板料刻痕特征无损高精密测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种板料刻痕特征无损高精密测量装置，包括：支架、二维滑台、第一传感器、转台组件、单向滑台、滑块、导轨、第二感器、锁扣和托架，第一传感器通过二维滑台连接至支架侧面框架上；导轨与支架的底面框架连接，单向滑台通过滑块和锁扣与导轨连接，转台组件与单向滑台连接；第二传感器通过托架与支架连接，且设置在单向滑台下方。本发明专利技术具有结构简单、操作方便、提高膜片生产率、降低膜片生产成本的优点。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术涉及一种板料刻痕特征无损高精密测量装置，包括：支架、二维滑台、第一传感器、转台组件、单向滑台、滑块、导轨、第二感器、锁扣和托架，第一传感器通过二维滑台连接至支架侧面框架上；导轨与支架的底面框架连接，单向滑台通过滑块和锁扣与导轨连接，转台组件与单向滑台连接；第二传感器通过托架与支架连接，且设置在单向滑台下方。本专利技术具有结构简单、操作方便、提高膜片生产率、降低膜片生产成本的优点。【专利说明】板料刻痕特征无损高精密测量装置
本专利技术涉及一种测量装置，具体涉及一种可精密测量板料刻痕特征的板料刻痕特征无损高精密测量装置。
技术介绍
破裂膜片是压力阀的重要部件，承担着管路联通的重要作用。破裂膜片通过其上刻痕处的残余厚度，决定膜片破裂的压力值。在一些高性能压力阀门中，膜片破裂的压力值需精确控制在0.1兆帕以内，这就要求膜片刻痕的残余厚度需精确控制在0.01毫米以内。目前阀门膜片的检测主要通过对同一批次的膜片进行破坏性强度实验来确定膜片的破裂压力值，该方法将导致同一批次的膜片90%都用于破坏性检测实验，膜片生产率极低，且原材料浪费严重，使得成本极高。而目前尚无针对膜片刻痕性能的无损检测手段。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种板料刻痕特征无损高精密测量装置，以解决现有技术中存在的破裂膜片类刻痕特征产品检测手段落后、生产率低、生产成本高的技术问题。为达到上述目的，本专利技术提供一种板料刻痕特征无损高精密测量装置，包括:支架、二维滑台、第一传感器、转台组件、单向滑台、滑块、导轨、第二感器、锁扣和托架，第一传感器通过二维滑台连接至支架侧面框架上；导轨与支架的底面框架连接，单向滑台通过滑块和锁扣与导轨连接，转台组件与单向滑台连接；第二传感器通过托架与支架连接，且设置在单向滑台下方。依照本专利技术较佳实施例所述的板料刻痕特征无损高精密测量装置，该转台组件进一步包括:转台、手柄和螺杆，转台连接至单向滑台，螺杆一端与转动手柄连接，另一端通过齿轮结构与转台连接。依照本专利技术较佳实施例所述的板料刻痕特征无损高精密测量装置，该转台上设置有放射形光栅。依照本专利技术较佳实施例所述的板料刻痕特征无损高精密测量装置，该滑台中部为空心结构，用以放置转台。依照本专利技术较佳实施例所述的板料刻痕特征无损高精密测量装置，该第一传感器为二维激光位移传感器，用以实现对阀门膜片刻痕形态和残余厚度的测量。依照本专利技术较佳实施例所述的板料刻痕特征无损高精密测量装置，该第二传感器为单点激光位移传感器，用以实现对阀门膜片不同截面的自动测量。本专利技术的板料刻痕特征无损高精密测量装置可以对不同尺寸的膜片进行测量，能够同时实现对刻痕的形状以及深度数据的测量、刻痕处材料的残余厚度数据的测量以及膜片不同截面刻痕的测量。具体对膜片刻痕形态的测量，通过以下步骤实现:首先，将不同尺寸的膜片置于转台上，调整二维滑台以及单向滑台的位置使膜片刻痕置于激光线束的测量范围内，通过锁紧锁扣防止单向滑台移动；然后，通过二维激光位移传感器读出刻痕的形状以及深度数据，通过单点激光位移传感器与二维激光位移传感器配合可获得膜片的厚度以及刻痕处材料的残余厚度数据；之后，通过转动手柄带动转台转动，通过转台上光栅触发单点激光传感器信号，即可实现对膜片不同截面的刻痕进行测量。综上所述，本专利技术通过激光测量手段，实现了对膜片刻痕形态的无损检测，结构简单、操作方便，可极大的降低所需的膜片强度实验次数，大大提高膜片生产率，并且，有效避免了原材料浪费，降低了生产成本。因此，与现有技术相比，本专利技术具有结构简单、操作方便、提高膜片生产率、降低膜片生产成本的优点。