射频芯片的自动补偿方法及系统、设备及介质技术方案

本发明专利技术公开了一种射频芯片的自动补偿方法及系统、设备与介质，自动补偿方法包括步骤：对射频芯片测试第一预设次数，根据各次抓取的第一采样测试数据的平均值和预设标准值，确定补偿差值；代入补偿差值后，对射频芯片测试第二预设次数，根据各次抓取的第二采样测试数据的平均值和预设标准值，确定补偿差值是否符合要求。本发明专利技术通过提供一种射频芯片的自动补偿方法及系统、设备与介质，克服了手动补偿存在修改错误可能性较高以及效率较低的弊端，通过自动补偿和记录实现了满足量产测试要求的补偿处理，提高了测试效率和精度。提高了测试效率和精度。提高了测试效率和精度。

【技术实现步骤摘要】
射频芯片的自动补偿方法及系统、设备及介质


[0001]本专利技术涉及射频测试
，尤其涉及一种射频芯片的自动补偿方法及系统、设备及介质。

技术介绍

[0002]在现有的射频产品测试中，存在测试值与当前测试环境存在直接关联的情况。例如：测试产品的射频线出现变动，测试硬件磨损需要更换针头，这都会一定情况下影响客户所定义的测试项数值。此时就需要手动进行比对以保存过正确的测试参数。而一般的手动补偿需要对测试程序进行改动，例如：抓取标准芯片取样时，会保存当时的数值，手动补偿就是以保存的标准值与当前测试数值对比，有差异进行还原，这对量产测试来说极其不便利，存在修改错误的可能性，这种错误会对芯片良品存在风险的。会导致不应该达标的产品流出，而且射频产品补偿较为频繁，对生产来说是不可控的。

