溅射靶及氧化物半导体膜制造技术

技术编号:9194329 阅读:168 留言:0更新日期:2013-09-25 23:22
本发明专利技术提供一种溅射靶,其是含有铟(In)、镓(Ga)及锌(Zn)的氧化物的溅射靶,其中,含有ZnGa2O4所示的化合物及InGaZnO4所示的化合物。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种溅射靶,其中,含有InGaO3(ZnO)m所示的同系结构化合物及ZnGa2O4所示的尖晶石结构化合物,InGaO3(ZnO)m中,m为1~20的整数。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:井上一吉矢野公规宇都野太
申请(专利权)人:出光兴产株式会社
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1