同批次、不同的测试项目可能由不同的测试员进行测试，测试员在完成测试后，有时需要调取历史数据进行核对或分析，然而现有技术中的芯片测试数据通常汇总保存在内部存储器中，测试员导出芯片测试数据的时候可能会将其他测试员的测试数据一起导出，不仅容易造成数据混淆还容易造成机密泄漏(有些测试包含敏感数据)。

技术实现思路

[0003]本申请提供一种芯片测试数据文档导出方法及系统，用于解决现有技术中导出芯片测试数据的时候容易造成数据混淆和机密泄露的技术问题。
[0004]在本申请的第1方面中，提供了一种芯片测试数据文档导出方法，包括如下步骤：
[0005]第一步、数据的采集：将外部存储器以及内部存储器分别与处理器连接；用测试设备对芯片进行测试获得测试数据，将测试数据传输至内部存储器；
[0006]第二步、数据的预处理：处理器对测试数据进行处理，将每次测试获得的测试数据作为一组数据，将每次测试完成的时间作为测试时间戳，用测试时间戳对各组测试数据进行标记；将被测试时间戳标记的测试数据作为内部中间数据的一部分；将测试时间戳同步备份至外部存储器作为外部中间数据；将同一芯片的内部中间数据作为一个内部文档；
[0007]第三步、数据的导出：在导出数据时，处理器读取外部存储器中的外部中间数据，并逐一将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容在内部存储器中查找，若查找到内部存储器中存在与其相同的内容，则调取内部存储器中被该测试时间戳标记的内部中间数据；将所有调取的内部中间数据打包导出至外部存储器作为导出文档。
[0008]在第1方面的一些实施方式中，所述内部中间数据包括：芯片ID、测试项目、测试员ID、测试数据、测试时间戳。
[0009]在第1方面的一些实施方式中，所述内部文档中的各组所述内部中间数据包括依次排列的测试时间戳、芯片ID、测试项目、测试员ID、测试数据。
[0010]在第1方面的一些实施方式中，打包的各组所述内部中间数据包括测试时间戳、芯片ID、测试数据。
[0011]在第1方面的一些实施方式中，所述导出文档中的各组所述内部中间数据包括依次排列的测试时间戳、芯片ID、测试数据。
[0012]在第1方面的一些实施方式中，所述逐一将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容包括：
[0013]若外部中间数据中的测试时间戳数量大于等于3个，则对外部中间数据中的所有
测试时间戳按时序进行排列，按时序依次将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容。
[0014]在第1方面的一些实施方式中，所述逐一将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容包括：
[0015]若当前外部中间数据中的测试时间戳在时序上的排序小于3，则将当前外部中间数据中的测试时间戳作为查找内容。
[0016]在第1方面的一些实施方式中，所述逐一将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容包括：
[0017]若当前外部中间数据中的测试时间戳在时序上的排列大于等于3，则计算下一个外部中间数据中的测试时间戳和当前外部中间数据中的测试时间戳之间的时间差，若时间差大于等于每次测试完成的最短时间，则将当前外部中间数据中的测试时间戳作为查找内容。
[0018]在第1方面的一些实施方式中，所述逐一将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容包括：、
[0019]若时间差小于每次测试完成的最短时间，则终止导出任务。
[0020]在本申请的第2方面中，提供了一种芯片测试数据文档导出系统，包括内部存储器、处理器和数据传输接口，所述处理器分别与所述内部存储器以及所述数据传输接口连接，所述数据传输接口分别与测试设备以及外部存储器连接；
[0021]所述内部存储器包括内部程序存储模块和内部数据存储模块，所述内部程序存储模块中存储有计算机程序，所述计算机程序适于被所述处理器执行以实现如第1方面所述的芯片测试数据文档导出方法；
[0022]所述内部数据存储模块用于存储内部中间数据和内部文档；
[0023]所述内部程序存储模块包括：
[0024]内部中间数据存储模块，采集并存储内部中间数据，所述内部中间数据包括芯片ID、测试项目、测试员ID、测试数据、测试时间戳；
[0025]内部中间数据处理模块，对测试数据进行处理，将每次测试获得的测试数据作为一组数据，将每次测试完成的时间作为测试时间戳，用测试时间戳对各组测试数据进行标记，将被测试时间戳标记的测试数据作为内部中间数据的一部分，将芯片ID、测试项目、测试员ID、测试数据作为内部中间数据的另一部分；
