光脉冲红外热成像测量涂层厚度的方法技术

光脉冲红外热成像测量涂层厚度的方法，涉及一种测量涂层厚度的方法。为了解决目前采用测量涂层厚度的方法对测量的材料特性具有局限性的问题。采用脉冲加热设备在两种不同的脉冲强度下对被测涂层结构构件进行加热，并使用红外热像仪在相同采样频率fs下采集被测涂层结构构件表面的热图序列T1(x,y,N)和T2(x,y,N)；将获得的两个热图序列相减，求得热波信号△T=T2(x,y,N)-T1(x,y,N)；对所有像素点的热波信号与采集帧数之间的关系进行线性拟合，得到△T(x,y,N)=aN+b；根据获得的a和b，结合公式求出被测涂层结构构件的涂层厚度ec。它用于测量涂层结构构件的涂层厚度。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】，涉及一种测量涂层厚度的方法。为了解决目前采用测量涂层厚度的方法对测量的材料特性具有局限性的问题。采用脉冲加热设备在两种不同的脉冲强度下对被测涂层结构构件进行加热，并使用红外热像仪在相同采样频率fs下采集被测涂层结构构件表面的热图序列T1(x,y,N)和T2(x,y,N)；将获得的两个热图序列相减，求得热波信号△T=T2(x,y,N)-T1(x,y,N)；对所有像素点的热波信号与采集帧数之间的关系进行线性拟合，得到△T(x,y,N)=aN+b；根据获得的a和b，结合公式求出被测涂层结构构件的涂层厚度ec。它用于测量涂层结构构件的涂层厚度。【专利说明】
本专利技术涉及一种测量涂层厚度的方法，特别涉及一种。
技术介绍
脉冲红外热成像技术是20世纪80年代后发展起来的一种无损检测技术。此方法 以热波理论为理论依据，通过主动对被测物体施加脉冲热激励，采用红外热像仪连续观察和记录物体表面的温度变化，并通过图像处理技术对热波信号进行处理和分析，以实现对物体内部不连续结构的定性诊断和定量识别。目前，测量涂层厚度的方法主要有涡流测厚法，但该方法仅适用于金属质涂层厚度的测量，不适本文档来自技高网...

【技术保护点】
光脉冲红外热成像测量涂层厚度的方法，其特征在于，步骤一：采用脉冲加热设备在脉冲强度Q1下对被测涂层结构构件（1）进行加热，同时使用红外热像仪（3）在采样频率fs下采集被测涂层结构构件（1）表面的热图序列T1(x,y,N)，其中x×y为红外热像仪像素点数，N为采集的图像帧数；步骤二：采用脉冲加热设备在脉冲强度Q2下对被测涂层结构构件（1）进行加热，同时使用红外热像仪（3）在采样频率fs下采集被测涂层结构构件（1）表面的热图序列T2(x,y,N)；步骤三：将获得的热图序列T2(x,y,N)和热图序列T1(x,y,N)相减，获得热波信号△T=T2(x,y,N)?T1(x,y,N)；步骤四：对所有像素...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：唐庆菊，齐立涛，刘元林，芦玉梅，张志平，
申请(专利权)人：黑龙江科技大学，
类型：发明
国别省市：