电子元件外观检测装置及其检测方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种电子元件外观检测装置及其检测方法。电子元件外观检测装置包括输送机构、传感器、多个取像模块及控制器。输送机构输送电子元件，传感器于检测电子元件通过时发出触发信号，控制器于收到触发信号时取得输送电子元件至多个取像位置所需的多个时间区间，并分别于计时多个时间区间经过时驱动对应的取像模块撷取电子元件的元件影像，并且对元件影像进行瑕疵检测处理以产生检测结果。

Electronic component appearance detection device and detection method thereof

The invention discloses a device for detecting the appearance of electronic components and a detecting method thereof. The electronic component appearance detection device comprises a conveying mechanism, a sensor, a plurality of image taking modules and a controller. Conveying mechanism for conveying electronic components, a trigger signal sensor to detect the electronic components through the controller, to receive a trigger signal when conveying a plurality of electronic components made from a multiple time needed for the position and timing interval, respectively in a plurality of time intervals after driving to capture image module components like electronic components should be taken. And the image element to generate the detection results of defect detection processing.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于检测装置及检测方法，尤其是电子元件外观检测装置及电子元件外观检测方法。
技术介绍
现有的电子元件外观检测装置分别于多个取像模块旁设置对应的多个传感器，当一电子元件被输送至该多个传感器之一的一感测区时，该传感器可触发一感测信号。接着，该电子元件外观检测装置的一控制器可依据该感测信号来驱动对应被触发的该传感器的该取像模块来撷取该电子元件的一元件影像，并对所撷取的该元件影像进行分析，以判断该电子元件外观是否有瑕疵。然而，由于该电子元件不断移动，且现有的电子元件外观检测装置并未考虑该传感器进行感测的一感测时间及该控制器进行判断并驱动取像模块的一取像时间之间的一时间差。因此，现有的电子元件外观检测装置常发生于拍摄时电子元件未完整落于取像范围中(即该取像模块未拍摄到完整的该电子元件)的状况。更进一步地，该控制器依据不完整的该元件影像所产生的检测结果将具有较低的精确度。是以，现有技术的电子元件外观检测装置存在上述缺失，而无法准确地撷取完整元件影像，而亟待更有效的方案提出。
技术实现思路
本专利技术的主要目的，在于提供一种用于检测微尺寸电子元件并可实时触发影像撷取的电子元件外观检测装置及电子元件外观检测方法。本专利技术提供一种电子元件外观检测装置，包括一基座、一输送机构、一传感器、多个取像模块及电性连接该传感器及该多个取像模块的一控制器。该输送机构包括设置于该基座的一马达及用以输送一电子元件的一旋转盘。该传感器于检测该电子元件通过时发出一触发信号。该多个取像模块分别配置于邻近该旋转盘的多个取像位置，并对该电子元件进行影像撷取。该控制器包括一时间取得模块、一计时模块、该撷取控制模块及一检测模块。该时间取得模块于收到该触发信号时取得输送该电子元件至各该取像位置分别所需的多个时间区间。该计时模块于计时各该时间区间经过时，分别发出对应的一影像撷取信号。该撷取控制模块依据该多个影像撷取信号分别驱动该多个取像模块撷取多个元件影像。