技术实现思路

[0003]本专利技术要解决的技术问题是为了克服现有技术中的上述缺陷，提供一种射频芯片的自动补偿方法及系统、设备与介质。
[0004]本专利技术是通过下述技术方案来解决上述技术问题：
[0005]本专利技术提供了一种射频芯片的自动补偿方法，包括如下步骤：
[0006]对射频芯片测试第一预设次数，根据各次抓取的第一采样测试数据的平均值和预设标准值，确定补偿差值；
[0007]代入补偿差值后，对射频芯片测试第二预设次数，根据各次抓取的第二采样测试数据的平均值和预设标准值，确定补偿差值是否符合要求。
[0008]较佳地，根据各次抓取的第二采样测试数据的平均值和预设标准值，确定补偿差值是否符合要求的步骤之后包括：若符合要求，则记录第二采样测试数据。
[0009]较佳地，对射频芯片测试第一预设次数的步骤之前包括：
[0010]对射频芯片进行部分功能测试，以使射频芯片进入工作状态。
[0011]较佳地，第一预设次数和第二预设次数均为3次。
[0012]本专利技术还提供了一种射频芯片的自动补偿系统，包括：
[0013]差值确定模块，用于对射频芯片测试第一预设次数，根据各次抓取的第一采样测试数据的平均值和预设标准值，确定补偿差值；
[0014]差值判断模块，用于代入补偿差值后，对射频芯片测试第二预设次数，根据各次抓取的第二采样测试数据的平均值和预设标准值，确定补偿差值是否符合要求。
[0015]较佳地，补偿系统还包括输出模块，用于当补偿差值符合要求时，记录第二采样测试数据。
[0016]较佳地，补偿系统还包括启动模块，用于对射频芯片进行部分功能测试，以使射频芯片进入工作状态。
[0017]较佳地，第一预设次数和第二预设次数均为3次。
[0018]本专利技术还提供了一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行计算机程序时实现上述的射频芯片的自动补偿方法。
[0019]本专利技术还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述的射频芯片的自动补偿方法。
[0020]本专利技术的积极进步效果在于：本专利技术通过提供一种射频芯片的自动补偿方法及系统、设备与介质，通过对射频芯片测试第一预设次数，根据各次抓取的第一采样测试数据的平均值和预设标准值，确定补偿差值；再代入补偿差值后，对射频芯片测试第二预设次数，根据各次抓取的第二采样测试数据的平均值和预设标准值，确定补偿差值是否符合要求。本专利技术克服了手动补偿存在修改错误可能性较高以及效率较低的弊端，通过自动补偿和记录实现了满足量产测试要求的补偿处理，提高了测试效率和精度。
附图说明
[0021]图1为本专利技术实施例1的射频芯片的自动补偿方法的流程图。
[0022]图2为本专利技术实施例2的射频芯片的自动补偿系统的模块示意图。
[0023]图3为本专利技术实施例3的电子产品的结构框图。
具体实施方式
[0024]为了更清楚地说明本说明书实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单的介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本说明书的一些示例或实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图将本说明书应用于其它类似情景。除非从语言环境中显而易见或另做说明，图中相同标号代表相同结构或操作。
[0025]本实施例所提供的基于射频芯片的自动补偿方法可以在智能终端、计算机终端、网络设备、芯片、芯片模组或者类似的运算装置中执行。在本申请中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本申请所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
[0026]实施例1
[0027]参见图1所示，本实施例具体提供了一种射频芯片的自动补偿方法，包括如下步骤：
[0028]S1.对射频芯片进行部分功能测试，以使射频芯片进入工作状态。
[0029]S2.对射频芯片测试第一预设次数，根据各次抓取的第一采样测试数据的平均值和预设标准值，确定补偿差值；
[0030]S3.代入补偿差值后，对射频芯片测试第二预设次数，根据各次抓取的第二采样测试数据的平均值和预设标准值，确定补偿差值是否符合要求。
[0031]S4.若符合要求，则记录第二采样测试数据。
[0032]较佳地，第一预设次数和第二预设次数均为3次。
[0033]本实施例用于基于LAVIEW框架下运行的补偿程序，从主程序中列出相关程序流程，这些程序流程分为current servo，KGU Offset，KGU Check。本领域技术人员可知，上述名称不对本专利技术的构思形成任何限制。
[0034]Current servo是指向芯片进行部分功能测试，使其进入工作状态，期间会扫描频率项。抓取与其测试频率最接近的频率为节点。
[0035]KGU Offset是指对芯片进行机器补偿，对芯片进行自动测试三次(次数可以设定)，取平均值后与标准值做差，其中差值即为补偿数值
[0036]KGU Check是指通过这些确认的补偿值，代入进去进行测试，对测试值设定了更严苛的范围，同样自动测试三次(次数可以设定)，取平均值后与标准值做差，看其有无超过设定标准，如果超了即为补偿失效，如果在设定范围内，即补偿成功，补偿数据自动写入进程序。
[0037]具体地，Production程序列属于同一个流程，不同流程内在于测试值所加的Offset不同。Current Servo程序得Bin1时提示Current Servo Pass,将Offset的数值记录到程序中的socket Offset文件中；测试程序根据Station Global中的Current Process判断程序当前是运行哪个Process。
[0038]Current Process＝“32”时运行Current 本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种射频芯片的自动补偿方法，其特征在于，包括如下步骤：对所述射频芯片测试第一预设次数，根据各次抓取的第一采样测试数据的平均值和预设标准值，确定补偿差值；代入所述补偿差值后，对所述射频芯片测试第二预设次数，根据各次抓取的第二采样测试数据的平均值和预设标准值，确定所述补偿差值是否符合要求。2.如权利要求1所述的射频芯片的自动补偿方法，其特征在于，根据各次抓取的第二采样测试数据的平均值和预设标准值，确定所述补偿差值是否符合要求的步骤之后包括：若符合要求，则记录所述第二采样测试数据。3.如权利要求2所述的射频芯片的自动补偿方法，其特征在于，对所述射频芯片测试第一预设次数的步骤之前包括：对所述射频芯片进行部分功能测试，以使所述射频芯片进入工作状态。4.如权利要求3所述的射频芯片的自动补偿方法，其特征在于，所述第一预设次数和所述第二预设次数均为3次。5.一种射频芯片的自动补偿系统，其特征在于，包括：差值确定模块，用于对所述射频芯片测试第一预设次数，根据各次抓取的第一采样测试数据的平均值和预设标准值，确定补偿差值；差值判断模块，...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏广峰，杨伟清，
申请(专利权)人：安测半导体技术义乌有限公司，
类型：发明
国别省市：