一种旋转曲面红外测温修正的方法技术

技术编号:15743829 阅读:116 留言:0更新日期:2017-07-02 17:31
本发明专利技术公开了一种旋转曲面红外测温修正的方法。获得待测旋转曲面表面的发射率,将热像仪朝向待测旋转曲面表面进行测温获得红外测温图像,并让热像仪在当前朝向下正对待测旋转曲面的最凸出位置进行测温,记录最凸出位置测温结果;确定红外测温图像中的旋转半径和待修正区域,然后针对待修正区域中的每一处根据待测曲面最凸出位置的最高温度和旋转半径计算获得补偿温度,用补偿温度对红外测温图像进行修正。本发明专利技术实现对红外热像仪测量旋转曲面表面温度误差的修正,有效提高了红外测温精度。

Method for correcting infrared temperature measurement of rotating surface

The invention discloses a method for correcting infrared temperature measurement of a rotating surface. Get the measured surface emissivity of rotation surface, the thermal imager toward the measured rotation surface surface temperature to obtain infrared image, and let the imager in the current is the most salient position toward the treat measured rotation surface temperature, record the projecting position measurement result; to determine the radius of rotation in the image and the infrared temperature measurement fixed area, then according to correction in every region according to the measured maximum temperature of the surface projecting position and rotation radius calculation of temperature compensation of infrared temperature measurement, image correction with temperature compensation. The invention realizes the correction of the temperature error of the rotating curved surface measured by an infrared thermal imager, and effectively improves the accuracy of infrared temperature measurement.

【技术实现步骤摘要】
一种旋转曲面红外测温修正的方法
本专利技术涉及曲面红外测温数据修正领域,尤其涉及了一种旋转曲面红外测温修正的方法,主要针对母线为圆或直线的旋转曲面进行红外测温修正。
技术介绍
红外热像仪可测得物体表面辐射能量的强弱,根据黑体辐射三大定律,辐射能量分布的强弱反映温度分布大小,故热像仪所拍摄的红外热图可用于分析被测物体表面的温度分布情况。由于热像仪结构和测温原理限制,热像仪辐射能采集的镜头与被测物体表面的距离、角度都会影响热像仪测温结果。尤其对曲面测温,热像仪的测量结果存在较大误差。旋转曲面是生活应用中最常见的曲面,尤其母线为圆或直线的旋转曲面最为常见,使用热像仪对该种曲面测温,需要进行有效的误差修正。
技术实现思路
为了解决
技术介绍
中存在的问题,本专利技术提供了一种旋转曲面红外测温修正的方法,解决母线为半圆或直线的旋转曲面在红外测温中存在明显误差的问题。本专利技术采用的技术方案是:1)用查表或实验测量方法获得待测旋转曲面表面的发射率ε;2)将热像仪朝向待测旋转曲面表面进行测温获得红外测温图像,并让热像仪在当前朝向下正对待测旋转曲面的最凸出位置进行测温,记录最凸出位置测温结果为T0;3)确定本文档来自技高网...
一种旋转曲面红外测温修正的方法

【技术保护点】
一种旋转曲面红外测温修正的方法,其特征在于包括以下步骤:1)用查表或实验测量方法获得待测旋转曲面表面的发射率ε;2)将热像仪朝向待测旋转曲面表面进行测温获得红外测温图像,并让热像仪在当前朝向下正对待测旋转曲面的最凸出位置(1)进行测温,记录最凸出位置测温结果为T

【技术特征摘要】
1.一种旋转曲面红外测温修正的方法,其特征在于包括以下步骤:1)用查表或实验测量方法获得待测旋转曲面表面的发射率ε;2)将热像仪朝向待测旋转曲面表面进行测温获得红外测温图像,并让热像仪在当前朝向下正对待测旋转曲面的最凸出位置(1)进行测温,记录最凸出位置测温结果为T0;3)确定红外测温图像中的待修正区域(2)和旋转半径r,然后针对待修正区域(2)中的每一处根据最凸出位置(1)的测温结果T0和旋转半径r计算获得补偿温度t,用补偿温度t对红外测温进行修正。2.根据权利要求1所述的一种旋转曲面红外测温修正方法,其特征在于:所述的旋转曲面的母线为半圆或者直线。3.根据权利要求1所述的一种旋转曲面红外测温修正方法,其特征在于:所述的旋转半径r采用以下方式确定:由热像仪与旋转曲面之间的测量距离根据热像仪参数计算求得红外测温图像中相邻像素间的间距d,采用公式计算得到旋转半径r=d×n,n表示热像图上待测曲面轮廓上的像素点到旋转轴或者旋转中心的像素个数。4.根据权利要求1所述的一种旋转曲面红外测温修正方法,其特征在于:所述的待修正区域(2)为图像中像素点到基准点或者基准线之间距离满足cr≤x≤r的图像区域,c表示待修正系数。5.根据权利要求1所述的一种旋转曲面红外测温修正方法,其特征在于:所述步骤3)针对待修正区域(2)中的每一处计算获得补...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈乐张雪英富雅琼吾云霞
申请(专利权)人:中国计量大学
类型:发明
国别省市:浙江,33

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