该检测模块依据该多个元件影像进行一瑕疵检测处理，并产生一检测结果。本专利技术另外提供一种电子元件外观检测方法，运用于包括一输送机构、一传感器、多个取像模块及一控制器的一电子元件外观检测装置，包括下列步骤：a)该传感器于检测该输送机构所输送的一电子元件通过时发出一触发信号；b)该控制器于收到该触发信号时取得输送该电子元件至对应该多个取像模块的多个取像位置分别所需的多个时间区间；c)于计时各该时间区间经过时，分别驱动对应的各该取像模块对该电子元件进行影像撷取并产生多个元件影像；及d)依据该多个元件影像进行一瑕疵检测处理，并产生用以表示该电子元件的外观是否有瑕疵的一检测结果。本专利技术经由计算电子元件的输送时间并实时主动触发影像撷取，可使电子元件完整落于取像范围内，而可取得较佳检测影像，进而提升检测结果的精确度。附图说明图1为本专利技术第一具体实施例的电子元件外观检测装置的第一立体示意图。图2为本专利技术第一具体实施例的电子元件外观检测装置的第二立体示意图。图3为本专利技术第一具体实施例的电子元件外观检测装置的第三立体示意图。图4为本专利技术第一具体实施例的电子元件外观检测装置的第四立体示意图。图5为本专利技术第一具体实施例的电子元件外观检测装置的俯视图。图6为本专利技术第一具体实施例的输送机构及供料机构的示意图。图7为本专利技术第一具体实施例的分料机构第一立体示意图。图8为本专利技术第一具体实施例的分料机构的第二立体示意图。图9为本专利技术第一具体实施例的控制器架构图。图10为本专利技术第一具体实施例的电子元件外观检测方法的流程图。图11为本专利技术第二具体实施例的电子元件外观检测方法的部分流程图。图12为本专利技术第三具体实施例的电子元件外观检测方法的部分流程图。图13为本专利技术第四具体实施例的电子元件外观检测方法的部分流程图。其中，附图标记：1…电子元件外观检测装置100…基座200…输送机构210…传感器220…旋转盘230…马达231…驱动轴232…角度编码器240…静电刷300…供料机构310…震动盘311…整列轨道320…储料桶321…供料道330…下料轨道400…取像模块410…摄影镜头420…反射镜430…直立滑轨500…分料机构510…集料盒511…活动缓冲挡板520…吹嘴521…电磁阀522…枢转轴600…控制器601…时间取得模块602…计时模块603…撷取控制模块604…检测模块605…位置检测模块606…分类模块700…内存701…电脑程序S100-S112…检测步骤S200-S210…供料步骤S1040-S1046…时间区间取得步骤S300-S304…显示及分类步骤具体实施方式兹就本专利技术的一较佳实施例，配合图式，详细说明如后。首请参阅图1-5，图1为本专利技术第一具体实施例的电子元件外观检测装置的第一立体示意图，图2为本专利技术第一具体实施例的电子元件外观检测装置的第二立体示意图，图3为本专利技术第一具体实施例的电子元件外观检测装置的第三立体示意图，图4为本专利技术第一具体实施例的电子元件外观检测装置的第四立体示意图，图5为本专利技术第一具体实施例的电子元件外观检测装置的俯视图。如图所示，本实施例的电子元件外观检测装置1(以下简称检测装置1)主要包括有一基座100、一输送机构200、一传感器210、多个取像模块400及一控制器(如图9所示的控制器600)。本实施例中不限定基座100的形式。请同时参阅图6，为本专利技术第一具体实施例的输送机构及供料机构的示意图。该输送机构200设置在该基座100上，并主要包括有一旋转盘220及一马达230。该马达230设置于该基座100上，且该马达230的一驱动轴231较佳为直立配置。较佳地，该马达230为直驱式马达(DirectDriveMotor,DDmotor)。该旋转盘220用以输送多个电子元件(为方便说明，以下将以输送一个该电子元件为例来进行说明)。较佳地，该旋转盘220用以输送大量微尺寸的该电子元件，并可为玻璃制的圆环状透明盘，但不以此限定。该旋转盘220呈水平配置而并动力连接该马达230。该旋转盘220的圆心配置于该马达230的该驱动轴231的延伸在线，藉此该旋转盘220能被该马达230驱动而水平自转。请同时参阅图1-5，该传感器210设置在该基座100上，并对应该旋转盘220配置。该传感器210可感测该旋转盘22所输送的该电子元件是否通过一感测区，并于检测到该电子元件通过该感测区时触发一触发信号。较佳地，该传感器210为遮断式光学传感器，并可产生自该旋转盘220上方贯穿的光束。该传感器210可沿着该旋转盘220的旋转方向与一下料轨道330的末端相邻配置。