下电极组件及半导体加工设备制造技术

技术编号:15621556 阅读:306 留言:0更新日期:2017-06-14 04:52
本发明专利技术提供的下电极组件及半导体加工设备,其包括卡盘、卡盘基座和射频引入件,其中,卡盘基座用于承载卡盘;射频引入件用于将射频电流引入卡盘,其中,在卡盘与卡盘基座之间设置有绝缘支撑件,用以将卡盘与卡盘基座电绝缘;并且,所述卡盘基座接地。分别对应地在卡盘基座和绝缘支撑件中设置有沿其厚度贯穿的通孔,射频引入件由下而上穿过通孔并与卡盘固定连接,且射频引入件分别与卡盘基座和绝缘支撑件相互间隔。本发明专利技术提供的下电极组件,其不仅可以减少射频能量的损失,而且还可以提高射频电流回路的稳定性。

【技术实现步骤摘要】
下电极组件及半导体加工设备
本专利技术涉及半导体制造领域,具体地,涉及一种下电极组件及半导体加工设备。
技术介绍
图形化蓝宝石衬底(PatternedSapphireSubstrates,以下简称PSS)是目前制作LED芯片普遍应用的一种衬底材料,其是在蓝宝石衬底上通过刻蚀工艺制作出所需的微结构图形。为了应对日益增加的市场需求,通常利用托盘同时承载多个蓝宝石基片,然后通过机械手将装有蓝宝石基片的托盘传入工艺腔室,并放置在下电极组件上。该下电极组件不仅作为托盘的载体,同时为电感耦合提供了射频能量的馈入,使射频能量形成有效回路。图1为现有的下电极组件的剖视图。请参阅图1,下电极组件包括卡盘1、卡盘基座2和射频引入件3,其中,卡盘1用于承载托盘(图中未示出)。卡盘基座2用于承载卡盘1,二者通过螺栓固定连接,并且在卡盘1与卡盘基座2之间设置有密封件5,用以对二者之间的间隙进行密封。射频引入件3由下而上贯穿卡盘基座2,并采取快插方式与卡盘1连接,用以将射频电流馈入至卡盘1和卡盘基座2中,射频电流的流动方向如图1中的箭头方向所示,从而实现在置于卡盘1上表面的被加工工件上加载偏压,以吸引等离子体刻蚀被加工工件的上表面。上述下电极组件在实际应用中不可避免地存在以下问题:其一、由于射频引入件3同时与卡盘1和卡盘基座2相接触,又由于受到加工和尺寸误差的影响,卡盘1的下表面与卡盘基座2的上表面之间往往存在微小的缝隙,而射频电流具有趋附于导体表面的特点,导致在卡盘1的下表面与卡盘基座2的上表面之间形成电容层,这使得射频电流分别在卡盘1的下表面及卡盘基座2的上表面产生射频电流支路,从而造成射频能量的损失。其二,由于密封件5不同位置处的压缩比率不能保证完全相同,导致卡盘1的下表面与卡盘基座2的上表面之间的缝隙在不同位置处的竖直间距不等,这使得射频电流回路存在不稳定性,从而造成当射频功率增大时,偏压趋势与理论严重不符(理论上偏压值应随射频功率的增加而增大,而实际的偏压值曲线呈现抛物线状态)。
技术实现思路
本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一,提出了一种下电极组件及半导体加工设备,其不仅可以减少射频能量的损失,而且还可以提高射频电流回路的稳定性。为实现本专利技术的目的而提供一种下电极组件,包括卡盘、卡盘基座和射频引入件,其中,所述卡盘基座用于承载所述卡盘;所述射频引入件用于将射频电流引入所述卡盘,在所述卡盘与所述卡盘基座之间设置有绝缘支撑件,用以将所述卡盘与所述卡盘基座电绝缘;并且,所述卡盘基座接地;分别对应地在所述卡盘基座和所述绝缘支撑件中设置有沿其厚度贯穿的通孔,所述射频引入件由下而上穿过所述通孔,且与所述卡盘固定连接,并且所述射频引入件分别与所述卡盘基座和所述绝缘支撑件相互间隔。优选的,所述射频引入件呈柱状,且竖直设置,并且在所述射频引入件的上端设置有安装台,所述射频引入件通过所述安装台与所述卡盘固定连接,且电导通。优选的,在所述卡盘的下表面,且位于所述通孔内设置有凹槽,所述安装台位于所述凹槽中,并通过螺钉与所述卡盘固定连接。优选的,所述安装台与所述凹槽在所述卡盘的轴线上的截面形状相互吻合。优选的,所述射频引入件为电缆。优选的,所述下电极组件还包括屏蔽筒,所述屏蔽筒固定在所述卡盘基座的底部,且环绕在所述射频引入件自所述卡盘基座底部伸出的部分的周围;所述屏蔽筒接地。优选的,所述屏蔽筒通过螺钉与所述卡盘基座固定连接。优选的,所述下电极组件还包括至少三个顶针和顶针驱动机构,其中,所述顶针驱动机构用于驱动所述至少三个顶针上升或下降,以使所述顶针的顶端依次贯穿所述卡盘基座、绝缘支撑件和卡盘,并上升至高于所述卡盘上表面的位置处,或者下降至低于所述卡盘上表面的位置处;所述至少三个顶针接地。优选的,所述绝缘支撑件所采用的材料包括陶瓷或石英。作为另一个技术方案,本专利技术还提供一种半导体加工设备,包括反应腔室、上电极组件和下电极组件,其中,所述上电极组件设置在所述反应腔室的顶部,用于激发反应腔室内的反应气体形成等离子体;所述下电极组件设置在所述反应腔室内,用于承载被加工工件,并实现射频能量的馈入,所述下电极组件采用本专利技术提供的上述下电极组件。本专利技术具有以下有益效果:本专利技术提供的下电极组件,其在卡盘与卡盘基座中设置绝缘支撑件,且使卡盘基座接地;同时,使射频引入件由下而上依次穿过卡盘基座和绝缘支撑件的通孔,且与卡盘固定连接,并且该射频引入件分别与卡盘基座和绝缘支撑件相互间隔,即,射频引入件直接与卡盘连接,而不与卡盘基座相接触。这样可以消除卡盘基座表面的射频电流支路,从而可以减少射频能量的损失,而且由于卡盘基座与卡盘电绝缘,且卡盘基座接地,这不仅可以提高射频电流回路的稳定性,而且还可以保证射频能量能够全部馈入卡盘,从而提高射频能量的利用率。本专利技术提供的半导体加工设备,其通过采用本专利技术提供的下电极组件,不仅可以减少射频能量的损失,而且还可以提高射频电流回路的稳定性,从而提高射频能量的利用率。附图说明图1为现有的下电极组件的剖视图;图2为本专利技术实施例提供的下电极组件的剖视图。具体实施方式为使本领域的技术人员更好地理解本专利技术的技术方案,下面结合附图来对本专利技术提供的下电极组件及半导体加工设备进行详细描述。图2为本专利技术实施例提供的下电极组件的剖视图。请参阅图2,,下电极组件包括卡盘10、卡盘基座12和射频引入件13,其中,卡盘10用于承载托盘,该托盘用于承载一个或多个基片,基片通常为硅片或者蓝宝石片,直径范围在2寸以上。卡盘基座12用于承载卡盘10,且在卡盘10和卡盘基座12之间设置有绝缘支撑件11,用以将卡盘10与卡盘基座12电绝缘。并且,卡盘基座12接地。在卡盘基座12中设置有沿其厚度贯穿的通孔121,且对应地,在绝缘支撑件11中设置有沿其厚度贯穿的通孔111,射频引入件13由下而上依次穿过通孔121和通孔111,且与卡盘10固定连接,并且射频引入件13分别与卡盘基座12和绝缘支撑件11相互间隔,即,射频引入件13直接与卡盘10连接,而不与卡盘基座12相接触。这样可以消除卡盘基座12表面的射频电流支路,从而可以减少射频能量的损失,而且由于卡盘基座12与卡盘10电绝缘,且卡盘基座12接地,这不仅可以提高射频电流回路的稳定性,而且还可以保证射频能量能够全部馈入卡盘10,从而提高射频能量的利用率。优选的,上述绝缘支撑件11所采用的材料包括诸如陶瓷或石英等的绝缘材料制作。在本实施例中,射频引入件13呈柱状,且竖直设置,即,射频引入件13为一个柱状的金属棒,且该金属棒的外径分别小于上述通孔121和通孔111的直径,以确保其与卡盘基座12和绝缘支撑件11之间保持间隔。并且,在卡盘10的下表面,且位于通孔111内设置有凹槽101,并且在射频引入件13的上端设置有安装台131,该安装台131位于凹槽101中,并通过螺钉(图中未示出)与卡盘10固定连接,从而实现射频引入件13与卡盘10的电导通。借助上述安装台131,不仅有利于射频引入件13的安装,而且还可以增大射频引入件13与卡盘10之间的有效接触面积,从而保证射频引入件13与卡盘10的之间的接触良好。此外,借助上述凹槽101,不仅起到对射频引入件13的定位作用,而且还可以进一步增大射频引本文档来自技高网
...
下电极组件及半导体加工设备

