【技术实现步骤摘要】
一种掩膜版及其制备方法、光刻方法
本专利技术涉及光掩膜
,尤其涉及一种掩膜版及其制备方法、光刻方法。
技术介绍
制作显示基板时,经常采用光掩模技术制作显示基板所包含的图案化膜层,这使得在制作显示基板时,需要使用大量的掩膜版实现光掩膜,使得显示基板的制作成本比较高。目前,常见的掩膜版使用石英基板作为基底,在石英基板上按照掩膜图案制作铬膜,从而形成掩膜版;但是这种掩膜版只能制作一种图案化的膜层,没有充分利用石英基板的空间,导致制作显示基板前,需要按照显示基板膜层的图案先完成每种图案对应的掩膜版的制作,才能开始显示基板制作,导致显示基板的制作周期较长。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种掩膜版及其制备方法、光刻方法,以通过单个掩膜板实现两种图案的光刻,从而降低显示基板的制作成本。为了实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:一种掩膜版,该掩膜版包括透光基板,所述透光基板包括相对的第一表面和第二表面;所述第一表面和所述第二表面均形成有单向透光图案层,所述第一表面所形成的单向透光图案层的图案和所述第二表面所形成的单向透光图案层的图案不同,所述第一表面的单向透光图案层所透过的光线传播方向与所述第二表面的单向透光图案层所透过的光线传播方向相反。与现有技术相比,本专利技术提供的掩膜版中,透光基板的第一表面和第二表面均形成有单向透光图案层,第一表面的单向透光图案层所透过的光线传播方向与第二表面的单向透光图案层所透过的光线传播方向相反,这使得本专利技术提供的掩膜版中,如果从第一表面到第二表面传播的光线能够穿过第一表面的单向透光图案层,而无法从第二表面的单向透光图案层 ...
【技术保护点】
一种掩膜版,其特征在于,包括透光基板,所述透光基板包括相对的第一表面和第二表面;所述第一表面和所述第二表面均形成有单向透光图案层,所述第一表面所形成的单向透光图案层的图案和所述第二表面所形成的单向透光图案层的图案不同,所述第一表面的单向透光图案层所透过的光线传播方向与所述第二表面的单向透光图案层所透过的光线传播方向相反。
【技术特征摘要】
1.一种掩膜版,其特征在于,包括透光基板,所述透光基板包括相对的第一表面和第二表面;所述第一表面和所述第二表面均形成有单向透光图案层,所述第一表面所形成的单向透光图案层的图案和所述第二表面所形成的单向透光图案层的图案不同,所述第一表面的单向透光图案层所透过的光线传播方向与所述第二表面的单向透光图案层所透过的光线传播方向相反。2.根据权利要求1所述的掩膜版,其特征在于,所述第一表面的单向透光图案层为具有第一掩膜图案的光子晶体层,所述第二表面的单向透光图案层为具有第二掩膜图案的光子晶体层;具有第一掩膜图案的光子晶体层所透过的光线传播方向与具有第二掩膜图案的光子晶体层所透过的光线传播方向不同。3.根据权利要求2所述的掩膜版,其特征在于,所述第一表面的单向透光图案层和所述第二表面的单向透光图案层均包括介电薄膜层,以及交替设置在所述介电薄膜层的第一空气孔阵列和第二空气孔阵列;所述第一空气孔阵列的点阵常数为λ/2n,λ为曝光机发出的光线波长,n为有效折射率,所述第一空气孔阵列中空气孔孔径是第一空气孔阵列的点阵常数的三分之二;所述第二空气孔阵列的点阵常数为mλ0/[2(n2-n1)],m为准相位匹配阶数,λ0为曝光机发出的基频光波长,n1为曝光机发出的基频光折射率,n2为曝光机发出的倍频光折射率,所述第二空气孔阵列中空气孔孔径是第二空气孔阵列的点阵常数的二分之一。4.根据权利要求1所述的掩膜版,其特征在于,所述第一表面的单向透光图案层为具有第一掩膜图案的偏光膜层,所述第二表面的单向透光图案层为具有第二掩膜图案的偏光膜层,所述第一表面的偏光膜层的偏振方向与所述第二表面的偏光膜层的偏振方向相互垂直。5.一种掩膜版的制作方法,其特征在于,包括:提供一透光基板,所述透光基板包括相对的第一表面和第二表面;在所述第一表面和所述第二表面分别形成单向透光图案层,使得所述第一表面所形成的单向透光图案层的图案和所述第二表面所形成的单向透光图案层的图案不同,所述第一表面的单向透光图案层所透过的光线传播方向与所述第二表面的单向透光图案层所透过的光线传播方向相反。6.根据权利要求5所述的掩膜版的制作方法,其特征在于,所述在所述第一表面和所述第二表面分别形成单向透过图案层包括:在所述第一表面和所述第二表面分别形成介电薄膜层;在所述第一表面的介电薄膜层和所述第二表面的介电薄膜层开设交替排布的第一空气孔阵列和第二空气孔阵列,所述第一空气孔阵列的点阵常数为λ/2n,λ为曝光机发出的光线波长,n为有效折射率,所述第一空气孔阵列中空气孔孔径是第一空气孔阵列的点阵常数的三分之二;所述第二空气孔阵列的点阵常数为mλ0/[2(n2-n1)],m为准相位匹配阶数,λ0为曝光机发出的基频光波长,n1为曝光机发出的基频光折射率,n2为曝光机发出的倍频光折射率,所述第二空气孔阵列中空气孔孔径是第二空气孔阵列的点阵常数的二分之一;在所述第一表面的介电薄膜层形成第一掩膜图案,得到第一表面的单向透光图案层;在所述第二表面的介电薄膜层形成第二掩膜图案,得到第二表面的单向透光图案层。7.根...
【专利技术属性】
技术研发人员:俞洋,刘晓伟,吴洪江,陈凡,李海光,廖加敏,罗时建,伍蓉,
申请(专利权)人:京东方科技集团股份有限公司,福州京东方光电科技有限公司,
类型:发明
国别省市:北京,11
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。