较佳地，该传感器210排列在该下料轨道330的末端之后。藉此，该旋转盘220旋转时可先接收该下料轨道330投下的该电子元件，以旋转方式输送该电子元件，并使该电子元件通过该传感器210。并且，该电子元件于通过该感测区时时，可遮断该传感器210所产生的光束，而可使该传感器210触发该触发信号。该多个取像模块400分别设置于该基座100上的不同位置，用以分别对该电子元件的不同视角(如上视角、下视角、前视角、后视角、左视角或右视角)进行影像撷取。该多个取像模块400分别环绕该旋转盘220配置。较佳地，各该取像模块400分别本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子元件外观检测装置，其特征在于，包括：一基座；一输送机构，包括设置于该基座的一马达及用以输送一电子元件的一旋转盘；一传感器，于检测该电子元件通过时发出一触发信号；多个取像模块，分别配置于邻近该旋转盘的多个取像位置，并对该电子元件进行影像撷取；及一控制器，电性连接该传感器及该多个取像模块，包括：一时间取得模块，于收到该触发信号时取得输送该电子元件至各该取像位置分别所需的多个时间区间；一计时模块，于计时各该时间区间经过时，分别发出对应的一影像撷取信号；一撷取控制模块，依据该多个影像撷取信号分别驱动该多个取像模块撷取多个元件影像；及一检测模块，依据该多个元件影像进行一瑕疵检测处理，并产生一检测结果。

【技术特征摘要】
1.一种电子元件外观检测装置，其特征在于，包括：一基座；一输送机构，包括设置于该基座的一马达及用以输送一电子元件的一旋转盘；一传感器，于检测该电子元件通过时发出一触发信号；多个取像模块，分别配置于邻近该旋转盘的多个取像位置，并对该电子元件进行影像撷取；及一控制器，电性连接该传感器及该多个取像模块，包括：一时间取得模块，于收到该触发信号时取得输送该电子元件至各该取像位置分别所需的多个时间区间；一计时模块，于计时各该时间区间经过时，分别发出对应的一影像撷取信号；一撷取控制模块，依据该多个影像撷取信号分别驱动该多个取像模块撷取多个元件影像；及一检测模块，依据该多个元件影像进行一瑕疵检测处理，并产生一检测结果。2.如权利要求1所述的电子元件外观检测装置，其特征在于，更包括一供料机构，包括：一震动盘，设置于该基座，经由震动排列该电子元件，该震动盘延伸有末端延伸至该旋转盘上方并与该传感器相邻的一下料轨道，用以输送该电子元件至该旋转盘并经由摩擦使该电子元件带有电荷；及一储料桶，容纳待检测的该电子元件，并具有朝向该震动盘内配置并用以输送该电子元件至该震动盘的一供料道。3.如权利要求2所述的电子元件外观检测装置，其特征在于，该供料机构更包括一去静电风扇，该去静电风扇的出风方向朝向该震动盘配置，以对该电子元件进行一去静电处理。4.如权利要求3所述的电子元件外观检测装置，其特征在于，更包括一静电刷，设置在该基座且接触该旋转盘，以使该旋转盘带有与该电子元件所带电
\t荷电性相反的电荷。5.如权利要求2所述的电子元件外观检测装置，其特征在于，该震动盘内形成有一整列轨道，该整列轨道延伸呈单圈环形且连接该下料轨道，并且该震动盘与该基座之间设置有一缓冲器。6.如权利要求1所述的电子元件外观检测装置，其特征在于，该传感器为一遮断式光学传感器，于所产生的光束被遮断时发出该触发信号。7.如权利要求1所述的电子元件外观检测装置，其特征在于，该旋转盘呈水平配置，并且各该取像模块设置于该基座上并环绕该旋转盘配置；该时间取得模块依据该电子元件于该旋转盘上的一当前位置、该多个取像位置及该旋转盘的一旋转速度来计算该多个时间区间。8.如权利要求7所述的电子元件外观检测装置，其特征在于，该输送机构更包括电性连接该马达及该控制器的一角度编码器，该控制器更包括一位置检测模块，该位置检测模块经由该角度编码器取得该马达当前的角度值，并取得分别对应该多个取像模块的多个角度值，该时间取得模块将该马达当前的角度值作为该当前位置，并将对应该多个取像模块的该多个角度值分别做为该多个取像位置。9.如权利要求1所述的电子元件外观检测装置，其特征在于，更包括一分料机构，包括：多个集料盒，设置在该基座上；及多个吹嘴，分别朝向对应的该多个集料盒配置且分别设置有电性连接该控制器的一电磁阀，其中该旋转盘介于该多个吹嘴与该多个集料盒之间。10.如权利要求9所述的电子元件外观检测装置，其特征在于，该控制器...

【专利技术属性】
技术研发人员：张仁明，陈正锴，刘子诚，林轩民，杨景钦，
申请(专利权)人：台达电子工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71