【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种导电栓塞的形成方法,其特征在于,包括:提供半导体衬底,在所述半导体衬底上形成有栅极,栅极两侧的半导体衬底内形成有源区和漏区;在所述半导体衬底上形成应力层和位于所述应力层上的层间介质层,所述应力层覆盖所述栅极、源区和漏区;在所述层间介质层和应力层中形成接触孔;在所述接触孔的侧壁形成衬垫层;形成所述衬垫层后,清洗所述接触孔,以清除在形成接触孔过程中产生的聚合物,其中所述衬垫层用于防止所述应力层在清洗接触孔过程中遭到腐蚀;在形成所述接触孔后,在所述接触孔内沉积导电材料,形成导电栓塞。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:韩秋华,黄敬勇,
申请(专利权)人:中芯国际集成电路制造上海有限公司,
类型:发明
国别省市:上海;31
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