[0026]内部文档存储模块，将同一芯片的内部中间数据作为一个内部文档；
[0027]外部中间数据存储模块，将内部中间数据的测试时间戳同步备份至外部存储器作为外部中间数据；
[0028]数据导出模块，逐一将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容在内部存储器中查找，若查找到内部存储器中存在与其相同的内容，则调取内部存储器中被该测试时间戳标记的内部中间数据，将所有调取的内部中间数据打包导出至外部存储器作为导出文档，打包的各组所述内部中间数据包括测试时间戳、芯片ID、测试数据。
[0029]本申请具有如下有益效果：
[0030]测试员使用测试设备对芯片进行测试的过程中，测试数据传输给内部存储器，处理器对测试数据进行预处理，得到内部中间数据，多组内部中间数据组合在一起保存为内
部文档，每组内部中间数据包含测试完成时的测试时间戳，测试时间戳作为内部中间所数据的标记，测试的过程中，测试时间戳备份至测试员的外部存储器中，某个测试员需要导出由其测试所得的测试数据时，以测试时间戳为查找内容定位对应的测试数据，将该测试数据导出至外部存储器，有助于避免将其他测试员的测试数据导出造成数据混淆和机密泄露。
附图说明
[0031]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0032]图1是本申请实施例中内部存储器中所存储的数据的结构示意图；
[0033]图2是本申请实施例中外部存储器所存储的数据的结构示意图；
[0034]图3是本申请实施例中芯片测试数据文档导出系统的结构示意图。
[0035]附图标记：
[0036]100、内部存储器；110、内部程序存储模块；111、内部中间数据存储模块；112、内部中间数据处理模块；113、内部文档存储模块；114、外部中间数据存储模块；115、数据导出模块；120、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试数据文档导出方法，其特征在于，包括如下步骤：第一步、数据的采集：将外部存储器以及内部存储器分别与处理器连接；用测试设备对芯片进行测试获得测试数据，将测试数据传输至内部存储器；第二步、数据的预处理：处理器对测试数据进行处理，将每次测试获得的测试数据作为一组数据，将每次测试完成的时间作为测试时间戳，用测试时间戳对各组测试数据进行标记；将被测试时间戳标记的测试数据作为内部中间数据的一部分；将测试时间戳同步备份至外部存储器作为外部中间数据；将同一芯片的内部中间数据作为一个内部文档；第三步、数据的导出：在导出数据时，处理器读取外部存储器中的外部中间数据，并逐一将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容在内部存储器中查找，若查找到内部存储器中存在与其相同的内容，则调取内部存储器中被该测试时间戳标记的内部中间数据；将所有调取的内部中间数据打包导出至外部存储器作为导出文档。2.根据权利要求1所述的芯片测试数据文档导出方法，其特征在于，所述内部中间数据包括：芯片ID、测试项目、测试员ID、测试数据、测试时间戳。3.根据权利要求1所述的芯片测试数据文档导出方法，其特征在于，所述内部文档中的各组所述内部中间数据包括依次排列的测试时间戳、芯片ID、测试项目、测试员ID、测试数据。4.根据权利要求1所述的芯片测试数据文档导出方法，其特征在于，打包的各组所述内部中间数据包括测试时间戳、芯片ID、测试数据。5.根据权利要求1所述的芯片测试数据文档导出方法，其特征在于，所述导出文档中的各组所述内部中间数据包括依次排列的测试时间戳、芯片ID、测试数据。6.根据权利要求1所述的芯片测试数据文档导出方法，其特征在于，所述逐一将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容包括：若外部中间数据中的测试时间戳数量大于等于3个，则对外部中间数据中的所有测试时间戳按时序进行排列，按时序依次将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容。7.根据权利要求6所述的芯片测试数据文档导出方法，其特征在于，所述逐一将外部中间数据中的每个测试时间戳作为查找内容包括：若当前外部中间数据中的测试时间戳在时序上的排序小于3，则将当前外部中间数据中的测试时间戳作为查找内...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏广峰，姜有伟，姜伟伟，
申请(专利权)人：安测半导体技术义乌有限公司，
类型：发明
国别省市：