一种分析具有旋转轴的机器的状态的方法，包括：产生取决于从所述轴的旋转发出的机械振动的模拟电测量信号（SEA）；响应所述接收的模拟测量数据，以采样频率（fS）对所述模拟测量信号进行采样，以便产生数字测量数据信号（SMD）；执行所述数字测量数据信号（SMD）的降采样，以实现具有降低采样频率（fSR1、fSR2）的数字信号（SRED）；其中所述降采样包括以下步骤：控制所述降低采样频率（fSR1、fSR2），使得所述轴（8）每转的样点值数目保持为基本上不变的值；以及在增强器输入接收所述数字信号（SRED2）；在所述增强器中执行相关，以便产生输出信号序列（O），其中重复信号振幅分量关于随机信号分量被放大；执行状态分析功能（F1、F2、Fn）以分析取决于具有降低采样频率（fSR1、fSR2）的所述数字信号（SRED）的机器的状态。
【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种分析具有旋转部件（8、7、801、701、702、703、704）的机器（6）的状态的方法，包括：产生取决于从所述旋转部件（8、7、801、701、702、703、704）的旋转发出的机械振动的模拟电测量信号（SEA）；其中所述模拟电测量信号（SEA）包括至少一个取决于旋转部件（8、7、801、701、702、703、704）振动运动的振动信号分量，所述振动信号分量具有取决于旋转部件（8、7、801、701、702、703、704）的转速（fROT）的重复频率（fD）；响应所述模拟电测量信号（SEA），以第一采样频率（fS）对所述模拟电测量信号进行采样（44），以便产生数字测量数据信号（SMD）；由数字滤波器（240）滤波所述数字测量数据信号（SMD）以产生滤波后的数字测量数据信号（SF、SPBMD）;响应于所述滤波后的数字测量数据信号（SF、SPBMD）产生数字包络信号（SENV）；执行所述数字包络信号（SENV）的降采样（310、310A、310B、470、470A、470B），以实现具有降低采样频率（fSR1、fSR2）的数字信号（SRED、SRED2）；其中所述降采样包括：执行数字包络信号（SENV）的第一降采样（310、310A、310B），以实现具有第一降低采样频率（fSR1）的第一数字信号（SRED1），所述第一降低采样频率（fSR1）与所述第一采样频率（fS）相比降低了整数因子（M）；执行第二降采样（470、470A、470B），以根据所述第一数字信号（SRED1）产生具有第二降低采样频率（fSR2）的第二数字信号（SRED2），以及控制所述第二降低采样频率（fSR2），使得所述旋转部件（8、7、801、701、702、703、704）每转的样点值数目保持为基本上不变的值；以及 在增强器输入（315、320）接收所述第二数字信号（SRED2、SRED）；在所述增强器（320、94）中执行相关，以便产生输出信号序列（O、SMDP），其中重复频率（fD）与所述转速（fROT）成正比的重复信号振幅分量（SD、SD1、SD2）关于随机信号分量被放大；执行状态监视功能（F1、F2、Fn）以分析取决于具有降低采样频率（fSR1、fSR2）的所述输出信号序列（O、SMDP）的机器的状态。...
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：LO·E·海丁，
申请(专利权)人：SPM仪器公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。