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光脉冲红外热成像测量涂层厚度的方法，涉及一种测量涂层厚度的方法。为了解决目前采用测量涂层厚度的方法对测量的材料特性具有局限性的问题。采用脉冲加热设备在两种不同的脉冲强度下对被测涂层结构构件进行加热，并使用红外热像仪在相同采样频率fs下采集被...
该专利属于黑龙江科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过黑龙江科技大学授权不得商用。

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