【专利附图】【附图说明】图1为本专利技术板料刻痕特征无损高精密测量装置的结构示意图；图2为本专利技术板料刻痕特征无损高精密测量装置的结构正视图；图3为本专利技术板料刻痕特征无损高精密测量装置的结构侧视图。【具体实施方式】下面结合附图对本专利技术的实施例作详细说明，本实施例在以本专利技术技术方案为前提下进行实施，给出了详细的实施方式和具体的操作过程，但本专利技术的保护范围不限于下述的实施例。请同时参阅图1至图3，一种板料刻痕特征无损高精密测量装置，包括:支架1、二维滑台2、第一传感器3、转台组件、单向滑台5、滑块6、导轨9、第二感器10、锁扣11和托架12，转台组件进一步包括转台4、螺杆7和手柄8。第一传感器3通过二维滑台2连接至支架I的侧面框架上；导轨9与支架I的底面框架连接，单向滑台5通过滑块6和锁扣11与导轨9连接，转台4与单向滑台5连接，螺杆7 —端与转动手柄8连接，另一端通过齿轮结构与转台4连接。第二传感器10通过托架12与支架I连接，且设置在单向滑台5下方。具体地，转台4上设置有放射形光栅，且单向滑台5中部为空心结构，用以放置转台4。更进一步地，第一传感器3为二维激光位移传感器，用以实现对阀门膜片刻痕形态和残余厚度的测量。第二传感器10为单点激光位移传感器，用以实现对阀门膜片不同截面的自动测量。本专利技术的板料刻痕特征无损高精密测量装置可以对不同尺寸的膜片进行测量，能够同时实现对刻痕的形状以及深度数据的测量、刻痕处材料的残余厚度数据的测量以及膜片不同截面刻痕的测量。具体对膜片刻痕形态的测量，通过以下步骤实现:I)将膜片置于转台4上，调整二维滑台2以及单向滑台5的位置使膜片刻痕置于激光线束的测量范围内，通过锁紧锁扣11防止滑台移动。2)通过转动手柄8带动转台4转动，通过转台4上的光栅触发单点激光传感器10的信号进行测量。3)通过二维激光位移传感器3读出刻痕的形状以及深度。4)通过单点激光位移传感器10与二维激光位移传感器3配合获得膜片的厚度以及刻痕处材料的残余厚度数据。5)测量完成，取下膜片。以上步骤中，具体通过单向滑台移动与锁紧调整二维激光位移传感器与膜片的相对位置，实现对不同尺寸阀门膜片进行测量。并且，通过二维滑台调整二维激光位移传感器以及膜片之间的相对位置，实现对阀门膜片刻痕形态和残余厚度的测量；通过转台转动，由光栅触发单点激光位移传感器，实现对阀门膜片不同截面的自动测量。本专利技术通过激光测量手段，实现了对膜片刻痕形态的无损检测，结构简单、操作方便，可极大的降低所需的膜片强度实验次数，大大提高膜片生产率，并且，有效避免了原材料浪费，降低了生产成本。因此，与现有技术相比，本专利技术具有结构简单、操作方便、提高膜片生产率、降低膜片生产成本的优点。以上所述，仅是本专利技术的较佳实施实例而已，并非对本专利技术做任何形式上的限制，任何未脱离本专利技术技术方案的内容，依据本专利技术的技术实质对以上实施实例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均属于本专利技术技术方案的范围。【权利要求】1.一种板料刻痕特征无损高精密测量装置，其特征在于，包括:支架、二维滑台、第一传感器、转台组件、单向滑台、滑块、导轨、第二感器、锁扣和托架，所述第一传感器通过所述二维滑台连接至所述支架侧面框架上；所述导轨与所述支架的底面框架连接，所述单向滑台通过所述滑块和锁扣与所述导轨连接，所述转台组件与所述单向滑台连接；所述第二传感器通过所述托架与所述支架连接，且设置在所述单向滑台下方。2.如权利要求1所述的板料刻痕特征无损高精密测量装置，其特征在于，所述转台组件进一步包括:转台、手柄和螺杆，所述转台连接至所述单向滑台，所述螺杆一端本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种板料刻痕特征无损高精密测量装置，其特征在于，包括：支架、二维滑台、第一传感器、转台组件、单向滑台、滑块、导轨、第二感器、锁扣和托架，所述第一传感器通过所述二维滑台连接至所述支架侧面框架上；所述导轨与所述支架的底面框架连接，所述单向滑台通过所述滑块和锁扣与所述导轨连接，所述转台组件与所述单向滑台连接；所述第二传感器通过所述托架与所述支架连接，且设置在所述单向滑台下方。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈长江，杨国舜，郭立杰，尤登飞，陆彬，陈军，
申请(专利权)人：上海航天设备制造总厂，
类型：发明
国别省市：