【技术保护点】
一种下电极组件,包括卡盘、卡盘基座和射频引入件,其中,所述卡盘基座用于承载所述卡盘;所述射频引入件用于将射频电流引入所述卡盘,其特征在于,在所述卡盘与所述卡盘基座之间设置有绝缘支撑件,用以将所述卡盘与所述卡盘基座电绝缘;并且,所述卡盘基座接地;分别对应地在所述卡盘基座和所述绝缘支撑件中设置有沿其厚度贯穿的通孔,所述射频引入件由下而上穿过所述通孔,且与所述卡盘固定连接,并且所述射频引入件分别与所述卡盘基座和所述绝缘支撑件相互间隔。

【技术特征摘要】
1.一种下电极组件,包括卡盘、卡盘基座和射频引入件,其中,所述卡盘基座用于承载所述卡盘;所述射频引入件用于将射频电流引入所述卡盘,其特征在于,在所述卡盘与所述卡盘基座之间设置有绝缘支撑件,用以将所述卡盘与所述卡盘基座电绝缘;并且,所述卡盘基座接地;分别对应地在所述卡盘基座和所述绝缘支撑件中设置有沿其厚度贯穿的通孔,所述射频引入件由下而上穿过所述通孔,且与所述卡盘固定连接,并且所述射频引入件分别与所述卡盘基座和所述绝缘支撑件相互间隔。2.根据权利要求1所述的下电极组件,其特征在于,所述射频引入件呈柱状,且竖直设置,并且在所述射频引入件的上端设置有安装台,所述射频引入件通过所述安装台与所述卡盘固定连接,且电导通。3.根据权利要求2所述的下电极组件,其特征在于,在所述卡盘的下表面,且位于所述通孔内设置有凹槽,所述安装台位于所述凹槽中,并通过螺钉与所述卡盘固定连接。4.根据权利要求3所述的下电极组件,其特征在于,所述安装台与所述凹槽在所述卡盘的轴线上的截面形状相互吻合。5.根据权利要求1所述的下电极组件,其特征在于,所述射频引入件为电缆。6.根据权利要求1-5任...

【专利技术属性】
技术研发人员:栾大为
申请(专利权)人:北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司
类型:发明
国别省市:北京,11

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1